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公开(公告)号：CN106404189B
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201610857188.0
申请日：2016-09-27
Applicant: 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 深圳市太赫兹系统设备有限公司
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及一种测量太赫兹光束参数的方法。测量太赫兹光束参数的方法包括：获得待测太赫兹光束；控制掩膜片在太赫兹光束的焦平面内移动，并测得太赫兹光束在焦平面内的腰斑半径；控制掩膜片从太赫兹光束的焦平面沿太赫兹光束传播的方向移动，掩膜片每移动一次记录对应的光轴移动量，在光轴移动量的位置处测量掩膜片所在平面内的太赫兹光束的半径；当在光轴移动量的位置处测量的太赫兹光束的半径等于腰斑半径的倍时，计算聚焦深度。通过上述简单的测量太赫兹光束参数的方法，可以快捷方便的测量出影响太赫兹光谱成像空间分辨率的焦点腰斑半径以及聚焦深度，其测得腰斑半径及聚焦深度的精度高、误差小。
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公开(公告)号：CN105870582B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201610349988.1
申请日：2016-05-24
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
IPC: H01Q1/22 , H01Q1/38 , G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹近场探测器和光电导天线，以及该光电导天线的制作方法。所述光电导天线包括衬底，粘合在衬底上的低温砷化镓波片层，粘合在低温砷化镓波片层上的偶极天线，偶极天线为低温砷化镓薄片，设置在偶极天线上的绝缘层，以及设置在绝缘层上的带孔金属板。带孔金属板能使背景噪声信号大幅衰减，提高近场探测的空间分辨率。
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公开(公告)号：CN105938012A
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201610495284.5
申请日：2016-06-28
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/42 , H01L31/08 , H01Q1/22 , H01Q1/50 , G01J1/0209 , H01Q1/225
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹探测装置，用于探测飞秒激光辐射产生的太赫兹波信号，包括PCB板以及设置在所述PCB板上的光电导模块、响应调节模块和放大模块。上述太赫兹探测装置，将光电导模块、响应调节模块和放大模块容置于同一个装置中，使得光电导模块与放大模块相互靠近，增加了匹配电阻、电容及电荷释放电阻；同时通过调节响应模块使得太赫兹探测装置的响应时间达到最小，消除和抑制了噪声的传输和耦合，实现了信噪比及采样率的最大化。同时缩小了该太赫兹探测装置的体积，节约了成本。
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公开(公告)号：CN111122494A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911383354.8
申请日：2019-12-28
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
IPC: G01N21/3586 , G01N27/00 , G01R27/26
Abstract: 本申请适用于皮革鉴别技术领域，提供了一种皮革品种的鉴别方法和鉴别系统，其中，鉴别方法包括：获取待鉴别皮革样品；利用太赫兹时域光谱仪获取样品仓中放置有所述待鉴别皮革样品时得到的样品太赫兹时域光谱，以及获取样品仓中未放置所述待鉴别皮革样品时得到的参考太赫兹时域光谱；根据所述样品太赫兹时域光谱和所述参考太赫兹时域光谱计算所述待鉴别皮革样品的介电常数，并将所述待鉴别皮革样品的介电常数与预先获取的不同品种皮革的介电常数进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种；实现了便捷且准确地对皮革品种进行鉴别。
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公开(公告)号：CN106556342B
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201610998256.5
申请日：2016-11-11
Applicant: 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 深圳市太赫兹系统设备有限公司
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/00
Abstract: 本发明涉及一种基于FPGA的光栅细分装置及方法。该装置包括：差分放大模块、比较模块、逻辑门模块以及处理模块，其中处理模块为FPGA运算模块。仅仅通过差分放大模块、比较模块、逻辑门模块简单的外围电路可以将莫尔条纹的四路正弦信号转换为FPGA运算模块可识别的第一数字脉冲信号、第二数字脉冲信号或第三数字脉冲信号，减少了额外硬件的需求，节约了成本。同时，通过FPGA运算模块可以实现第一数字脉冲信号、第二数字脉冲信号或第三数字脉冲信号进行目标倍数(高倍数)的细分，同时，其FPGA运算模块主频高、抗干扰性能强，处理的实时性和准确性高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106289528B
