一种纳米石墨晶电介质复合薄膜结构及应用

    公开(公告)号:CN104596137A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201410723085.6

    申请日:2014-12-02

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: Y02E10/40

    Abstract: 本发明公开了一种纳米石墨晶电介质复合薄膜结构,具有两相复合的电介质基体和纳米石墨晶粒,纳米石墨晶粒的尺寸在3nm~20nm范围内,纳米石墨晶粒均匀分布在复合薄膜中,且与电介质基体在纳米尺度上进行复合,复合尺度在50nm以下。本发明还公开了一种纳米石墨晶电介质复合薄膜结构的应用,将所述的纳米石墨晶电介质复合薄膜结构与低辐射率层串联,使其同时具优异的太阳光吸收特性与较低的辐射性能,成为一种高效的太阳能能源材料,应用于太阳能选择吸收领域。

    一种消除具有非陡峭界面双层膜结构镀膜玻璃反射色的膜层设计方法

    公开(公告)号:CN103936296A

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201410088711.9

    申请日:2014-03-12

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明涉及一种消除具有非陡峭界面双层膜结构镀膜玻璃反射色的膜层设计方法,属于镀膜玻璃生产设计领域。方法具体如下:针对具有非陡峭膜层界面的双层膜结构镀膜玻璃,采用Bruggeman有效介质近似模型处理非陡峭界面,建立五层膜结构的光学模型;构建五层膜结构薄膜光学参数与镀膜玻璃反射色色饱和度的数学关系,获得问题的数学模型;在确定一种膜层光学参数的前提下,采用模拟退火法与牛顿迭代法相结合的两步法求解这个优化问题,最终给出理想色饱和度的匹配薄膜参数。本发明与其他不考虑扩散而且具有陡峭双层膜结构的模型相比,更加符合实际情况,对于镀膜玻璃的设计与生产具有重要的指导意义。

    一种低辐射镀膜玻璃的光学参数检测方法

    公开(公告)号:CN103323403A

    公开(公告)日:2013-09-25

    申请号:CN201310201073.2

    申请日:2013-05-27

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明涉及一种低辐射镀膜玻璃的光学参数检测方法,该低辐射镀膜玻璃为SnO2:F/SiCxOy,0<x<1,1<y<4,属于镀膜玻璃检测领域。该方法是在获得SnO2:F/SiCxOy节能镀膜玻璃椭圆偏振光谱的基础之上,引入五层膜层结构以及光学色散方程,通过迭代来回归实测椭偏光谱,最终获得SnO2:F/SiCxOy镀膜玻璃的膜层结构及其每一层的光学参数,利用该方法实现镀膜玻璃光学性能的在线实时监控。本发明仅采用光学测试手段来获得准确的膜层结构及光学参数,对样品无损伤、测量耗时少、测试方法简便,对被测样品表面无特殊要求,十分适合于SnO2:F/SiCxOy节能镀膜玻璃的性能检测。

    一种二氧化钛基选择吸收薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN102888598A

    公开(公告)日:2013-01-23

    申请号:CN201210385538.X

    申请日:2012-10-12

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明涉及一种二氧化钛基选择吸收薄膜的制备方法,该方法通过用溶胶—凝胶法在基板上镀膜,然后对薄膜进行高真空下的热处理导致薄膜前驱体中的有机物部分或完全碳化,在TiO2基体中形成导电网络以及分立碳颗粒,获得的二氧化钛基薄膜具有较好光谱选择吸收性,即在可见光谱区具有较好吸收率,在中远红外具有较高的反射率。本发明制备工艺简单,不需要任何昂贵的设备,成本低,可在任意形状的基板上涂膜,适合于大面积工业化生产。

    一种低辐射镀膜玻璃的光学参数检测方法

    公开(公告)号:CN103323403B

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201310201073.2

    申请日:2013-05-27

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明涉及一种低辐射镀膜玻璃的光学参数检测方法,该低辐射镀膜玻璃为SnO2:F/SiCxOy,0<x<1,1<y<4,属于镀膜玻璃检测领域。该方法是在获得SnO2:F/SiCxOy节能镀膜玻璃椭圆偏振光谱的基础之上,引入五层膜层结构以及光学色散方程,通过迭代来回归实测椭偏光谱,最终获得SnO2:F/SiCxOy镀膜玻璃的膜层结构及其每一层的光学参数,利用该方法实现镀膜玻璃光学性能的在线实时监控。本发明仅采用光学测试手段来获得准确的膜层结构及光学参数,对样品无损伤、测量耗时少、测试方法简便,对被测样品表面无特殊要求,十分适合于SnO2:F/SiCxOy节能镀膜玻璃的性能检测。

