-
公开(公告)号：CN110289040B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201910555383.1
申请日：2019-06-25
Applicant: 浙江大学 , 南方电网科学研究院有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种系统芯片中BIST与ECC结合的存储器检测方法，属于存储器的内建自测试领域。包括BIST模块、ECC模块和存储器，具体方法如下：当ECC模块检测到写入与读出存储器的数据不一致，并且只有一比特的错误数据，则调用ECC纠正算法，对错误的一比特进行纠正，再返回BIST模块，BIST模块给出正确的结果；当ECC模块没有检测到错误，则BIST处的结果信号会给出正确的结果；当如果是有两比特及以上的错误，则ECC并没有纠正，返回给BIST时，会检测到错误的数据，BIST会给出错误的结果反馈。本发明提高了检测的存储器的良品率，一块存储空间出现一比特错误的时候仍然认为是正确的。
-
公开(公告)号：CN110289041B
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN201910556381.4
申请日：2019-06-25
Applicant: 浙江大学 , 南方电网科学研究院有限责任公司
Abstract: 本发明提出了一种BIST复用系统芯片中的ECC模块的检测存储器的装置，属于存储器的检测领域。所述装置包括BIST电路模块，ECC存储器，存储器，纠错编码器，纠错解码器。当ECC模块没有错误时，BIST可以选择复用ECC模块。本发明提出的装置通过向存储器读写数据的方式对其进行检测。在此过程中，当有一个比特的错误发生时，会被ECC纠错解码器模块所纠正，在BIST检测端不会检测到错误，给出的检测结果信号为pass，认为该区域仍然是可用的。当有两比特以上的错误的时候，才会认为是确实错误的，报出fail信号。本装置提高了检测时存储器的良品率。
-
公开(公告)号：CN110289040A
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201910555383.1
申请日：2019-06-25
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种系统芯片中BIST与ECC结合的存储器检测方法，属于存储器的内建自测试领域。包括BIST模块、ECC模块和存储器，具体方法如下：当ECC模块检测到写入与读出存储器的数据不一致，并且只有一比特的错误数据，则调用ECC纠正算法，对错误的一比特进行纠正，再返回BIST模块，BIST模块给出正确的结果；当ECC模块没有检测到错误，则BIST处的结果信号会给出正确的结果；当如果是有两比特及以上的错误，则ECC并没有纠正，返回给BIST时，会检测到错误的数据，BIST会给出错误的结果反馈。本发明提高了检测的存储器的良品率，一块存储空间出现一比特错误的时候仍然认为是正确的。
-
公开(公告)号：CN110289041A
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201910556381.4
申请日：2019-06-25
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明提出了一种BIST复用系统芯片中的ECC模块的检测存储器的装置，属于存储器的检测领域。所述装置包括BIST电路模块，ECC存储器，存储器，纠错编码器，纠错解码器。当ECC模块没有错误时，BIST可以选择复用ECC模块。本发明提出的装置通过向存储器读写数据的方式对其进行检测。在此过程中，当有一个比特的错误发生时，会被ECC纠错解码器模块所纠正，在BIST检测端不会检测到错误，给出的检测结果信号为pass，认为该区域仍然是可用的。当有两比特以上的错误的时候，才会认为是确实错误的，报出fail信号。本装置提高了检测时存储器的良品率。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.053 seconds)
