成像方法及装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110672549A

    公开(公告)日:2020-01-10

    申请号:CN201910954538.9

    申请日:2019-10-09

    Inventor: 邓仕发 潘奕

    Abstract: 本申请适用于太赫兹波成像技术领域,提供了一种成像方法及装置,包括:在第一成像位置获取被测物体的位置信息,并根据所述位置信息获取被测物体的三维位置模型;根据被测物体的三维位置模型调整所述第一成像位置,得到第二成像位置;在第二成像位置获取被测物体反射的太赫兹波信号,并基于所述太赫兹波信号进行三维图像重建,得到被测物体的三维图像,通过先获取被测物体的位置信息后调整成像装置的位置,再获取对应的太赫兹波信号来生成该被测物体的三维图像,且第一成像位置和第二成像位置是根据成像装置的预设运动轨迹来设置的,因此能够全方位地获取到被测物体的位置信息和太赫兹波信号,进而实现对被测物体进行全方位的三维成像。

    一种成像装置
    2.
    实用新型

    公开(公告)号:CN211292584U

    公开(公告)日:2020-08-18

    申请号:CN201921469672.1

    申请日:2019-09-05

    Inventor: 邓仕发 潘奕

    Abstract: 本实用新型属于太赫兹波成像技术领域,尤其涉及一种成像装置。成像装置,用于对被测物体进行成像,其包括:成像探头,用于向被测物体发射太赫兹波并接收从被测物体反射回的太赫兹波且对被测物体进行摄像;水平转台,平铺设置且沿第一扫描轨迹绕被测物体圆周转动,第一扫描轨迹上间隔设置有多个第一成像工位;以及机械臂,机械臂的一端连接水平转台,机械臂的另一端连接成像探头,机械臂用于驱动成像探头于各第一成像工位分别沿一第二扫描轨迹绕被测物体圆周转动;其中,各第二扫描轨迹所确定的平面均垂直第一扫描轨迹所确定的平面。本实用新型的机械臂驱动成像探头沿对应的第二扫描轨迹移动,从而对被测物体进行全方位的三维成像。

    半导体激光器的驱动装置

    公开(公告)号:CN108390253A

    公开(公告)日:2018-08-10

    申请号:CN201810162542.7

    申请日:2018-02-26

    Inventor: 邓仕发 潘奕 丁庆

    Abstract: 本发明涉及一种半导体激光器的驱动装置。该驱动装置包括:驱动模块,与半导体激光器连接,驱动模块为半导体激光器提供驱动电流;电流监测模块,用于实时监测驱动电流并输出驱动电流的值;控制器,与电流监测模块连接,控制器根据驱动电流的值判断驱动电流是否符合要求,并依据判断结果控制半导体激光器的工作状态。上述驱动装置,可以避免驱动驱动电流在不符合要求时,半导体激光器依然工作的情况,确保半导体激光器始终是在驱动电流符合要求时工作。即半导体激光器始终工作在稳定的驱动电流下,避免半导体激光器在不稳定的驱动电流下受到损坏,从而有效保护半导体激光器。

    成像方法及装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110672549B

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN201910954538.9

    申请日:2019-10-09

    Inventor: 邓仕发 潘奕

    Abstract: 本申请适用于太赫兹波成像技术领域,提供了一种成像方法及装置,包括:在第一成像位置获取被测物体的位置信息,并根据所述位置信息获取被测物体的三维位置模型;根据被测物体的三维位置模型调整所述第一成像位置,得到第二成像位置;在第二成像位置获取被测物体反射的太赫兹波信号,并基于所述太赫兹波信号进行三维图像重建,得到被测物体的三维图像,通过先获取被测物体的位置信息后调整成像装置的位置,再获取对应的太赫兹波信号来生成该被测物体的三维图像,且第一成像位置和第二成像位置是根据成像装置的预设运动轨迹来设置的,因此能够全方位地获取到被测物体的位置信息和太赫兹波信号,进而实现对被测物体进行全方位的三维成像。

    一种光谱仪及其控制器

    公开(公告)号:CN109724959A

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201910044012.7

    申请日:2019-01-17

    Inventor: 邓仕发 潘奕

    Abstract: 本发明适用于光谱仪技术领域,提供了一种光谱仪及其控制器,本发明实施例通过提供一种应用于光谱仪的包括集成设置的处理器、光源驱动电路、数据处理电路和显示屏驱动电路的控制器,结构紧凑,可通过触控显示屏输入触摸控制指令,由控制器根据触摸控制指令对光源、光谱检测器和触控显示屏进行控制,从而实现对样品的光谱数据检测,智能化程度高。

    锁相放大器测试结构和方法

    公开(公告)号:CN106483402A

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201610860005.0

    申请日:2016-09-28

    CPC classification number: G01R31/00

    Abstract: 本发明涉及一种锁相放大器测试结构,其测试信号发生装置包括:信号源模块,用于产生纯信号;噪声模块,用于产生噪声;加法电路,两个输入端分别连接所述信号源模块和噪声模块,用于将纯信号和噪声叠加获得测试信号以输入所述锁相放大器;其中,信号源模块与加法电路连接的支路上设有第一开关,噪声模块与加法电路连接的支路上设有第二开关。上述测试结构通过控制开关,能使得测试信号为纯噪声或者混叠信号,这样在不同的噪声频带范围及幅值范围内对锁相放大器的抗噪声能力进行测试,得到频率很接近的参考信号的噪声分布情况,同时对锁相放大器其他参数的测量。

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