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公开(公告)号：CN112213315A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202010384580.4
申请日：2020-05-08
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种外观检查管理系统、装置、方法以及存储介质，使被检查物的外观检查中的目测检查的判断效率化，且防止以目测检查为原因的检查基准的波动。外观检查管理系统包括：拍摄部件，拍摄被检查物；检查部件，基于由拍摄部件所拍摄的图像来检查被检查物；缺陷候补提取部件，从由拍摄部件所拍摄的图像中，提取相对于规定阈值而具有规定的差的范围内的特征量的值的缺陷候补图像；显示部件；以及目测检查辅助部件，在显示部件上显示图像一览显示与缺陷判定线，图像一览显示是根据各图像所具有的特征量的值来将一个以上的缺陷候补图像排列而成，缺陷判定线表示阈值，并且根据阈值将图像一览显示中的缺陷候补图像依据是否被判定为缺陷来进行划分。
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公开(公告)号：CN112129768B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202010371967.6
申请日：2020-05-06
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/89
Abstract: 本发明提供一种外观检查管理系统、装置、方法以及存储介质，支持用户进行在外观检查装置中用作缺陷判定指标的特征量的筛选、及每个特征量的阈值的设定。外观检查管理系统包括：外观检查部件，基于从拍摄被检查物所得的图像获取的特征量，来检查被检查物的缺陷；显示部件；存储部件，存储缺陷图像数据，缺陷图像数据至少包含从由外观检查部件判定为被检查物的缺陷的部位的图像获得的特征量的信息；特征量分布图制作部件，制作多个特征量分布图，特征量分布图是将特征量的信息映射到规定的坐标系中；以及特征量选择辅助部件，将特征量分布图制作部件所制作多个特征量分布图依据规定的规则配置而成的特征量俯瞰图，显示于显示部件。
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公开(公告)号：CN114207664A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202080056673.2
申请日：2020-09-02
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G06T7/00 , G06K9/62 , G06V10/764 , G06V10/774
Abstract: 本发明提供一种用于降低收集多种不同样本所耗费的成本的技术。本发明的一种方案的数据生成系统利用完成训练的第一生成器，生成包括与输入值相对应的类别的第一特征的第一伪样本，利用完成训练的第二生成器，生成包括与输入值相对应的类别的第二特征的第二伪样本，且合成生成的第一伪样本及第二伪样本，由此生成包括第一特征及第二特征的新样本。
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公开(公告)号：CN108732182A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810139060.X
申请日：2018-02-09
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种片材检查装置及检查系统。片材检查装置(1)是检查片材状的被检查物(9)的片材检查装置，包括：照明构件(31)、照明构件(32)，对所述被检查物照射光；拍摄构件(4)，利用从所述照明构件照射至所述被检查物的光的反射光和/或透射光拍摄所述被检查物的图像；异常检测构件(5)，根据对所述拍摄构件所拍摄到的图像的图像数据进行处理而获得的特征量的分布状况，检测所述被检查物中所含的异常；以及存储构件(6)，保持表示所述被检查物的无异常的部分及异常部分的所述特征量的分布状况，作为类型图；并且所述异常检测构件根据所述类型图，检测所述被检查物的异常。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105973909A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201510731461.0
申请日：2015-11-02
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/95
CPC classification number: G01N21/95
Abstract: 本发明涉及片材检查装置，提供能够以简单的结构高精度地检测片状的被检查物的正面侧的异常与背面侧的异常的技术。使用拍摄由被检查物反射的光的第一图像与拍摄透过被检查物的第二图像，检测被检查物上的异常部位。在该异常部位中，在第一图像的像素值以及第二图像的像素值都比在被检查物上无异常时的通常值降低的情况下，处理部基于第一图像的像素值的相对于通常值的降低程度与第二图像的像素值的相对于通常值的降低程度，来判别在异常部位产生的异常是异物附着或混入被检查物的第一表面侧的第一表面异物，还是异物附着或混入与第一表面相反一侧的第二表面侧的第二表面异物。
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公开(公告)号：CN112129768A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202010371967.6
申请日：2020-05-06
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/89
Abstract: 本发明提供一种外观检查管理系统、装置、方法以及存储介质，支持用户进行在外观检查装置中用作缺陷判定指标的特征量的筛选、及每个特征量的阈值的设定。外观检查管理系统包括：外观检查部件，基于从拍摄被检查物所得的图像获取的特征量，来检查被检查物的缺陷；显示部件；存储部件，存储缺陷图像数据，缺陷图像数据至少包含从由外观检查部件判定为被检查物的缺陷的部位的图像获得的特征量的信息；特征量分布图制作部件，制作多个特征量分布图，特征量分布图是将特征量的信息映射到规定的坐标系中；以及特征量选择辅助部件，将特征量分布图制作部件所制作多个特征量分布图依据规定的规则配置而成的特征量俯瞰图，显示于显示部件。
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公开(公告)号：CN105973909B
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201510731461.0
申请日：2015-11-02
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/95
Abstract: 本发明涉及片材检查装置，提供能够以简单的结构高精度地检测片状的被检查物的正面侧的异常与背面侧的异常的技术。使用拍摄由被检查物反射的光的第一图像与拍摄透过被检查物的第二图像，检测被检查物上的异常部位。在该异常部位中，在第一图像的像素值以及第二图像的像素值都比在被检查物上无异常时的通常值降低的情况下，处理部基于第一图像的像素值的相对于通常值的降低程度与第二图像的像素值的相对于通常值的降低程度，来判别在异常部位产生的异常是异物附着或混入被检查物的第一表面侧的第一表面异物，还是异物附着或混入与第一表面相反一侧的第二表面侧的第二表面异物。
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公开(公告)号：CN108693196A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810133158.4
申请日：2018-02-09
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/95
CPC classification number: G01N21/95
Abstract: 本发明提供一种片材检查装置，在利用片材状的被检查物的外观图像的片材检查装置中，即使在被检查物的种类、检查环境等已发生变化时，也可以根据所述变化后的初始状态进行高精度的检查。片材检查装置(1)包括：照明构件(31)、(33)，对片材状的被检查物(2)照射光；拍摄构件(4)，用以拍摄所述被检查物；以及异常检测构件(5)，根据对所述拍摄构件所拍摄的图像的图像数据进行处理而获得的特征量，检测所述被检查物中所含的异常；所述异常检测构件是将从合格品的图像数据获得的所述特征量的分布设为成为检查的基准的基准分布，根据所述基准分布与从所述被检查物的图像数据获得的所述特征量的分布的相对关系，来检测异常。
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公开(公告)号：CN107894430A
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：CN201710822228.2
申请日：2017-09-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/892 , G01N21/894
CPC classification number: G01N21/892 , G01N21/894 , G01N2021/8925
Abstract: 本发明提供一种能够检测片状被检查物中所含异常部位和判别异常种类的技术的片材检查装置。该片材检查装置具有：光源，对被检查物的第1面照射光；摄像传感器，被配置成，能够通过从光源照射并透射过被检查物的光来拍摄所述被检查物；处理部，基于由所述摄像传感器所获得的被检查物的图像，检测所述被检查物中所含的异常部位，并且判别在检测出的异常部位所产生的异常种类；以及输出部，输出与异常部位相关的信息，所述信息至少包含表示由处理部所判别的异常种类的信息，所述光源的光量和/或所述摄像传感器的增益经调整为，在未配置被检查物的状态下从光源直接入射至摄像传感器的光的亮度达到与摄像传感器的可计测范围的上限相同或实质上相同。
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