一种晶闸管门极与阴极隔离的制造方法

    公开(公告)号:CN1828847A

    公开(公告)日:2006-09-06

    申请号:CN200610031192.8

    申请日:2006-01-25

    Abstract: 本发明公开了一种晶闸管门极与阴极隔离的制造方法,包括晶闸管的芯片准备(1)、测试(12)和封装(14),在测试(12)之前进行的步骤是,掩膜挡片和封装垫片制作(2),掩膜挡片安装(3),对准掩膜图形进行芯片安装(4),第一次蒸发(5),取下掩膜挡片和芯片(6),再一次进行芯片安装(7),第二次蒸发(8),常规工艺退火(9),刻蚀(10),台面造型与保护(11),在封装(14)之前,进行防止电迁移的封装垫片安装(13)。本发明采用掩膜、蒸发和光刻技术相结合的工艺方法,不需要粘贴阴极导电片就实现了门极、放大门极与阴极的隔离,有效地防止器件在其后的测试封装过程中受到损伤。适合晶闸管制造商或生产企业采用。

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