    一种Si基缓冲层镀膜玻璃的光学参数检测方法

    公开(公告)号:CN103884494A

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201410108173.5

    申请日:2014-03-21

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明涉及一种Si基缓冲层镀膜玻璃的光学参数检测方法,该缓冲层镀膜为SiCxOy,0<x<1,1<y<4,属于镀膜玻璃检测领域。该方法是在获得SiCxOy缓冲层镀膜玻璃椭圆偏振光谱的基础之上,引入三层膜层结构以及光学色散方程,通过迭代来回归实测椭偏光谱,最终获得SiCxOy镀膜玻璃的膜层结构及其每一层的光学参数,利用该方法实现镀膜玻璃光学性能的在线监控。本发明仅采用椭偏光学测试手段便可准确地获得薄膜的膜层结构及光学参数,对样品无损伤、测量耗时少、测试方法简便、对被测样品表面无特殊要求,十分适合于SiCxOy节能镀膜玻璃的性能检测及监控。

    一种具有柱状晶形貌的掺氟二氧化钛薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN103084191A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201310032340.8

    申请日:2013-01-25

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明涉及一种柱状晶形貌的掺氟二氧化钛薄膜的制备方法。该方法通过用溶胶-凝胶法在基板上逐次旋涂镀膜,然后对每层薄膜进行空气中热处理形成锐钛矿型柱状晶形貌的掺氟二氧化钛薄膜,其表现出更好的光催化性能。本发明制备工艺简单,不需要任何昂贵的设备,成本低,可以在任意形状的基板上镀膜,非常适合于二氧化钛光催化以及建筑节能镀膜玻璃的工业化应用。

    一种测量在线低辐射节能镀膜玻璃辐射率的方法

    公开(公告)号:CN103884657A

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201410109931.5

    申请日:2014-03-21

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明涉及一种测量在线低辐射节能镀膜玻璃辐射率的方法,能够实现在线低辐射玻璃辐射率的在线、实时测量。该方法是在获得低辐射镀膜的可见-近红外波段椭圆偏振光谱的基础之上,引入四层膜层结构以及Drude色散方程来回归实测椭偏光谱,最终获得薄膜材料的物理参数,从而通过一个半经验公式计算薄膜的辐射率。本发明仅采用椭偏光学测试手段便可测量薄膜辐射率,对样品无损伤、测量耗时少、测试方法简便、对被测样品表面无特殊要求,十分适合于在线低辐射节能镀膜玻璃的性能在线检测及监控。

    一种二氧化钛基导电薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN102732879A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201210236458.8

    申请日:2012-07-10

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明涉及一种二氧化钛基导电薄膜的制备方法,该方法通过用溶胶—凝胶法在基板上镀膜,然后对薄膜进行高真空下的热处理导致薄膜前驱体中的有机物部分或完全碳化,使制备的二氧化钛基薄膜具有好的电学性质,其电阻率可以达到10-3Ω·cm数量级。本发明制备工艺简单,不需要任何昂贵的设备,成本低,可在任意形状的基板上涂膜,适合于大面积工业化生产。

    一种测量在线低辐射节能镀膜玻璃辐射率的方法

    公开(公告)号:CN103884657B

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201410109931.5

    申请日:2014-03-21

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明涉及一种测量在线低辐射节能镀膜玻璃辐射率的方法,能够实现在线低辐射玻璃辐射率的在线、实时测量。该方法是在获得低辐射镀膜的可见-近红外波段椭圆偏振光谱的基础之上,引入四层膜层结构以及Drude色散方程来回归实测椭偏光谱,最终获得薄膜材料的物理参数,从而通过一个半经验公式计算薄膜的辐射率。本发明仅采用椭偏光学测试手段便可测量薄膜辐射率,对样品无损伤、测量耗时少、测试方法简便、对被测样品表面无特殊要求,十分适合于在线低辐射节能镀膜玻璃的性能在线检测及监控。

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