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公开(公告)号:CN119535677A
公开(公告)日:2025-02-28
申请号:CN202411970874.X
申请日:2024-12-30
Applicant: 武汉长盈通光电技术股份有限公司
Abstract: 一种空芯反谐振光纤跳线制作方法,具体步骤包括:使用精密切割装置将30cm长的HC‑ARF两端切割成小于1°的角度,确保切割端面完整无裂纹;将切割完成的HC‑ARF与10cm长的无芯光纤熔接,防止包层管塌陷;采用双组分环氧树脂胶水精确注入陶瓷插芯,确保胶水均匀填充,提供机械支撑;将熔接后的光纤组合体穿入保护套并插入陶瓷插芯,固化处理后进行端面研磨,确保无崩边、无开裂、无划痕。最终产品经过严格检测,戴上防尘帽,形成紧凑美观的空芯反谐振光纤跳线。本发明通过优化切割、熔接、注胶和研磨工艺,提升了连接器的稳定性和可靠性,降低了信号传输损耗,适用于多种光纤接口,具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号:CN119756784A
公开(公告)日:2025-04-04
申请号:CN202411915923.X
申请日:2024-12-24
Applicant: 武汉长盈通光电技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种用于测量双包层增益光纤光致暗化效应的方法,涉及特种光纤领域。通过获取不同长度的双包层增益光纤在特定条件下的功率损耗数据,并搭建光致暗化效应的模型,再对每条光纤的功率变化进行处理,消除长度影响后的数据进行归一化处理,并设立目标函数,再进行模型参数优化,获得最优的不同光纤长度与对应功率的数据参考表,利用模型计算待测光纤在预设波段的功率在光致暗化前后的变化百分比,将测量结果与参考数据进行比较,若差值小于误差阈值,则视为待测光纤的有效测量结果;本发明进行了系统化的步骤,提高了数据处理的精确度,从而提高了测量双包层增益光纤的光致暗化效应的准确性和可靠性。
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公开(公告)号:CN117516871A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202311419767.3
申请日:2023-10-30
Applicant: 武汉长盈通光电技术股份有限公司
IPC: G01M11/00
Abstract: 一种测量双包层增益光纤包层泵浦吸收系数的方法,提供一种光路搭建简洁,操作步骤简单,测试光路稳定性高,测试结果精确的双包层增益光纤的包层泵浦吸收系数的测量方法;采用的是直接使用藤仓100P+熔接机自动推进进行空间耦合,极大的简化了测量的操作步骤,解决了待测双包层增益光纤直接耦合进光谱仪中因耦合距离所带来的损耗,优化了现有的双包层增益光纤包层泵浦吸收系数的测试方法。操作方法简单,较易上手操作,解决了光纤熔接时的熔接点损耗、熔接耗时、操作复杂,光路搭建繁琐,测试结果准确性低的问题。
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