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公开(公告)号：CN119789220A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411761450.2
申请日：2024-11-29
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H04W72/0453 , H04W4/06 , H04B1/7136 , H04W72/1263
Abstract: 本申请公开了一种信道选择方法、LPWAN网关以及无线通信系统，涉及通信技术领域。LPWAN网关能够获取跳频序列，以及对广播信标帧的信标周期进行计数的计数值，继而基于该跳频序列中索引为该计数值的目标元素，从多个子信道中选择目标子信道。由于能够基于跳频序列从多个子信道中选择目标子信道，因此一方面可以提高LPWAN网关所在的无线通信系统的抗干扰特性；另一方面，可以避免终端在多个子信道上进行检测，从而降低终端的接收复杂度，以及漏掉广播信标帧的概率。
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公开(公告)号：CN119180777A
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202411002340.8
申请日：2024-07-24
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本申请公开了一种锡膏状态检测方法、装置、设备及可读存储介质，方法包括：获取待检测锡膏区域图像和相应的模板锡膏区域图像；待检测锡膏区域图像和模板锡膏区域图像为伪深度图像；将待检测锡膏区域图像和模板锡膏区域图像转换到Lab色彩空间中，确定转换后的待检测锡膏区域图像的第一色彩纹理特征与转换后的模板锡膏区域图像的第二色彩纹理特征间的相似度；根据相似度确定待检测锡膏区域图像对应的待检测锡膏的状态。本申请公开的上述方案，基于伪深度图像中色彩变化确定锡膏状态，实现在二维图像基础上将高度信息参与到锡膏状态检测中，以提高锡膏状态检测的准确性，且无需依赖深度相机，因此可降低锡膏状态检测成本。
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公开(公告)号：CN119401385A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202411269995.1
申请日：2024-09-10
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本申请公开了一种发电功率的预测方法及装置，涉及发电功率预测技术领域。该方法基于连续多个历史时刻的发电数据和N个未来时刻的气象数据，获取多个序列片段对应的片段向量。片段向量的第一子向量基于序列片段中连续U个时刻的气象数据得到。第二子向量基于该U个时刻中后N个时刻的发电功率得到。然后，该方法获取基于N个未来时刻的气象数据得到的搜索向量与各个片段向量的第一子向量的相似度，并获取相似度较高的至少两个目标片段向量，继而对至少两个目标片段向量的第二子向量进行加权求和，以得到目标设备在各个未来时刻的发电功率。在此过程中，因无需深入研究光伏发电系统的物理特性和运行机制，故降低了预测发电功率的计算复杂度。
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公开(公告)号：CN119789245A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411761426.9
申请日：2024-11-29
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H04W80/06 , H04W72/0446 , H04W72/1268 , H04W72/21
Abstract: 本申请公开了一种数据传输方法、终端、网关及数据传输系统，涉及通信技术领域。终端能够在传输的上行数据帧中增加状态指示字段，该状态指示字段用于指示针对前一次传输的历史上行信令的数据回包的传输状态。如此，一方面，可以使得网关基于该状态指示字段，即可准确判断出该传输状态，从而可以及时发现在数据传输过程中存在的丢包情况，以及避免与终端对数据回包的传输状态造成分歧，避免影响数据传输；另一方面，能够使得信令重传与数据载荷重传解耦，避免因数据载荷变化导致的信令消息丢失的现象。
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公开(公告)号：CN119208366A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411113821.6
申请日：2024-08-13
Applicant: 深圳智芯微电子科技有限公司 , 深圳市国电科技通信有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H01L29/778 , H01L29/06 , H01L21/335
Abstract: 本申请公开了一种半导体器件及其制作方法，属于半导体技术领域。所述半导体器件包括：衬底；异质结构，位于所述衬底的厚度方向的一侧；源极、漏极和栅极，分别位于所述异质结构背离所述衬底的一侧，所述源极、所述栅极和所述漏极沿第一方向依次间隔分布，所述第一方向与所述厚度方向相垂直；帽层，位于所述异质结构背离所述衬底的一侧，且位于所述栅极靠近所述漏极的一侧，所述帽层包括沿所述第一方向依次分布的多个阶梯层，多个所述阶梯层与所述异质结构之间的间距沿所述第一方向依次增大。本申请能够抑制甚至消除电流崩塌效应，降低导通电阻。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119109739A
