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公开(公告)号:CN105633064A
公开(公告)日:2016-06-01
申请号:CN201410623813.6
申请日:2014-11-06
Applicant: 比亚迪股份有限公司
IPC: H01L25/07 , H01L23/498 , H01L21/50 , H01L21/60
Abstract: 本发明公开了一种半导体组件及其制备方法,半导体组件包括:金属底板,金属底板上设有第一焊接面;覆金属陶瓷基板,覆金属陶瓷基板设在金属底板上且与第一焊接面焊接相连,覆金属陶瓷基板上设有第二焊接面;芯片,芯片设在覆金属陶瓷基板上且与第二焊接面焊接相连,第一焊接面和第二焊接面中的至少一个上设有突出于第一焊接面和/或第二焊接面的凸点,金属底板与覆金属陶瓷基板之间的焊料和/或芯片与覆金属陶瓷基板之间的焊料分别设在凸点上,凸点的熔点大于焊料的焊接温度。根据本发明实施例的半导体组件,不仅改善了焊料分布的均匀性,提高了半导体组件的可靠性和使用寿命,而且提高了焊料的润湿性。
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公开(公告)号:CN105633064B
公开(公告)日:2019-01-29
申请号:CN201410623813.6
申请日:2014-11-06
Applicant: 比亚迪股份有限公司
IPC: H01L25/07 , H01L23/498 , H01L21/50 , H01L21/60
Abstract: 本发明公开了一种半导体组件及其制备方法,半导体组件包括:金属底板,金属底板上设有第一焊接面;覆金属陶瓷基板,覆金属陶瓷基板设在金属底板上且与第一焊接面焊接相连,覆金属陶瓷基板上设有第二焊接面;芯片,芯片设在覆金属陶瓷基板上且与第二焊接面焊接相连,第一焊接面和第二焊接面中的至少一个上设有突出于第一焊接面和/或第二焊接面的凸点,金属底板与覆金属陶瓷基板之间的焊料和/或芯片与覆金属陶瓷基板之间的焊料分别设在凸点上,凸点的熔点大于焊料的焊接温度。根据本发明实施例的半导体组件,不仅改善了焊料分布的均匀性,提高了半导体组件的可靠性和使用寿命,而且提高了焊料的润湿性。
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