无种子区域地址探测方法和装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118250258A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410259423.9

    申请日:2024-03-07

    Abstract: 本申请提出了一种无种子区域地址探测方法,涉及计算机应用技术领域,其中,上述探测方法通过无种子地址探测模型实现,上述方法具体包括:通过特征提取模块从BGP前缀的Whois信息中提取BGP前缀特征;通过相似度学习模块挖掘有种子地址的BGP前缀特征和种子地址配置模式之间的关系,并确定无种子地址的BGP前缀与有种子地址的BGP前缀的相似度,并基于相似度筛选出候选有种子地址的BGP前缀;通过目标地址生成模块基于候选有种子地址的BGP前缀进行种子地址迁移,生成候选地址作为目标地址;通过预探测机制模块对生成的目标地址分配资源进行预探测,并确定预探测结果。采用上述方案的本申请能够实现无种子区域IPV6活跃地址的快速探测,命中概率高,且覆盖范围广。

    公头型D-SUB连接器多针脚误差测量方法、装置和存储介质

    公开(公告)号:CN119273667A

    公开(公告)日:2025-01-07

    申请号:CN202411420343.3

    申请日:2024-10-12

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本公开提供的公头型D‑SUB连接器多针脚误差测量方法,建立用于识别目标公头型D‑SUB连接器形状的D型特征库;对获取的初始点云聚类得到若干不纯净的D‑SUB点云簇;利用图像特征不变性方法依次计算各不纯净的D‑SUB点云簇在二维剪影下的形状特征,与D型特征库对比得到最接近目标的纯净D‑SUB点云簇;对该点云簇中的D型端面和多针脚顶端分别进行平面拟合;对D型端面拟合平面中的各点,提取圆孔边缘点并进行聚类,分割出各针脚对应的圆孔点云,针对各圆孔点云,对其进行3D空间圆拟合,得到圆孔的圆心;对多针脚顶端拟合平面中的各点进行聚类,分割出各圆孔对应的针脚点云;计算圆孔的圆心与对应针脚点云的质心的空间偏移量,即为针脚偏斜误差。本公开具有较高的测量精度和效率。

    基于神经网络的图像评估方法和装置

    公开(公告)号:CN114742753B

    公开(公告)日:2024-12-13

    申请号:CN202210200289.6

    申请日:2022-03-02

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本申请提出了一种基于神经网络的图像评估方法,涉及图像处理技术领域,其中,该方法包括:获取目标对象的预曝光图像;对预曝光图像进行预处理,将预处理后的预曝光图像输入至预先训练的第一神经网络,得到预曝光图像中的第一目标参数;根据第一目标参数对初始曝光参数进行更新以得到目标曝光参数,根据目标曝光参数获取目标对象的正式曝光图像;对正式曝光图像进行预处理,将预处理后的正式曝光图像输入至预先训练的第二神经网络,得到正式曝光图像中的第二目标参数。采用上述方案的本发明提高图片曝光效率,在保证图像质量的同时提高图像评估准确率。

    IP定位地标挖掘系统、方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118656445A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410878905.2

    申请日:2024-07-02

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种IP定位地标挖掘系统、方法、电子设备及存储介质,涉及IP定位技术领域,该系统包括:不可控地标挖掘器,用于利用搜索引擎从全网范围内检索第一候选网站集,并采用多分类器投票法从第一候选网站集中筛选出第二候选网站集;每个候选网站集中的候选网站包括疑似不可控地标;可控地标挖掘器,用于利用半监督分类法对公开探针网站集进行分类,并基于分类结果确定候选公开探针网站集;候选公开探针网站集中的候选公开探针网站包括疑似可控地标;地标生成器,用于按照预设检索条件从第二候选网站集和候选公开探针网站集中进行检索,并基于检索结果生成IP定位地标集。本发明可以大幅提高IP定位地标的数量、挖掘效率和功能丰富度。

