公开(公告)号：CN107093174B

公开(公告)日：2018-03-27

申请号：CN201710218422.X

申请日：2017-04-05

Applicant: 湖北工业大学

Inventor： 舒军 ,  刘伟 ,  徐成鸿 ,  陈张言 ,  李志魁 ,  涂杏 ,  李鑫武 ,  沈开斌 ,  舒心怡 ,  熊壮壮 ,  程启

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/11 ,  G06T7/136 ,  G06T7/44

Abstract: 本发明涉及一种PCB设计缺陷检测方法，首先进行图像预处理，将采集到的模板标准图像以及待测图像分别进行阈值分割预处理，得到处理后的灰度图像Image2和Image4，将两个处理后的灰度图像进行逐像素点灰度的相减运算后得到检测断路、破损缺陷的区域G1以及检测短路、铜渣缺陷的区域G2，根据G1和Image4可判定破损缺陷；根据G2和Image2可判定短路缺陷和铜渣缺陷。本发明根据采集的PCB图像，在考虑机械误差，光线误差等基础上，自动对待测PCB版与标准模板进行相减运算得到短路、断路、破损、铜渣等缺陷，自动阈值分割，自动逐区域标号，自动计算缺陷区域灰度值特征。

公开(公告)号：CN107093174A

公开(公告)日：2017-08-25

申请号：CN201710218422.X

申请日：2017-04-05

Applicant: 湖北工业大学

Inventor： 舒军 ,  徐成鸿 ,  陈张言 ,  李志魁 ,  涂杏 ,  李鑫武 ,  沈开斌 ,  舒心怡 ,  熊壮壮 ,  程启 ,  刘伟

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/11 ,  G06T7/136 ,  G06T7/44

CPC classification number: G06T7/0008 ,  G06T7/11 ,  G06T7/136 ,  G06T7/44 ,  G06T2207/30141

Abstract: 本发明涉及一种PCB设计缺陷检测方法，首先进行图像预处理，将采集到的模板标准图像以及待测图像分别进行阈值分割预处理，得到处理后的灰度图像Image2和Image4，将两个处理后的灰度图像进行逐像素点灰度的相减运算后得到检测断路、破损缺陷的区域G1以及检测短路、铜渣缺陷的区域G2，根据G1和Image4可判定破损缺陷；根据G2和Image2可判定短路缺陷和铜渣缺陷。本发明根据采集的PCB图像，在考虑机械误差，光线误差等基础上，自动对待测PCB版与标准模板进行相减运算得到短路、断路、破损、铜渣等缺陷，自动阈值分割，自动逐区域标号，自动计算缺陷区域灰度值特征。