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公开(公告)号:CN102156850B
公开(公告)日:2013-11-06
申请号:CN201110101598.X
申请日:2011-04-22
Applicant: 湖南大学
IPC: G06K7/10
Abstract: 一种超高频射频识别入口盲点测试系统的概率预测方法,所述超高频射频识别入口盲点测试系统,包括上变频板卡、下变频板卡、可重配置输入输出端口的中频现场可编程门阵列(FPGARIO)板卡、可编程逻辑控制器(PLC)、电机、微机、传输带、测试天线、发送天线以及射频电缆;本发明还包括基于超高频射频识别入口盲点测试系统的概率预测方法。本发明动化程度高、低复杂度、精度高且接近真实入口应用场景,在场强分布缓慢变化和快速变化时,均有较好的测量精度,并且可根据各类典型环境时得到的对数正态模型参数表,估算实际入口应用时的盲点概率和覆盖率。
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公开(公告)号:CN102156850A
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:CN201110101598.X
申请日:2011-04-22
Applicant: 湖南大学
IPC: G06K7/10
Abstract: 一种超高频射频识别入口盲点测试系统与概率预测方法,其超高频射频识别入口盲点测试系统,包括上变频板卡、下变频板卡、可重配置输入输出端口的中频现场可编程门阵列(FPGARIO)板卡、可编程逻辑控制器(PLC)、电机、微机、传输带、测试天线、发送天线以及射频电缆;本发明还包括基于超高频射频识别入口盲点测试系统的概率预测方法。本发明动化程度高、低复杂度、精度高且接近真实入口应用场景,在场强分布缓慢变化和快速变化时,均有较好的测量精度,并且可根据各类典型环境时得到的对数正态模型参数表,估算实际入口应用时的盲点概率和覆盖率。
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