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公开(公告)号：CN106404189B
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201610857188.0
申请日：2016-09-27
Applicant: 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 深圳市太赫兹系统设备有限公司
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及一种测量太赫兹光束参数的方法。测量太赫兹光束参数的方法包括：获得待测太赫兹光束；控制掩膜片在太赫兹光束的焦平面内移动，并测得太赫兹光束在焦平面内的腰斑半径；控制掩膜片从太赫兹光束的焦平面沿太赫兹光束传播的方向移动，掩膜片每移动一次记录对应的光轴移动量，在光轴移动量的位置处测量掩膜片所在平面内的太赫兹光束的半径；当在光轴移动量的位置处测量的太赫兹光束的半径等于腰斑半径的倍时，计算聚焦深度。通过上述简单的测量太赫兹光束参数的方法，可以快捷方便的测量出影响太赫兹光谱成像空间分辨率的焦点腰斑半径以及聚焦深度，其测得腰斑半径及聚焦深度的精度高、误差小。
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公开(公告)号：CN106249321B
公开(公告)日：2017-11-10
申请号：CN201610871738.4
申请日：2016-09-30
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
IPC: G02B1/00
Abstract: 本发明涉及太赫兹波导技术领域，提供一种太赫兹超材料波导及器件，所述太赫兹超材料波导包括亚波长基底层和金属层，所述亚波长基底层的一个表面镀有所述金属层，所述金属层上开有呈周期性排列的多个微孔。本发明通过采用亚波长基底层，并在亚波长基底层的一个表面镀上开有呈周期性排列的多个微孔的金属层，能够大大降低太赫兹波导的厚度和在太赫兹波导中传输的太赫兹波的传输损耗，节约了制造成本。
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公开(公告)号：CN105870582B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201610349988.1
申请日：2016-05-24
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
IPC: H01Q1/22 , H01Q1/38 , G01N21/3586
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹近场探测器和光电导天线，以及该光电导天线的制作方法。所述光电导天线包括衬底，粘合在衬底上的低温砷化镓波片层，粘合在低温砷化镓波片层上的偶极天线，偶极天线为低温砷化镓薄片，设置在偶极天线上的绝缘层，以及设置在绝缘层上的带孔金属板。带孔金属板能使背景噪声信号大幅衰减，提高近场探测的空间分辨率。
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公开(公告)号：CN105938012A
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201610495284.5
申请日：2016-06-28
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/42 , H01L31/08 , H01Q1/22 , H01Q1/50 , G01J1/0209 , H01Q1/225
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹探测装置，用于探测飞秒激光辐射产生的太赫兹波信号，包括PCB板以及设置在所述PCB板上的光电导模块、响应调节模块和放大模块。上述太赫兹探测装置，将光电导模块、响应调节模块和放大模块容置于同一个装置中，使得光电导模块与放大模块相互靠近，增加了匹配电阻、电容及电荷释放电阻；同时通过调节响应模块使得太赫兹探测装置的响应时间达到最小，消除和抑制了噪声的传输和耦合，实现了信噪比及采样率的最大化。同时缩小了该太赫兹探测装置的体积，节约了成本。
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公开(公告)号：CN110672549A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201910954538.9
申请日：2019-10-09
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本申请适用于太赫兹波成像技术领域，提供了一种成像方法及装置，包括：在第一成像位置获取被测物体的位置信息，并根据所述位置信息获取被测物体的三维位置模型；根据被测物体的三维位置模型调整所述第一成像位置，得到第二成像位置；在第二成像位置获取被测物体反射的太赫兹波信号，并基于所述太赫兹波信号进行三维图像重建，得到被测物体的三维图像，通过先获取被测物体的位置信息后调整成像装置的位置，再获取对应的太赫兹波信号来生成该被测物体的三维图像，且第一成像位置和第二成像位置是根据成像装置的预设运动轨迹来设置的，因此能够全方位地获取到被测物体的位置信息和太赫兹波信号，进而实现对被测物体进行全方位的三维成像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106483402A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610860005.0
