公开(公告)号：CN201145581Y

公开(公告)日：2008-11-05

申请号：CN200720171415.0

申请日：2007-12-05

Applicant: 比亚迪股份有限公司

Inventor： 王合祥 ,  易万宏 ,  宋洁 ,  容胜丰

IPC: G01D5/12

Abstract: 本实用新型适用于位移测试装置领域，提供一种翻盖偏移量测试装置，包括用于固持被测试产品的固持组件、用于推动固持在固持组件上的被测试产品翻盖的推动组件和用于根据推动组件位移大小而使其电路呈断开或接通状态的测试结果显示组件，所述推动组件和测试结果显示组件安装于固持组件上，所述推动组件推动被测试产品向测试结果显示组件移动。所述推动组件推动放置在固持组件中的被测试产品翻盖的同时，向测试结果显示组件移动，测试结果显示组件根据推动组件位移的大小而使其电路呈断开或接通状态，从而显示不同的测试结果。该装置操作方便。

公开(公告)号：CN201066379Y

公开(公告)日：2008-05-28

申请号：CN200720120912.8

申请日：2007-06-18

Applicant: 比亚迪股份有限公司

Inventor： 王合祥 ,  宋洁 ,  黄培坤 ,  董劳成 ,  易松林 ,  田东伟

IPC: G01R31/327

Abstract: 本实用新型公告了一种键盘测试设备，该设备包括测试机构、主控装置和固持待测试键盘机构，所述测试机构包括信号采集机构，所述信号采集机构连接在主控装置与固持在所述固持待测试键盘机构上的待测键盘之间，所述主控装置通过信号采集机构向待测键盘输入检测电信号，所述信号采集机构采集待测键盘响应所述检测电信号的反馈电信号并输出至主控装置，所述主控装置接收、分析所述反馈电信号以得出测试结果。本实用新型的键盘测试设备能够准确有效地对键盘的电参数进行测试。