    街道级IP定位方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118646789A

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202410880627.4

    申请日:2024-07-02

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种街道级IP定位方法、装置、电子设备及存储介质,涉及IP定位技术领域,该方法包括:基于地理空间图和网络空间图构建全局异构图;地理空间图包括多个地标和地标之间的地理距离,网络空间图包括多个地标和地标之间的网络距离;基于全局异构图构建全局语料库,并基于全局语料库对初始预训练模型进行训练,得到预训练模型;基于预训练模型确定目标IP地址的多个相关地标各自对应的定位表征向量,并基于多个相关地标和多个相关地标各自对应的定位表征向量构建局部图模型;基于局部图模型预测目标IP地址的街道级地理位置。本发明可以提升街道级IP定位的定位覆盖度、定位精确度和定位效率。

    物联网设备的异常检测方法、装置、设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117955754B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410358309.1

    申请日:2024-03-27

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种物联网设备的异常检测方法、装置、设备和存储介质,涉及设备异常检测技术领域,所述方法包括:获取至少两个智能家居平台对应的行为图,所述行为图是基于所述至少两个智能家居平台各自对应的自动化规则构建的,所述自动化规则为事件、命令与所述至少两个智能家居平台对应的物联网设备之间的对应关系;基于所述行为图进行目标异常检测,确定异常检测结果,所述目标异常检测包括目标自动化规则执行的异常检测、跨自动化规则间的交互异常检测和至少两条自动化规则间的干涉异常检测中的至少两种。本发明可实现跨平台的异常检测,且提高异常检测的全面性。

    一种质子放射治疗下物理反应过程的模拟方法及装置

    公开(公告)号:CN118197637A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410340978.6

    申请日:2024-03-25

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本申请提出了一种质子放射治疗下物理反应过程的模拟方法及装置,该方法包括:对获取的DICOM影像进行勾画与标记处理,根据处理后的DICOM影像转换治疗计划的坐标信息;构建人体元素与质子的核反应截面库,根据勾画和标记的组织器官材料,计算各个材料的总截面列表、弹性核反应截面列表以及非弹性核反应截面列表;将在中央处理器端串行处理成功的数据异构到图形处理器,启动图形处理器内核函数对粒子进行批量处理,并执行质子的输运算法;调用CUDA内核函数生成随机数,比较电离和总核反应的大小确定抽样结果,根据抽样结果执行电离反应或核相互作用,生成最终模拟结果。本申请大幅度提高了模拟的速度,能够在秒级实现质子放疗中能量沉积分布的模拟和计算。

    主机端口活跃性预测方法、装置、设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117972568A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410385477.X

    申请日:2024-04-01

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种主机端口活跃性预测方法、装置、设备和存储介质,涉及网络空间测绘技术领域,所述方法包括:遍历待测主机,获取目标主机对应的至少两个主机特征;基于各主机特征的目标类型,将各主机特征输入决策模型中与目标类型相同类型的分类器,输出目标主机中所有端口各自对应的第一预测回报值;决策模型中的所有分类器均是基于朴素贝叶斯算法构建的;针对各端口,基于端口相同的第一预测回报值,确定端口对应的目标预测回报值;目标预测回报值用于表征存在至少两个主机特征的情况下端口对应的开放概率;基于所有端口各自对应的目标预测回报值,确定目标主机的活跃端口。本发明可提升全网端口活跃性的预测覆盖率、普适性和预测效率。

    一种电连接器壳体表面缺陷的检测方法、装置和存储介质

    公开(公告)号:CN117853416A

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202311682448.1

    申请日:2023-12-08

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本公开提出的一种电连接器壳体表面缺陷的检测方法,包括:获取含有背景和电连接器的原始图像;提取该图像中电连接器的ROI区域,由原始图像中被该ROI区域覆盖的区域生成RoiImage;提取RoiImage中的总干扰区域,由电连接器壳体表面的字母和数字型干扰区域、符号型干扰区域、以及盖帽状干扰区域和条纹状干扰区域构成;利用阈值分割和线段检测提取RoiImage中电连接器壳体表面的划痕和块状缺陷对应的区域Error1;将Error1与总干扰区域做差分,得到去除干扰区域后的缺陷区域Error2,从Error2中删除小于检测精度的区域,得到缺陷区域Error3,删除Error3中机械划痕对应的区域,得到电连接器壳体表面缺陷的检测结果。本公开能有效去除电连接器表面缺陷的干扰,提高检测效率和准确度。

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