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202411219327.8
申请日：2024-08-30
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本申请公开了一种基于低功耗广域网络的频偏预补偿方法、装置以及系统，涉及通信技术领域。对于基于低功耗广域网络的频偏预补偿方法，网关节点和终端节点能够基于低功耗广域网络进行信号传输，该方法应用于网关节点，该方法包括：根据接收信号的信号特性，对接收信号进行频偏估计，得到频偏估计结果；基于频偏估计结果和下行信号的帧结构特性，对下行信号进行频偏预补偿，以便将频偏预补偿后的下行信号发送给终端节点。根据信号特性以及帧结构特性，通过网关节点进行载波频偏预补偿，终端节点无需进行频偏预补偿的计算，降低对终端节点的性能和计算能力的需求，以优化终端节点的性能和降低终端节点的功耗。
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公开(公告)号：CN118694170A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410681939.2
申请日：2024-05-28
Applicant: 深圳智芯微电子科技有限公司 , 深圳市国电科技通信有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种负压产生电路及直流电源、电子设备，其中电路包括：耦合电感、第一电容、第一至第二二极管和储能电容，耦合电感包括原边绕组和副边绕组。其中，原边绕组作为正压产生电路的储能电感；第一电容的一端与副边绕组的一端相连，副边绕组的另一端接地；第一二极管阴极与第一电容的另一端相连，第一二极管阳极与负压输出端相连；第二二极管阳极分别与第一电容的另一端和第一二极管阴极相连，第二二极管阴极接地；储能电容负极分别与第一二极管阳极和负压输出端相连，储能电容正极接地；储能电容容值大于第一电容容值。该电路能够通过耦合电感耦合电能的方式实现负压供电，且硬件成本较低，可靠性较高。
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公开(公告)号：CN119254006A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411171027.7
申请日：2024-08-23
Applicant: 深圳智芯微电子科技有限公司 , 深圳市国电科技通信有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种PFC电路及其控制芯片的供电电路、电子设备，其中，供电电路包括：储能电路，储能电路分别与PFC电路的输入端和控制芯片的供电端相连，储能电路用于基于PFC电路的输入电压生成启动电压启动控制芯片工作，以使控制芯片控制开关管导通或断开；充放电电路，充放电电路与储能电路相连，充放电电路包括耦合电感的副边绕组，充放电电路用于在控制芯片控制开关管导通时基于原边绕组的电能进行充电，并在控制芯片控制开关管断开时进行放电以给储能电路补充电能，以使控制芯片的工作电压处于预设电压范围内。该供电电路能够实现对控制芯片的稳定供电，且电路结构相对简单，硬件成本低，同时可靠性较高。
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公开(公告)号：CN118694649A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410874233.8
申请日：2024-06-28
Applicant: 深圳市国电科技通信有限公司 , 深圳智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本申请公开了一种信号译码方法及装置、信号接收设备、通信系统，涉及通信技术领域。信号接收设备能够获取调制信号对应的码字序列中各个码字对应的软信息向量，每个码字对应的软信息向量包括该码字包括的各个比特的软信息。且信号接收设备能够获取解码矩阵，该解码矩阵的每个行向量基于码字的多个备选译码结果中一个备选译码结果的编码结果确定。然后，该信号接收设备能够基于解码矩阵与码字对应的软信息向量相乘所得到的列向量，从多个备选译码结果中确定码字的目标译码结果。由于该方法能够利用软信息来评估所有可能的译码结果的准确性，因此有效提高了信号接收设备的译码准确性。
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公开(公告)号：CN117849570B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410256663.3
申请日：2024-03-06
Applicant: 深圳智芯微电子科技有限公司 , 深圳市国电科技通信有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请公开了一种功率半导体器件测试温度确定方法及系统，方法包括：为试验箱内的器件设置0偏压，并设置试验箱为预设温度和预设相对湿度，待运行第一预设时长后测试器件结温并作为标定结温；将器件的偏压升高到预设比例的阻断电压，并从预设温度调整试验箱的温度，待运行第二预设时长后测量器件的当前结温；根据器件的当前结温与标定结温调整试验箱的温度，将器件的当前结温等于标定结温时的试验箱的温度确定为测试温度。本申请公开的技术方案，通过不断调整试验箱的温度以及测试器件的当前结温使得当前结温与标定结温一致，将当前结温等于标定结温时的试验箱的温度作为器件的测试温度，以减少器件表面相对湿度的下降，从而提高器件测试准确性。
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