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公开(公告)号：CN108620344A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201710167410.9
申请日：2017-03-21
申请人： 深圳市华宇半导体有限公司
CPC分类号： B07C5/344 , G01R31/2834 , G01R31/2867
摘要： 本发明公开了一种智能手机自动感光芯片自动化测试系统及其控制方法，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，且V50测试机上设置有遮挡板和测试平台；待测感光芯片放置在测试平台上后，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测感光芯片连接，且机械手与待测感光芯片连接；机械手与遮挡板驱动连接，机械手驱动遮挡板遮挡在待测感光芯片的上方，V50测试机对待测感光芯片进行参数测试后，机械手驱动遮挡板移开，且V50测试机对待测感光芯片再次进行参数测试后将测试结果返回给机械手，机械手根据接收到的测试结果对待测感光芯片进行分类。
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公开(公告)号：CN108627764A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201710167458.X
申请日：2017-03-21
申请人： 深圳市华宇半导体有限公司
IPC分类号： G01R31/317 , B07C5/36
CPC分类号： G01R31/317 , B07C5/36
摘要： 本发明公开了一种银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测芯片连接，且机械手与待测芯片连接；V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，V50测试机对待测芯片进行测试，V50测试机将测试结果返回给机械手，且机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。
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公开(公告)号：CN106180004A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610642638.4
申请日：2016-08-08
申请人： 深圳市华宇半导体有限公司
IPC分类号： B07C5/344 , G05B19/042
CPC分类号： B07C5/344 , G05B19/0428 , G05B2219/2604 , G05B2219/2609
摘要： 本发明公开一种指纹分选机的控制系统及控制方法，包括上位机和下位机，下位机包括FPGA控制器、输入控制电路、输出控制电路、通信控制电路和伺服电机控制器，上位机的输入端连接有测试机，且指纹芯片上设有传感器，上位机的通讯端与通信控制电路交互连接，且通信控制电路与FPGA控制器交互连接；输入控制电路与上位机的按键相连，且输入控制电路与FPGA控制器的输入端电连接；FPGA控制器通过输出控制电路控制多个机械手；伺服电机控制器通过伺服电机驱动指纹芯片移动。本发明主要用于控制机械手，实现与测试机相连，测试机测试到的数据通过上位机输出Map图，测试机通过Map图得知指纹芯片的好坏，且机械手对坏的指纹芯片进行标记，实现对指纹芯片好坏的分选。
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公开(公告)号：CN206804822U
公开(公告)日：2017-12-26
申请号：CN201720273894.0
申请日：2017-03-21
申请人： 深圳市华宇半导体有限公司
IPC分类号： G01R31/317 , B07C5/36
摘要： 本实用新型公开了一种银行安全芯片自动化测试系统，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测芯片连接，且机械手与待测芯片连接；V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，V50测试机对待测芯片进行测试，V50测试机将测试结果返回给机械手，且机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行分类。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN206897883U
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201720279189.1
申请日：2017-03-21
申请人： 深圳市华宇半导体有限公司
摘要： 本实用新型公开了一种智能手机自动感光芯片自动化测试系统，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，且V50测试机上设置有遮挡板和测试平台；待测感光芯片放置在测试平台上后，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测感光芯片连接，且机械手与待测感光芯片连接；机械手与遮挡板驱动连接，机械手驱动遮挡板遮挡在待测感光芯片的上方，V50测试机对待测感光芯片进行参数测试后，机械手驱动遮挡板移开，且V50测试机对待测感光芯片再次进行参数测试后将测试结果返回给机械手，机械手根据接收到的测试结果对待测感光芯片进行分类。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN206083177U
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201620850120.5
申请日：2016-08-08
申请人： 深圳市华宇半导体有限公司
IPC分类号： B07C5/344
摘要： 本实用新型公开一种指纹分选机的控制构架，包括上位机和下位机，下位机包括FPGA控制器、输入控制电路、输出控制电路、通信控制电路和伺服电机控制器，上位机的输入端连接有测试机，且指纹芯片上设有传感器，上位机的通讯端与通信控制电路交互连接，且通信控制电路与FPGA控制器交互连接；输入控制电路与上位机的按键相连，且输入控制电路与FPGA控制器的输入端电连接；FPGA控制器通过输出控制电路控制多个机械手下压或上移；伺服电机控制器通过伺服电机驱动指纹芯片移动。本实用新型主要用于控制机械手，实现与测试机相连，测试机通过测试结果得知指纹芯片的好坏，且机械手对坏的指纹芯片进行标记，实现对指纹芯片好坏的分选。
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