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公开(公告)号：CN117367620A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202310817629.4
申请日：2023-07-05
IPC: G01K11/322
Abstract: 温度测定装置(10)具备：光谱数据取得部(11)，取得表示通过使光入射到光纤(FUT)而产生的布里渊散射光的光谱的光谱数据；分析光谱数据而求出布里渊频移量的光谱数据分析部(12)；校正部(13)，根据光纤(FUT)的热历程预测光纤(FUT)的结构松弛所引起的布里渊频移量的变化量，使用所预测的变化量校正由光谱数据分析部(12)求出的布里渊频移量；以及基于由校正部(13)校正的布里渊频移量求出光纤(FUT)的温度的温度计算部(14)。
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公开(公告)号：CN118776599A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202410421519.0
申请日：2024-04-09
Applicant: 横河电机株式会社
Inventor： 熊谷芳宏
Abstract: 本发明涉及一种测定装置、测定方法以及计算机可读取的记录介质，抑制测定对象物的特性的测定位置精度降低。光纤特性测定装置(100)从设置于被测定物(S)的光纤FUT的测定位置获取布里渊频移(BFS)，通过将获取的BFS变换为温度而生成光纤FUT的长度方向的温度分布，基于所生成的温度分布对光纤FUT的物性变化进行计算，基于计算出的物性变化对光纤FUT的测定位置进行校正。
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公开(公告)号：CN103328933A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201280005593.X
申请日：2012-01-27
Applicant: 国立大学法人东京大学 , 三菱重工业株式会社 , 横河电机株式会社
CPC classification number: G01M11/33 , G01D5/35348 , G01M11/39
Abstract: 一种光纤特性测定装置，其具有：光源，其射出以规定的调制频率调制后的激光；入射单元，其使来自该光源的激光成为连续光及脉冲光而分别从光纤的一端及另一端入射；以及光检测器，其检测从所述光纤射出的光，该光纤特性测定装置利用该光检测器的检测结果，测定所述光纤的特性，其特征在于，具有同步检波装置，其从所述光检测器输出的检测信号中，提取出对在所述光纤中设定的测定点附近的光进行检测而得到的检测信号，利用具有规定周期的同步信号，对提取出的检测信号进行同步检波。
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公开(公告)号：CN115867782A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202180047743.2
申请日：2021-06-29
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01M11/02
Abstract: 光纤特性测定装置(1)具有：光检测部(16)，其对使光向被测定光纤(FUT)射入而获得的布里渊散射光(LS)进行检测；信号处理部(18b)，其基于从所述光检测部输出的检测信号(S1)而获得第1布里渊增益频谱(B1)以及第2布里渊增益频谱(B2)，该第1布里渊增益频谱(B1)是在向所述被测定光纤射入的光的频谱宽度为第1宽度的情况下获得的所述布里渊散射光的频谱，该第2布里渊增益频谱(B2)是在向所述被测定光纤射入的光的频谱宽度为大于所述第1宽度的第2宽度的情况下获得的所述布里渊散射光的频谱；以及测定部(18c)，其基于所述第1布里渊增益频谱及所述第2布里渊增益频谱，对所述被测定光纤的特性进行测定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103328933B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201280005593.X
申请日：2012-01-27
Applicant: 国立大学法人东京大学 , 三菱重工业株式会社 , 横河电机株式会社
CPC classification number: G01M11/33 , G01D5/35348 , G01M11/39
Abstract: 一种光纤特性测定装置，其具有：光源，其射出以规定的调制频率调制后的激光；入射单元，其使来自该光源的激光成为连续光及脉冲光而分别从光纤的一端及另一端入射；以及光检测器，其检测从所述光纤射出的光，该光纤特性测定装置利用该光检测器的检测结果，测定所述光纤的特性，其特征在于，具有同步检波装置，其从所述光检测器输出的检测信号中，提取出对在所述光纤中设定的测定点附近的光进行检测而得到的检测信号，利用具有规定周期的同步信号，对提取出的检测信号进行同步检波。
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公开(公告)号：CN119998632A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202380072177.X
申请日：2023-09-22
Applicant: 横河电机株式会社
Abstract: 光纤特性测量装置（1）具备：光源（11），射出以规定的调制频率调制后的激光；入射部（12、13、15、16），使激光作为探测光（L1）及泵浦光（L2）分别从光纤（14）的一端以及另一端入射；光检测部（17），具有光电转换元件、电流源以及放大电路，检测从光纤（14）射出的光；测量部（18），使用从光检测部（17）输出的检测信号（D1）来测量光纤（14）的特性；以及电流源控制部（19），基于包含探测光（L1）但不包含布里渊散射光的光从光纤（14）射出的期间即非含有期间中的光检测部（17）的检测结果来控制电流源。
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公开(公告)号：CN112654840B
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN201980057801.2
申请日：2019-08-26
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01D5/353
Abstract: 光纤特性测定装置(1)具有：光源部(11)，其将频率调制后的激光输出；入射部(12、13、14、15)，其使得从光源部输出的激光作为连续光(L1)以及脉冲光(L2)而分别从被测定光纤(FUT)的一端及另一端射入；光检测部(16)，其对从被测定光纤射出的光进行检测并将检测信号(D1)输出；以及检波部(17、18a)，其基于在能够从被测定光纤射出基于连续光以及脉冲光的散射光的第1期间(T1)、以及比第1期间短的期间且无法从被测定光纤射出散射光的第2期间(T2)的各期间内，以规定时间对检测信号进行积分所得的积分值而对散射光进行检波。
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公开(公告)号：CN115683554A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202210876343.9
申请日：2022-07-25
Applicant: 横河电机株式会社
Inventor： 熊谷芳宏
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明提供一种光纤特性测定系统。光纤特性测定系统包括：光纤特性测定装置，包括出射端口和入射出射端口，所述出射端口射出探测光，所述入射出射端口与被测定光纤的一端连接，射出泵浦光，并且入射在所述被测定光纤中产生的受激布里渊散射光；第一光纤，一端与所述出射端口连接，将所述探测光向所述被测定光纤的另一端引导；以及光隔离器，设置在所述第一光纤的另一端与所述被测定光纤的另一端之间，使由所述第一光纤引导的所述探测光入射到所述被测定光纤的另一端。
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公开(公告)号：CN112654840A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201980057801.2
申请日：2019-08-26
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01D5/353
Abstract: 光纤特性测定装置(1)具有：光源部(11)，其将频率调制后的激光输出；入射部(12、13、14、15)，其使得从光源部输出的激光作为连续光(L1)以及脉冲光(L2)而分别从被测定光纤(FUT)的一端及另一端射入；光检测部(16)，其对从被测定光纤射出的光进行检测并将检测信号(D1)输出；以及检波部(17、18a)，其基于在能够从被测定光纤射出基于连续光以及脉冲光的散射光的第1期间(T1)、以及比第1期间短的期间且无法从被测定光纤射出散射光的第2期间(T2)的各期间内，以规定时间对检测信号进行积分所得的积分值而对散射光进行检波。
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