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201610814526.2
申请日：2016-09-09
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司 , 华讯方舟科技有限公司
Abstract: 本发明适用于太赫兹技术领域，提供一种电控光取样系统及太赫兹时域光谱仪，其中，电控光取样系统包括第一激光模块、第二激光模块、第一分束器、第二分束器、第一光电传感器、第二光电传感器、相位探测器、加法器和函数发生器，其中，第一激光模块包括压电传感器；第一分束器通过光纤与第一激光模块连接，第二分束器通过光纤与第二激光模块连接，第一光电传感器和第二光电传感器均与相位探测器连接，相位探测器和函数发生器均与加法器连接，加法器与压电传感器连接。本发明通过采用电控光取样系统来实现时域扫描，并采用光纤取代传统的自由空间来传输光信号，提高了扫描速度、保证了光束传播的稳定性。
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公开(公告)号：CN105938012B
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201610495284.5
申请日：2016-06-28
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹探测装置，用于探测飞秒激光辐射产生的太赫兹波信号，包括PCB板以及设置在所述PCB板上的光电导模块、响应调节模块和放大模块。上述太赫兹探测装置，将光电导模块、响应调节模块和放大模块容置于同一个装置中，使得光电导模块与放大模块相互靠近，增加了匹配电阻、电容及电荷释放电阻；同时通过调节响应模块使得太赫兹探测装置的响应时间达到最小，消除和抑制了噪声的传输和耦合，实现了信噪比及采样率的最大化。同时缩小了该太赫兹探测装置的体积，节约了成本。
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公开(公告)号：CN106353279A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610851926.0
申请日：2016-09-26
Applicant: 华讯方舟科技有限公司 , 深圳市太赫兹系统设备有限公司
IPC: G01N21/3586
CPC classification number: G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及一种水分含量检测、控制和监控系统，其水分含量检测系统包括水分仪系统组件、透镜组件和信号分析组件；水分仪系统组件包括该光源组件、太赫兹辐射器、第一和第二太赫兹探测器，信号分析组件包括偏压信号发生器和信号处理装置，光源组件产生激光拍频光束并分束至太赫兹辐射器、第一和第二太赫兹探测器，赫兹辐射器辐射的太赫兹信号的一部分经透镜组件返回至第一太赫兹探测器，另一部分经透镜组件以及待测样品返回至第二太赫兹探测器，第一太赫兹探测器获得的参考电信号和第二太赫兹探测器获得的样品电信号输入信号处理装置进行待测样品的含水量检测。采用本发明方案，能够实时、准确的进行水分含量检测，且信噪比和稳定性较高。
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公开(公告)号：CN105870582A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610349988.1
申请日：2016-05-24
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司
IPC: H01Q1/22 , H01Q1/38 , G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹近场探测器和光电导天线，以及该光电导天线的制作方法。所述光电导天线包括衬底，粘合在衬底上的低温砷化镓波片层，粘合在低温砷化镓波片层上的偶极天线，偶极天线为低温砷化镓薄片，设置在偶极天线上的绝缘层，以及设置在绝缘层上的带孔金属板。带孔金属板能使背景噪声信号大幅衰减，提高近场探测的空间分辨率。
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公开(公告)号：CN106483402A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610860005.0
申请日：2016-09-28
Applicant: 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 深圳市太赫兹系统设备有限公司
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种锁相放大器测试结构，其测试信号发生装置包括：信号源模块，用于产生纯信号；噪声模块，用于产生噪声；加法电路，两个输入端分别连接所述信号源模块和噪声模块，用于将纯信号和噪声叠加获得测试信号以输入所述锁相放大器；其中，信号源模块与加法电路连接的支路上设有第一开关，噪声模块与加法电路连接的支路上设有第二开关。上述测试结构通过控制开关，能使得测试信号为纯噪声或者混叠信号，这样在不同的噪声频带范围及幅值范围内对锁相放大器的抗噪声能力进行测试，得到频率很接近的参考信号的噪声分布情况，同时对锁相放大器其他参数的测量。
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