一种高介电可调针状晶钡铁氧体薄膜及其低温制备方法

    公开(公告)号:CN115233196A

    公开(公告)日:2022-10-25

    申请号:CN202210855295.5

    申请日:2022-07-19

    IPC分类号: C23C18/12

    摘要: 本发明公开了一种高介电可调针状晶钡铁氧体薄膜及其低温制备方法,所述的钡铁氧体薄膜为具有针状晶微结构形态的单相多晶材料,是通过在单晶硅基板上利用溶胶凝胶旋涂法经逐层多次热解固化及低温(不超过770℃)烧结结晶形成;这种钡铁氧体薄膜通过Ba2+的超化学计量比配比,形成间隙掺杂,从而形成稳定的电子对偶极子。所述薄膜具有高介电效应,同时具有低调制电场和高介电可调性,介电调谐率为最高>87%,优值最高>18,调制偏置电场~150V/cm。本发明制备方法与制备过程简单、可控性强、制备周期短、成本低廉,可以得到在很低调制电场下表现出高介电调谐率的单一相钡铁氧体薄膜材料,在介电可调器件以及集成电路领域有广泛的应用。

    一种特定非晶型超低调制电场和极高介电可调钡铁氧体薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN115196954A

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202210855293.6

    申请日:2022-07-19

    IPC分类号: C04B35/26 C04B35/622 H01F1/34

    摘要: 本发明公开了一种特定非晶型超低调制电场和极高介电可调钡铁氧体薄膜及其制备方法,所述薄膜由分布均匀的细粒状钡铁氧体非晶颗粒组成,其组成为BaxZryFe12O19,其中x=2~3,y=1~4。所述非晶薄膜,是在单晶硅基板上经溶胶凝胶工艺旋涂法,在相对略低于钡铁氧体晶相结晶温度以下制备获得;这种得到的特定非晶型钡铁氧体薄膜,具有极低调制电场和超高介电可调性,介电调谐率高达70~80%,调制电压30~60V/cm,优值10~7。本发明采用的溶胶凝胶结合旋转涂覆制备方法,过程简单、可控性强、制备周期短、成本低廉,制得的特定非晶态钡铁氧体薄膜材料可以在超低调制电场下表现出极高介电调谐率。这种钡铁氧体薄膜在介电可调器件以及集成电路领域有广泛的应用。

    一种高介电可调针状晶钡铁氧体薄膜及其低温制备方法

    公开(公告)号:CN115233196B

    公开(公告)日:2023-10-17

    申请号:CN202210855295.5

    申请日:2022-07-19

    IPC分类号: C23C18/12

    摘要: 本发明公开了一种高介电可调针状晶钡铁氧体薄膜及其低温制备方法,所述的钡铁氧体薄膜为具有针状晶微结构形态的单相多晶材料,是通过在单晶硅基板上利用溶胶凝胶旋涂法经逐层多次热解固化及低温(不超过770℃)烧结结晶形成;这种钡铁氧体薄膜通过Ba2+的超化学计量比配比,形成间隙掺杂,从而形成稳定的电子对偶极子。所述薄膜具有高介电效应,同时具有低调制电场和高介电可调性,介电调谐率为最高>87%,优值最高>18,调制偏置电场~150V/cm。本发明制备方法与制备过程简单、可控性强、制备周期短、成本低廉,可以得到在很低调制电场下表现出高介电调谐率的单一相钡铁氧体薄膜材料,在介电可调器件以及集成电路领域有广泛的应用。

    一种特定非晶型超低调制电场和极高介电可调钡铁氧体薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN115196954B

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202210855293.6

    申请日:2022-07-19

    IPC分类号: C04B35/26 C04B35/622 H01F1/34

    摘要: 本发明公开了一种特定非晶型超低调制电场和极高介电可调钡铁氧体薄膜及其制备方法,所述薄膜由分布均匀的细粒状钡铁氧体非晶颗粒组成,其组成为BaxZryFe12O19,其中x=2~3,y=1~4。所述非晶薄膜,是在单晶硅基板上经溶胶凝胶工艺旋涂法,在相对略低于钡铁氧体晶相结晶温度以下制备获得;这种得到的特定非晶型钡铁氧体薄膜,具有极低调制电场和超高介电可调性,介电调谐率高达70~80%,调制电压30~60V/cm,优值10~7。本发明采用的溶胶凝胶结合旋转涂覆制备方法,过程简单、可控性强、制备周期短、成本低廉,制得的特定非晶态钡铁氧体薄膜材料可以在超低调制电场下表现出极高介电调谐率。这种钡铁氧体薄膜在介电可调器件以及集成电路领域有广泛的应用。