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公开(公告)号：CN112129768B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202010371967.6
申请日：2020-05-06
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/89
Abstract: 本发明提供一种外观检查管理系统、装置、方法以及存储介质，支持用户进行在外观检查装置中用作缺陷判定指标的特征量的筛选、及每个特征量的阈值的设定。外观检查管理系统包括：外观检查部件，基于从拍摄被检查物所得的图像获取的特征量，来检查被检查物的缺陷；显示部件；存储部件，存储缺陷图像数据，缺陷图像数据至少包含从由外观检查部件判定为被检查物的缺陷的部位的图像获得的特征量的信息；特征量分布图制作部件，制作多个特征量分布图，特征量分布图是将特征量的信息映射到规定的坐标系中；以及特征量选择辅助部件，将特征量分布图制作部件所制作多个特征量分布图依据规定的规则配置而成的特征量俯瞰图，显示于显示部件。
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公开(公告)号：CN112213315A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202010384580.4
申请日：2020-05-08
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种外观检查管理系统、装置、方法以及存储介质，使被检查物的外观检查中的目测检查的判断效率化，且防止以目测检查为原因的检查基准的波动。外观检查管理系统包括：拍摄部件，拍摄被检查物；检查部件，基于由拍摄部件所拍摄的图像来检查被检查物；缺陷候补提取部件，从由拍摄部件所拍摄的图像中，提取相对于规定阈值而具有规定的差的范围内的特征量的值的缺陷候补图像；显示部件；以及目测检查辅助部件，在显示部件上显示图像一览显示与缺陷判定线，图像一览显示是根据各图像所具有的特征量的值来将一个以上的缺陷候补图像排列而成，缺陷判定线表示阈值，并且根据阈值将图像一览显示中的缺陷候补图像依据是否被判定为缺陷来进行划分。
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公开(公告)号：CN112129768A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202010371967.6
申请日：2020-05-06
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/89
Abstract: 本发明提供一种外观检查管理系统、装置、方法以及存储介质，支持用户进行在外观检查装置中用作缺陷判定指标的特征量的筛选、及每个特征量的阈值的设定。外观检查管理系统包括：外观检查部件，基于从拍摄被检查物所得的图像获取的特征量，来检查被检查物的缺陷；显示部件；存储部件，存储缺陷图像数据，缺陷图像数据至少包含从由外观检查部件判定为被检查物的缺陷的部位的图像获得的特征量的信息；特征量分布图制作部件，制作多个特征量分布图，特征量分布图是将特征量的信息映射到规定的坐标系中；以及特征量选择辅助部件，将特征量分布图制作部件所制作多个特征量分布图依据规定的规则配置而成的特征量俯瞰图，显示于显示部件。
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