公开(公告)号：CN117725401A

公开(公告)日：2024-03-19

申请号：CN202311756331.3

申请日：2023-12-20

Applicant: 河北工业大学

Inventor： 项石虎 ,  赵昌东 ,  李奎 ,  王尧 ,  张杰凯 ,  桑海爽 ,  李文华

IPC: G06F18/213 ,  G06F18/27 ,  G06F30/20 ,  G01R31/327 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开一种基于多特征量优选的低压开关电器剩余寿命预测方法，该方法首先选择该电器若干相互独立且为串联关系的原始特征量的监测数据，并通过累积和、取极值或求均方根值方法新增特征量，得到备选特征量。计算各备选特征量机理角度和数理角度的评价指标，并计算备选特征量综合评价指标，再根据综合评价指标对备选特征量进行优选，最后利用优选出的备选特征量进行剩余寿命预测。本发明预测方法考虑了低压开关电器剩余寿命预测的现实需求、多特征量竞争失效的实际特点和特征量优选时的统计特性与内在机理，解决了多特征量的选取问题，剩余寿命预测结果具有可信性；该预测方法计算简单，方便工程技术人员使用，具有较强的应用价值。

公开(公告)号：CN117993198A

公开(公告)日：2024-05-07

申请号：CN202410149775.9

申请日：2024-02-02

Applicant: 河北工业大学

Inventor： 李奎 ,  王阳 ,  李明涛 ,  张杰凯 ,  于明浩

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种基于机会理论的智能脱扣器中电子电路的寿命预测方法，首先综合考虑了每个模块的功能、性能，然后对性能进行重要度评估，构建备选性能参数集合及性能参数阈值，再根据备选性能参数集合，结合高温加速退化试验，得到表征电子电路退化的关键性能参数，再构建考虑个体差异的一元线性维纳过程模型的综合性指标和考虑个体差异的一元线性刘过程模型的综合性指标，再以两个综合性指标作为权重将维纳过程与刘过程融合为关键性能参数的融合模型，适用于退化速率相对缓慢且数据样本较少的智能脱扣器中电子电路，实现对智能脱扣器中电子电路的寿命预测。