一种新型可控硅
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109860169A

    公开(公告)日:2019-06-07

    申请号:CN201910226402.6

    申请日:2019-03-25

    IPC分类号: H01L27/02

    摘要: 本发明公开了一种新型可控硅,包括:衬底,所述衬底上沿其长度方向设置有N阱和P阱;所述N阱上沿衬底的宽度方向依次设置有第一P+注入区和第一N+注入区;所述P阱上沿衬底的宽度方向依次设置有第二P+注入区和第二N+注入区;所述第一P+注入区和第二N+注入区分别接入阳极和阴极,所述第一N+注入区和第二P+注入区通过金属线相连;所述第一P+注入区、第一N+注入区、第二P+注入区、第二N+注入区之间均通过第一隔离槽分隔开;所述第一P+注入区和第一N+注入区与N阱的边缘之间通过第二隔离槽分隔开,所述第二P+注入区和第二N+注入区与P阱的边缘之间通过第三隔离槽分隔开。本发明不仅节省了版图面积,提高了面积效率,还具有提高可控硅结构维持电压的作用。

    一种新型可控硅
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109860169B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN201910226402.6

    申请日:2019-03-25

    IPC分类号: H01L27/02

    摘要: 本发明公开了一种新型可控硅,包括:衬底,所述衬底上沿其长度方向设置有N阱和P阱;所述N阱上沿衬底的宽度方向依次设置有第一P+注入区和第一N+注入区;所述P阱上沿衬底的宽度方向依次设置有第二P+注入区和第二N+注入区;所述第一P+注入区和第二N+注入区分别接入阳极和阴极,所述第一N+注入区和第二P+注入区通过金属线相连;所述第一P+注入区、第一N+注入区、第二P+注入区、第二N+注入区之间均通过第一隔离槽分隔开;所述第一P+注入区和第一N+注入区与N阱的边缘之间通过第二隔离槽分隔开,所述第二P+注入区和第二N+注入区与P阱的边缘之间通过第三隔离槽分隔开。本发明不仅节省了版图面积,提高了面积效率,还具有提高可控硅结构维持电压的作用。

    集成电路静电防护的二极管触发可控硅

    公开(公告)号:CN109166850A

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201811171997.1

    申请日:2018-10-09

    IPC分类号: H01L27/02 H01L29/74

    摘要: 本发明公开了一种集成电路静电防护的二极管触发可控硅,包括第一衬底,第一衬底上设置有依次连接的第一N阱、第一P阱和第二N阱,第一N阱上设置有第一P+注入区和第一N+注入区,第一P+注入区接入电学阳极,第一P阱上设置有第二P+注入区和第二N+注入区,第二P+注入区连接第一N+注入区,第二N阱上设置有第三N+注入区,第三N+注入区和第二N+注入区均接入电学阴极。本发明触发电压小,鲁棒性高,导通电阻小,可以对集成电路进行有效的ESD防护。

    一种新型可控硅
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN209461458U

    公开(公告)日:2019-10-01

    申请号:CN201920379728.8

    申请日:2019-03-25

    IPC分类号: H01L27/02

    摘要: 本实用新型公开了一种新型可控硅,包括:衬底,所述衬底上沿其长度方向设置有N阱和P阱;所述N阱上沿衬底的宽度方向依次设置有第一P+注入区和第一N+注入区;所述P阱上沿衬底的宽度方向依次设置有第二P+注入区和第二N+注入区;所述第一P+注入区和第二N+注入区分别接入阳极和阴极,所述第一N+注入区和第二P+注入区通过金属线相连;所述第一P+注入区、第一N+注入区、第二P+注入区、第二N+注入区之间均通过第一隔离槽分隔开;所述第一P+注入区和第一N+注入区与N阱的边缘之间通过第二隔离槽分隔开,所述第二P+注入区和第二N+注入区与P阱的边缘之间通过第三隔离槽分隔开。本实用新型不仅节省了版图面积,提高了面积效率,还具有提高可控硅结构维持电压的作用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    集成电路静电防护的二极管触发可控硅

    公开(公告)号:CN208848907U

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201821632602.9

    申请日:2018-10-09

    IPC分类号: H01L27/02 H01L29/74

    摘要: 本实用新型公开了一种集成电路静电防护的二极管触发可控硅,包括第一衬底,第一衬底上设置有依次连接的第一N阱、第一P阱和第二N阱,第一N阱上设置有第一P+注入区和第一N+注入区,第一P+注入区接入电学阳极,第一P阱上设置有第二P+注入区和第二N+注入区,第二P+注入区连接第一N+注入区,第二N阱上设置有第三N+注入区,第三N+注入区和第二N+注入区均接入电学阴极。本实用新型触发电压小,鲁棒性高,导通电阻小,可以对集成电路进行有效的ESD防护。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    兼具压力传感的可降解脑电极阵列

    公开(公告)号:CN209450523U

    公开(公告)日:2019-10-01

    申请号:CN201821632634.9

    申请日:2018-10-09

    摘要: 本实用新型公开了一种兼具压力传感的可降解脑电极阵列,包括可降解的衬底、压力传感器、电极阵列和封装层;封装层和衬底从上往下依次设置,压力传感器和电极阵列均位于封装层和衬底之间,衬底、压力传感器、电极阵列和封装层层压成型。本实用新型集成有压力传感,在采集脑电信号的同时对皮层肿胀进行监测,同时本实用新型均采用可降解材料,能够最大程度减小对脑部的损伤、避免手术移除电极带来的感染风险并提高采集的脑电信号的质量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利