图像处理方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116468615A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202210029794.9

    申请日:2022-01-12

    Inventor: 刘白皓

    Abstract: 本申请提供的一种图像处理方法、装置、电子设备及存储介质,通过对对待去雾的原始图像进行下采样,得到第一图像;基于第一图像中各个颜色通道的像素值确定目标通道的像素值;对所述目标通道的像素值进行膨胀处理,得到目标通道的膨胀像素值;基于所述目标通道的膨胀像素值和所述目标通道的像素值进行方框滤波优化得到第二图像;至少基于所述第二图像确定大气光照强度,并基于所述大气光照强度和所述第二图像确定去雾图像;对所述去雾图像进行伽玛校正得到校正图像,并对所述校正图像进行双线性插值处理,得到去雾增强图像,对边缘端MCU的内存存储和CPU运行频率要求低,运行功耗低,从而有利于在边缘端MCU上部署。

    一种芯片调试系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119739614A

    公开(公告)日:2025-04-01

    申请号:CN202411628876.0

    申请日:2024-11-14

    Abstract: 本发明实施例提供了一种芯片调试系统,包括调试仿真器、与之相连接主机和目标芯片;主机检测用户的调试操作生成调试数据,将其封装为预设协议格式的第一数据包;接收调试仿真器发送的预设协议格式的第二数据包;调试仿真器接收主机发送的第一数据包并解析成调试数据,根据它通过信号线给目标芯片发送调试信号,再接收目标芯片反馈的调试信号获得调试结果,将其封装为预设协议格式的第二数据包发送给主机;目标芯片通过信号线接收调试仿真器发送的调试信号,根据它获得调试数据进行调试处理得到调试结果,根据结果通过信号线给调试仿真器发送结果信号。本发明的预设协议设计双线调试协议和数据帧结构,用一根信号线即可进行仿真、调试和固件升级。

    一种图像色偏检测方法、系统、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN114283210A

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202111544489.5

    申请日:2021-12-16

    Inventor: 刘白皓

    Abstract: 一种图像色偏检测方法,包括以下步骤:获取图像数据并将图像转换到Lab空间;将Lab空间的L、a、b三个通道数据分离以获得a、b通道的色度分量数组;根据色度分量数组通过均值模型计算得到a色度分量均值Sa和b色度分量均值Sb,通过图像方差模型分别计算a通道和b通道的图像方差坐标(Ra,Rb);根据坐标(Sa,Sb)到ab色彩中心轴原点的距离Sd和坐标(Ra,Rb)的半径R的比值获得偏色因子η;判断所述偏色因子η与预设阈值的大小以获得色偏程度。本发明通过将图像转换为Lab空间,然后进行色彩统计特性分析,计算图像均值、直方图、方差、偏色因子,降低了算法的计算复杂性,有效消除图像中主色调对色偏检测的影响,提高色偏检测准确率。

    热成像图像处理方法、装置、电子设备和计算机存储介质

    公开(公告)号:CN118628352A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410755864.8

    申请日:2024-06-12

    Inventor: 孟娟 吕朦 刘白皓

    Abstract: 本发明实施例提供了一种热成像图像处理方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质,涉及图像处理技术领域,包括:获取原始的热成像图像;将热成像图像转换为色彩模式的RGB图像;在预设的超分辨率模型中加入RGB图像的边缘信息,得到目标超分辨率模型;采用目标超分辨率模型对RGB图像进行重构,得到重构后的RGB图像。通过将热成像图像转换为RGB图像的方法,使得热成像图像可以达到较好的显示效果,便于计算,而且大大减小图像处理算法的复杂度;然后在超分辨率模型中引入边缘信息作为约束条件得到目标超分辨率模型,然后通过目标超分辨率模型对RGB图像进行反向迭代求解,从而实现低分辨率的图像到高分辨率图像的高精度估计。

    一种芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN119716472A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411827411.8

    申请日:2024-12-12

    Inventor: 彭东 刘白皓

    Abstract: 本发明实施例提供了一种芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质,该方法的信号编解码器通过第一引脚向芯片的解析器发送从测试终端接收到的第一电平数据流,以使解析器根据第一电平数据流向至少一个处理模块发送第一电平信号,然后接收解析器通过第一引脚发送的第二电平数据流,第二电平数据流为信号编解码器根据从至少一个处理模块接收的第二电平信号进行编码得到,并将第二电平数据流发送至测试终端,从而在芯片测试的过程中,通过第一引脚对芯片内部各种信号的电平进行写入和读取,从而减少了测试芯片内部模块时所需的引脚,在外部引脚较少的芯片上也能够进行芯片测试。

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