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公开(公告)号：CN117006969B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202310967498.8
申请日：2022-11-23
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 本公开描述了一种光学测量系统，包括用于获得测量信息的光学测量装置以及配置为接收测量信息并进行拟合的拟合装置，光学测量装置包括照明模块、扫描模块、以及成像模块，照明模块包括用于发射照明光束的光源，照明光束经由扫描模块到达待测物并形成反射光束；扫描模块包括沿照明光束的传播方向设置的扫描单元和显微物镜；成像模块配置为基于显微物镜位于不同位置的反射光束以获得与待测像素点相匹配的正离焦区域、对焦区域、以及负离焦区域的多张图像。根据本公开，能够提供一种提高对待测物的测量精度的光学测量系统。
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公开(公告)号：CN118243148A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202410380660.0
申请日：2024-03-30
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
摘要： 本公开描述一种大量程的电容传感器，是通过动极板的摆动对杆体的位移变化进行测量的传感器，包括定极板、动极板和杆体，定极板包括第一极板以及与第一极板相对设置的第二极板，动极板与杆体连接，当杆体产生位移变化时，动极板在杆体的带动下在第一极板与第二极板之间进行摆动，沿杆体的摆动中心指向动极板的方向，第一极板与第二极板之间的间距逐渐增加且第一极板与第二极板之间具有预定夹角。根据本公开，能够扩大电容传感器对位移变化的测量范围。
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公开(公告)号：CN118172424A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410322432.8
申请日：2023-02-10
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
IPC分类号： G06T7/80
摘要： 本公开描述一种激光跟踪仪的标定方法及激光跟踪仪，标定方法包括：双目相机发射第一光束和第二光束至目标，并接收经目标反射且透过第一透镜的第一光束、以及经目标反射且透过第二透镜的第二光束，以形成与第一光束相匹配的第一光斑和与第二光束相匹配的第二光斑；改变目标与双目相机的距离，以获取多个第一光斑和多个第二光斑，令在第二方向上，第一光斑到第一透镜的光轴的距离为第一距离，第二光斑到第二透镜的光轴的距离为第二距离；令目标与双目相机的距离为第三距离，基于第一透镜的焦距、第二透镜的焦距、多个第一距离、多个第二距离、以及多个第三距离标定第一透镜和第二透镜的距离。
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公开(公告)号：CN118033655A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410334394.8
申请日：2023-11-22
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
摘要： 本发明描述一种用于扩大调频连续波测距范围的测距装置及测距方法，测距装置用于测量目标的距离且包括延时网络；延时网络用于将测距装置的测距范围划分为多个距离区间且包括与多个距离区间相匹配的多个预设延时参数，延时网络接收参考光并输出至少一路延时参考光，延时参考光具有与参考光相匹配的预设延时参数，其中，至少一路延时参考光用于与由目标散射测量光而形成的返回光获得至少一路干涉信号，至少一路干涉信号与目标位于的距离区间相匹配，至少一路干涉信号和距离区间用于获取目标的距离。由此，能够在扩展测距范围的同时降低干涉信号的中频频率，提高测距的分辨率。
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公开(公告)号：CN118009836A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410151850.5
申请日：2024-02-02
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
IPC分类号： G01B5/00
摘要： 本公开描述一种检测工件加工精度的装置，是通过标准件检测工件的孔的加工精度的装置，包括：平动组件、旋动组件以及标准件，平动组件配置为驱动旋动组件靠近工件，旋动组件包括具有弹性的弹性件且标准件设置在弹性件上，旋动组件配置为驱动弹性件和标准件旋转以使标准件与工件套合，弹性件配置为在标准件与工件套合过程中使标准件的轴线与工件的轴线趋于重合。由此，能够降低标准件与工件的对准的难度，提升标准件与工件的对准的精确性以提升检测效率和检测精准性。
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公开(公告)号：CN117849757A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410020592.7
