薄膜单轴双向微拉伸装置及薄膜变形的测量方法

    公开(公告)号:CN100570324C

    公开(公告)日:2009-12-16

    申请号:CN200710120711.2

    申请日:2007-08-24

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 一种薄膜单轴双向微拉伸装置及薄膜变形的测量方法,属于精密机械领域。该装置利用两个压电陶瓷8分别从两个方向推动可沿滑轨2移动的滑块4与可调滑块3,滑块4及可调滑块3与支架1之间通过限位弹簧9进行限位,滑块4及可调滑块3上固接有的力传感臂6,力传感臂6顶端接载物台,在测量时,首先将待测的薄膜试件夹在载物台上,然后对压电陶瓷8连续施加电压,使两个力传感臂6向相反方向发生微位移,同时通过图像实时采集系统和附在力传感臂6上的应变片5记录薄膜变形图像和力学参数。使用该装置和测量方法能够在测量过程中连续观察测量区,并可通过不同量程的力传感臂进行较宽范围的测量。

    薄膜单轴双向微拉伸装置及薄膜变形的测量方法

    公开(公告)号:CN101109680A

    公开(公告)日:2008-01-23

    申请号:CN200710120711.2

    申请日:2007-08-24

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 一种薄膜单轴双向微拉伸装置及薄膜变形的测量方法,属于精密机械领域。该装置利用两个压电陶瓷8分别从两个方向推动可沿滑轨2移动的滑块4与可调滑块3,滑块4及可调滑块3与支架1之间通过限位弹簧9进行限位,滑块4及可调滑块3上固接有的力传感臂6,力传感臂6顶端接载物台,在测量时,首先将待测的薄膜试件夹在载物台上,然后对压电陶瓷8连续施加电压,使两个力传感臂6向相反方向发生微位移,同时通过图像实时采集系统和附在力传感臂6上的应变片5记录薄膜变形图像和力学参数。使用该装置和测量方法能够在测量过程中连续观察测量区,并可通过不同量程的力传感臂进行较宽范围的测量。

    构件刚度的测试平台
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN201666845U

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN200920217839.5

    申请日:2009-09-30

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 徐曼琼 蔺书田

    Abstract: 本实用新型公开了一种构件刚度测试平台,其特征在于:构件的两个端点分别安装全反射镜M0、全反射镜M1,激光器发出的激光光束分别通过全反射镜M4、半反射镜M3后分别将光束反射到全反射镜M0、全反射镜M1上,光束经过全反射镜M0、全反射镜M1反射后投射到屏幕上形成光斑A0′、A1′,由屏幕读取光斑A0′、A1′的坐标值。在构件的自由端施加载荷P以后,光束经过全反射镜M0、全反射镜M1反射后投射到屏幕上形成光斑A0″、A1″,由屏幕读取光斑A0″、A1″的坐标值,光斑A0″、A1″的坐标值分别减去光斑A0′、A1′坐标值,得到位移差值Δ0、Δ,位移差值Δ减去Δ0可求出全反射镜M1安装位置相对全反射镜M0安装位置的相对刚度,根据测得的位移差值可计算构件的弯曲或扭转刚度,该实用新型公开的测试平台测试精度高,可以测试微纳米量级的变形。

Patent Agency Ranking