申请日：2016-09-28
Applicant: 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 深圳市太赫兹系统设备有限公司
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种锁相放大器测试结构，其测试信号发生装置包括：信号源模块，用于产生纯信号；噪声模块，用于产生噪声；加法电路，两个输入端分别连接所述信号源模块和噪声模块，用于将纯信号和噪声叠加获得测试信号以输入所述锁相放大器；其中，信号源模块与加法电路连接的支路上设有第一开关，噪声模块与加法电路连接的支路上设有第二开关。上述测试结构通过控制开关，能使得测试信号为纯噪声或者混叠信号，这样在不同的噪声频带范围及幅值范围内对锁相放大器的抗噪声能力进行测试，得到频率很接近的参考信号的噪声分布情况，同时对锁相放大器其他参数的测量。
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公开(公告)号：CN106323469A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610812095.6
申请日：2016-09-09
Applicant: 华讯方舟科技有限公司 , 深圳市太赫兹系统设备有限公司
CPC classification number: G01J3/06 , G01J3/42 , G01J3/433 , G01J2003/064 , G01J2003/423 , G01J2003/4334
Abstract: 本发明适用于太赫兹技术领域，提供一种电控光取样系统、方法及太赫兹时域光谱仪，其中，电控光取样系统包括第一飞秒脉冲激光器、第二飞秒脉冲激光器、第一分束器、第二分束器、第一光电传感器、第二光电传感器、相位探测器、函数发生器、加法器和PID调节器；第一分束器通过光纤与第一飞秒脉冲激光器连接，第二分束器通过光纤与第二飞秒脉冲激光器连接，第二飞秒脉冲激光器包括压电传感器，第一光电传感器和第二光电传感器均与相位探测器连接，相位探测器、函数发生器和PID调节器均与加法器连接，PID调节器还与压电传感器连接。本发明通过采用电控光取样系统来实现时域扫描，可有效保证光束传播方向的稳定、色散小、扫描速度快。
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公开(公告)号：CN106249321A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610871738.4
申请日：2016-09-30
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
IPC: G02B1/00
Abstract: 本发明涉及太赫兹波导技术领域，提供一种太赫兹超材料波导及器件，所述太赫兹超材料波导包括亚波长基底层和金属层，所述亚波长基底层的一个表面镀有所述金属层，所述金属层上开有呈周期性排列的多个微孔。本发明通过采用亚波长基底层，并在亚波长基底层的一个表面镀上开有呈周期性排列的多个微孔的金属层，能够大大降低太赫兹波导的厚度和在太赫兹波导中传输的太赫兹波的传输损耗，节约了制造成本。
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公开(公告)号：CN106248616A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610856759.9
申请日：2016-09-27
Applicant: 深圳市太赫兹科技创新研究院 , 深圳市太赫兹系统设备有限公司
IPC: G01N21/3581
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹全偏振态检测光谱仪，包括太赫兹波发生器、起偏器、偏振分光片、水平太赫兹探测器和垂直太赫兹探测器；太赫兹波发生器产生太赫兹波，并通过起偏器对该太赫兹波进行纯度优化，被测对象将进行纯度优化后的太赫兹波进行调制得到太赫兹调制波，通过偏振分光片将该太赫兹调制波分解为偏振态相互垂直的水平太赫兹波和垂直太赫兹波，用两个对应的太赫兹探测器分别对这两个太赫兹波进行检测，进而根据该检测的结构对被测样品进行特征分析；该太赫兹全偏振态检测光谱仪能够快速地对各种全偏振态的太赫兹波进行准确的检测，提高了被测样品的检测精度和检测效率。
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公开(公告)号：CN105841816A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610338618.8
申请日：2016-05-19
Applicant: 深圳市太赫兹系统设备有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
IPC: G01J3/42
Abstract: 本发明涉及一种太赫兹时域光谱系统。太赫兹时域光谱系统中，飞秒激光器辐射的飞秒激光经第一光阑准直，再由分束镜将飞秒激光分为泵浦光和探测光。泵浦光经第一光路组件产生太赫兹脉冲；探测光经第一光路组件产生与泵浦光等光程的线偏振探测光，且线偏振探测光和太赫兹脉冲经合束片合束，得到携带太赫兹脉冲信息的待检测光束。同时在探测装置中使用了两块等厚的电光晶体，调节两块电光晶体之间晶轴的夹角，对通过第一电光晶体的探测光的两个分量o光和e光的相位延迟有相应的相位补偿，从而实现对强太赫兹脉冲的线性探测，提升了测量精度。
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