半导体异质结构的带隙测试方法、装置和计算机设备

    公开(公告)号:CN119555642A

    公开(公告)日:2025-03-04

    申请号:CN202411781308.4

    申请日:2024-12-05

    Abstract: 本申请涉及一种半导体异质结构的带隙测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:采用预设波长范围的可见光分光光度计对第一半导体材料样品进行扫描,获取第一半导体材料样品对应的漫反射光谱;采用预设波长范围的可见光分光光度计对半导体异质结构进行扫描,获取半导体异质结构对应的漫反射光谱;根据第一半导体材料样品对应的漫反射光谱,确定第一半导体材料样品的带隙信息,以及,根据半导体异质结构对应的漫反射光谱,确定半导体异质结构的带隙信息;根据第一半导体材料样品的带隙信息和半导体异质结构的带隙信息,获得针对半导体异质结构的带隙测试结果。采用本方法能够提高对二维材料异质结的带隙测试准确性。

    无人机的路径规划方法及装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119165872A

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN202411249336.1

    申请日:2024-09-06

    Abstract: 本发明公开了一种无人机的路径规划方法及装置,包括:获取无人机的喷洒区域的坐标信息;根据坐标信息生成对应于坐标信息的第一多边形;将第一多边形进行腐蚀,得到第二多边形;分别计算第二多边形的顶点与该顶点对应的边的距离L;根据距离L确定无人机的喷洒的扫描方向;根据扫描方向和所述无人机的覆盖范围的宽度,对第二多边形进行扫描线填充,得到无向图;使用预设算法确定无向图的遍历路径为所述无人机的喷洒路径,提高了路径规划的智能化程度,并确保作业的精确性和高效性。

    电梯系统故障诊断方法及装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119038346A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411449244.8

    申请日:2024-10-17

    Abstract: 本发明公开了一种电梯系统故障诊断方法及装置,包括在电梯启动、加速、匀速、减速和停止状态,通过该电梯中固定的移动终端,分别监测x轴、y轴和z轴振动信号;提取该振动信号中的时域特征和频域特征,其中该时域特征包括该振动信号的方差、均方根、峰度因子,该频域特征包括通过小波包分解得到的频谱能量特征以及电梯频率特征;采用支持向量机对该时域特征和频域特征进行故障分类;采用夏普利值量化该时域特征和该频域特征中每个特征的贡献度;根据该贡献度从大到小的顺序,筛选得到用于故障诊断的关键特征;以及根据该关键特征,采用该支持向量机对该电梯进行故障诊断。

    一种带优先级约束的最短回路的确定方法

    公开(公告)号:CN118036844A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410143903.9

    申请日:2024-02-01

    Abstract: 本发明通过提供一种带优先级约束的最短回路的确定方法,包括:S1.获取预先设定的多个目的地及其优先级约束;S2.确定以该优先级约束而途经该多个目的地的初始回路;S3.基于该初始回路,利用变邻域搜索算法进行迭代,直至得到以该优先级约束而途经所述多个目的地的最短回路。从而能够在有效的时间内确定一条满足优先级约束的最短回路,该方法能够应用于部分国际经典PCGTSP案例,同时也能得到大型实例的较优解。

    一种带孔洞零件的切割回路的确定方法及装置

    公开(公告)号:CN118036843A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410137612.9

    申请日:2024-02-01

    Abstract: 本发明通过提供一种带孔洞零件的切割回路的确定方法及装置,包括:确定带孔洞零件的外轮廓、该孔洞的内轮廓以及该外轮廓和该内轮廓之间的对应关系;根据该外轮廓、该内轮廓和该对应关系,按照模拟退火算法,确定多个备选回路;以带强优先约束的广义旅行商问题作为模型,以该带孔洞零件的内轮廓先于其外轮廓进行切割作为优先级约束,确定非法下界值;根据该非法下界值,确定该多个备选回路分别对应的GAP值;以及将最小GAP值对应的备选回路确定为该带孔洞零件的切割回路。从而能够在较短的时间内得到一条更短的路径来解决大规模带孔洞零件排样案例的路径规划问题。

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