-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113312246A
公开(公告)日：2021-08-27
申请号：CN202110631913.3
申请日：2021-06-07
Applicant: 海光信息技术股份有限公司
IPC: G06F11/34
Abstract: 本申请提供一种验证环境的控制方法、装置、平台、设备和存储介质，该方法包括：获取验证环境中执行模块的运行状态信息；根据所述运行状态信息，判断所述验证环境的运行是否存在故障；当所述验证环境的运行存在故障时，控制所述验证环境的停止运行。本申请可以对验证环境仿真挂死进行快速的报警并停止仿真，从而大大地减少仿真挂死运行时的时间损耗，加快芯片验证的迭代。
-
公开(公告)号：CN120030963A
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202510120685.1
申请日：2025-01-24
Applicant: 海光信息技术股份有限公司
IPC: G06F30/3308 , G06F30/327
Abstract: 本申请实施例提供了一种芯片验证系统、方法、装置、验证设备、介质及程序，所述芯片验证系统包括：多个芯片对应的多个测试平台，其中，一个测试平台用于为对应的芯片提供仿真环境；所述测试平台包括所述芯片的验证对象；映射模块，连接所述多个测试平台中的验证对象，形成所述多个芯片的联合仿真环境，所述联合仿真环境用于联合所述多个芯片的仿真任务；以及，在所述联合仿真环境下，通过跨进程通信在验证对象之间传输仿真通信数据。本申请实施例提供的芯片验证系统能够支持对多个芯片的联合仿真验证，提高芯片验证的全面性。
-
公开(公告)号：CN113342583B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202110637807.6
申请日：2021-06-08
Applicant: 海光信息技术股份有限公司
IPC: G06F11/22 , G06F11/26 , G06F11/273
Abstract: 本申请提供一种芯片验证系统、方法、装置、设备和存储介质，该系统包括：多个验证模拟器；多个相连的验证环境，每个所述验证模拟器分别编译运行一个所述验证环境，所述验证环境中包括至少一个验证模块；每个所述验证环境用于例化待测芯片的一个子电路，所述待测芯片包括多个子电路；其中，每个所述验证环境在一个所述验证模拟器上编译运行时，所述验证模块为当前所述验证环境的所述子电路产生激励信号，并采集所述子电路的输出信号，通过检查多个所述子电路的所述输出信号完成对整个所述待测芯片的验证。本申请实现了芯片验证在多核下的并行运行，加快了验证速度，进而缩短了芯片产品的验证周期。
-
公开(公告)号：CN113342583A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110637807.6
申请日：2021-06-08
Applicant: 海光信息技术股份有限公司
IPC: G06F11/22 , G06F11/26 , G06F11/273
Abstract: 本申请提供一种芯片验证系统、方法、装置、设备和存储介质，该系统包括：多个验证模拟器；多个相连的验证环境，每个所述验证模拟器分别编译运行一个所述验证环境，所述验证环境中包括至少一个验证模块；每个所述验证环境用于例化待测芯片的一个子电路，所述待测芯片包括多个子电路；其中，每个所述验证环境在一个所述验证模拟器上编译运行时，所述验证模块为当前所述验证环境的所述子电路产生激励信号，并采集所述子电路的输出信号，通过检查多个所述子电路的所述输出信号完成对整个所述待测芯片的验证。本申请实现了芯片验证在多核下的并行运行，加快了验证速度，进而缩短了芯片产品的验证周期。
-
公开(公告)号：CN113312246B
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202110631913.3
申请日：2021-06-07
Applicant: 海光信息技术股份有限公司
IPC: G06F11/34
Abstract: 本申请提供一种验证环境的控制方法、装置、平台、设备和存储介质，该方法包括：获取验证环境中执行模块的运行状态信息；根据所述运行状态信息，判断所述验证环境的运行是否存在故障；当所述验证环境的运行存在故障时，控制所述验证环境的停止运行。本申请可以对验证环境仿真挂死进行快速的报警并停止仿真，从而大大地减少仿真挂死运行时的时间损耗，加快芯片验证的迭代。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.034 seconds)