申请日：2024-01-04
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
摘要： 本公开描述一种用于激光测距的快速聚焦方法及装置，快速聚焦方法包括：获取待测物的初始距离；基于初始距离和标定曲线获得与初始距离相匹配的标定位置；并且基于标定位置获得待测物的测定距离；其中，标定曲线通过光学标定方法获得，光学标定方法包括：将测量距离划分为多个距离区间；移动测试目标以使测试目标与各个距离区间的端点重合并获取测试目标与各个距离区间的端点重合时第一透镜组的标定位置，标定位置为当测量光束聚焦至测试目标时第一透镜组位于光轴的位置；并且基于多个距离区间和与多个距离区间相匹配的多个标定位置获得标定曲线。根据本公开，能够提供一种提高测量光束聚焦至待测物的效率以及准确性的快速聚焦方法及装置。
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公开(公告)号：CN116878418B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202310957918.4
申请日：2022-12-27
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
摘要： 本公开描述了一种用于过曝现象的重建方法、重建装置和重建系统，重建方法包括：获取待测物在第一光束照明时多个待测区域的反射光束作为多组第一反射光束，基于多组第一反射光束获得与多个待测区域相匹配的多组第一测量信息，其中，第一测量信息包括第一反射光束的强度；令包括第一反射光束的最大强度小于第一预设值的第一测量信息为第一目标信息，令包括第一反射光束的最大强度不小于第一预设值的第一测量信息为第二目标信息；并且基于第一目标信息和第二目标信息重建待测物。根据本公开，能够提高重建待测物的重建精度。
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公开(公告)号：CN117269949B
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311564905.7
申请日：2023-11-22
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
摘要： 本发明描述一种用于扩展调频连续波测距范围的方法及装置，测距装置包括用于将测距范围划分为多个距离区间的延时网络，延时网络包括与多个距离区间相匹配的多个预设延时参数，扩展测距范围的方法包括：令测量光输出至目标并获取目标散射测量光形成的返回光；令参考光输入至延时网络，以使延时网络输出至少一路延时参考光，延时参考光具有与参考光相匹配的预设延时参数；基于至少一路延时参考光与返回光获得至少一路干涉信号，至少一路干涉信号与目标位于的距离区间相匹配；并且基于距离区间和至少一路干涉信号获得目标的距离。由此，能够在扩展测距范围的同时降低干涉信号的中频频率，提高测距的分辨率。(56)对比文件US 2023367011 A1,2023.11.16WO 2010073994 A1,2010.07.01WO 2021212914 A1,2021.10.28
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公开(公告)号：CN117471705A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311735516.6
申请日：2023-12-15
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
IPC分类号： G02B27/48
摘要： 本发明描述一种跨波段超大范围消色差聚焦光学系统，跨波段超大范围消色差聚焦光学系统具有靠近光源的发射位置的近端和远离发射位置的远端，沿入射光方向由近端至远端共光轴地依次设置具有正光焦度的第一透镜组和具有正光焦度的第二透镜组，第一透镜组包括第一消色差透镜且第二透镜组包括第二消色差透镜；令发射位置与第二透镜组在光轴上的间隔为第一距离，令第一透镜组与第二透镜组在光轴上的间隔为第二距离，第一距离为定值，并且第一透镜组可沿光轴移动以改变第二距离；第一透镜组的焦距与第二透镜组的焦距的比值在第一预设范围内。由此，能够使用一套光路系统将多个不同波长的光束同时聚焦在被测物体的表面，并能够实现焦距调整。
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公开(公告)号：CN117433416A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311394815.8
申请日：2021-09-15
申请人： 深圳市中图仪器股份有限公司
摘要： 本发明提供了一种正交轴系统的调校方法及坐标测量装置，调校方法包括：利用与第一旋转轴的轴线间隔第二预设距离的第二截面截取第二旋转轴以获得第三虚拟截面；旋转第一旋转轴以使第二旋转轴旋转第一预设角度，利用第二截面截取第二旋转轴以获得第四虚拟截面；基于第三虚拟截面的几何中心和第四虚拟截面的几何中心计算用于反映第一旋转轴的轴线和第二旋转轴的轴线之间的距离的异面误差；若异面误差不小于第二预设值，基于异面误差调整第一旋转轴的轴线和第二旋转轴的轴线的相对位置以降低异面误差。由此，能够降低正交轴系统的异面误差。
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