公开(公告)号：CN115504400A

公开(公告)日：2022-12-23

申请号：CN202211109067.X

申请日：2022-09-13

Applicant: 江苏大学

Inventor： 谢俊 ,  赵宇凡 ,  刘军 ,  王子贤

IPC: B66F7/08 ,  B66F7/28 ,  B66F11/04

Abstract: 本发明提供了一种双框架电动剪叉升降平台，包括上平台、升降部、驱动单元与底座，上平台与底座通过升降部连接，所述升降部包括相同结构的外侧支架与内侧支架，所述支架包括多个上下依次连接的X型支架单元，支架单元中的内侧剪叉臂与内臂连接管构成整体式内框架，支架单元中的外侧剪叉臂、四臂串联轴与两端轴套构成整体式外框架，两个框架叠加，使得升降平台的承载能力有所提高，更加稳固。

公开(公告)号：CN119671776A

公开(公告)日：2025-03-21

申请号：CN202411826640.8

申请日：2024-12-12

Applicant: 江苏大学

Inventor： 顾寄南 ,  高艳 ,  赵宇凡 ,  杨绍俊 ,  刘文新 ,  孙佩月 ,  王翔

IPC: G06Q50/04 ,  G06T7/00 ,  G06V10/40 ,  G06V10/25 ,  G06V10/82 ,  G06V10/764 ,  G06N5/022 ,  G06F16/901 ,  G06F16/23 ,  G06F18/20 ,  G06N5/04 ,  G06N7/01 ,  G06N3/0442 ,  G06N3/0464 ,  G06F123/02

Abstract: 本发明公开了一种基于知识图谱推理的芯片缺陷检测与优化系统，包括芯片缺陷检测模块、数据存储与知识图谱构建模块、推理分析模块和反馈优化模块；基于知识推理系统进行缺陷根因分析和生产工艺优化，且反馈优化模块基于推理结果生成工艺优化建议，通过自动工艺调整系统和自适应反馈控制器对生产流程进行实时优化，确保优化措施能够有效减少缺陷的发生。本系统通过集成缺陷检测、知识推理和工艺优化闭环，能够实现缺陷早期预警、根因分析和工艺参数的自动调整，显著提高芯片生产过程的质量和效率。

公开(公告)号：CN115331172A

公开(公告)日：2022-11-11

申请号：CN202210993747.6

申请日：2022-08-18

Applicant: 江苏大学

Inventor： 谢俊 ,  王子贤 ,  赵宇凡 ,  刘军

IPC: G06V20/52 ,  G06V40/20 ,  G06V10/764 ,  G06V10/82 ,  G06V10/762 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08 ,  G08B21/18 ,  G08B21/24

Abstract: 本发明提供了一种基于监控视频的车间危险行为识别报警方法及系统，包括如下步骤：采集危险行为图像数据集；利用改进后的YOLOv4‑MobileNet V3深度学习网络架构，构建多个危险行为识别模块；将训练集输入构建的多个危险行为识别模块，利用损失函数训练得到训练完成的多个危险行为识别模块；将测试集输入训练完成的多个危险行为识别模块进行卷积处理，模型输出的分类结果包括目标所属的类别和对应的置信度；根据目标置信度设置阈值，去除置信度低于阈值的目标所属的类别；基于卷积处理完成的多个危险行为识别模块对监控视频中所有图像帧判定是否存在危险行为，当认定存在危险行为，触发报警模块。本发明能够对车间内行为进行实时监控并检测。