公开(公告)号：CN119311501A

公开(公告)日：2025-01-14

申请号：CN202410918562.8

申请日：2024-07-10

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 胁隼人 ,  五十岚正治

IPC: G06F11/263 ,  G11C29/38 ,  G11C29/56

Abstract: 本发明涉及一种准确地判定存储器的故障的有无的数据处理装置、存储器故障判定方法以及记录介质。在数据处理装置(11)中，第一缓冲存储器(RM1)、第二缓冲存储器(MM1)、第三缓冲存储器(RM2)以及第四缓冲存储器(MM2)的各缓冲存储器(BM)，对由多位形成的数据进行存储，CPU(11A)从缓冲存储器(BM)读出数据，进行针对多位的位反转而生成多位的各位的值反转之后的位反转数据，在第一时刻将位反转数据写入至缓冲存储器(BM)，在第一时刻之后的第二时刻从缓冲存储器(BM)读出位反转数据，对在第一时刻写入至缓冲存储器(BM)的位反转数据即第一数据、和在第二时刻从缓冲存储器(BM)读出的位反转数据即第二数据进行对比，由此判定缓冲存储器(BM)的故障的有无。

公开(公告)号：CN108571996A

公开(公告)日：2018-09-25

申请号：CN201810186118.6

申请日：2018-03-07

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 吉川昌秀 ,  江藤友明 ,  五十岚正治 ,  野坂祐一

IPC: G01D18/00 ,  G01N27/00

Abstract: 一种传感器校正装置，其是对传感器装置进行校正的传感器校正装置，该传感器校正装置具有：传感器读取部，其从参考传感器读取通过所述参考传感器检测出的设为校正基准的物理量；以及传感器管理部，其将通过所述传感器读取部读取的所述物理量变换为基准测定值，并且取得通过由所述传感器装置对所述物理量进行测定而取得的校正对象测定值，将基于所述基准测定值和所述校正对象测定值的校正指示输出至所述传感器装置。