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公开(公告)号：CN112147484B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202010884262.4
申请日：2020-08-28
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
Inventor： 黄贤超
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开一种基于充电芯片的测试系统及充电测试系统，其中，一种基于充电芯片的测试系统至少包括模拟电池电路和电池充电电流测量电路，但不包括主控制器和充电管理芯片；另一种基于充电芯片的测试系统包括模拟电池电路、可调节电池电压电路、电池充电电流测量电路和主控制器，但不包括充电管理芯片；而一种基于充电芯片的充电测试系统包括模拟电池电路、可调节电池电压电路、电池充电电流测量电路和主控制器。本发明无需考虑实体电池的使用寿命的影响，保证测试系统接入的充电管理芯片的测试正确性和测试的可靠性，测试系统简单，测试配件成本低，适应范围广。
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