公开(公告)号：CN108571996A

公开(公告)日：2018-09-25

申请号：CN201810186118.6

申请日：2018-03-07

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 吉川昌秀 ,  江藤友明 ,  五十岚正治 ,  野坂祐一

IPC: G01D18/00 ,  G01N27/00

Abstract: 一种传感器校正装置，其是对传感器装置进行校正的传感器校正装置，该传感器校正装置具有：传感器读取部，其从参考传感器读取通过所述参考传感器检测出的设为校正基准的物理量；以及传感器管理部，其将通过所述传感器读取部读取的所述物理量变换为基准测定值，并且取得通过由所述传感器装置对所述物理量进行测定而取得的校正对象测定值，将基于所述基准测定值和所述校正对象测定值的校正指示输出至所述传感器装置。

公开(公告)号：CN108507608A

公开(公告)日：2018-09-07

申请号：CN201810153814.7

申请日：2018-02-22

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 吉川昌秀 ,  野坂祐一

IPC: G01D21/00 ,  G08C17/02 ,  G08C19/00 ,  G06Q10/00

Abstract: 一种传感器管理模块，其能够在传感器仪器中与传感器接合，该传感器管理模块具有：传感器ID读取部，其从所述传感器取得用于对所述传感器进行识别的传感器识别信息；以及传感器管理部，其在所述传感器ID读取部能够取得所述传感器识别信息的情况下，对由所述传感器ID读取部取得的所述传感器识别信息进行存储，在所述传感器ID读取部无法取得所述传感器识别信息的情况下，新生成用于对所述传感器进行识别的唯一的新制识别信息而作为所述传感器识别信息进行存储。