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公开(公告)号：CN113924628B
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN201980096845.6
申请日：2019-07-18
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 一种分光元件，其具备：对X射线进行分光的分光晶体(10)；支撑上述分光晶体(10)的第1支撑层(11)；和，支撑上述第1支撑层(11)的第2支撑层(12)，上述第1支撑层(11)具有比上述分光晶体(10)的热膨胀系数大的热膨胀系数，上述第2支撑层(12)具有比上述第1支撑层(11)的热膨胀系数小的热膨胀系数且具有比上述第1支撑层(11)的刚性大的刚性。
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公开(公告)号：CN111656171A
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN201880087778.7
申请日：2018-02-21
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N23/203
Abstract: 化学状态分析装置(10)具备：激发源(11)，其向包含电池材料的试样(S)中的规定面内的照射区域(A)照射用于使该电池材料产生特征X射线的激发射线；分光晶体(13)，其由面向照射区域(A)设置的平板构成；狭缝(12)，其设置于照射区域(A)与分光晶体(13)之间，且与照射区域(A)及分光晶体(13)的规定的晶面平行；X射线线性传感器(15)，其是在平行于该狭缝的方向上具有长度的线状的检测元件(151)以沿垂直于狭缝(12)的方向排列的方式设置而成的；波长谱制作部(161)，其基于X射线线性传感器(15)检测出的特征X射线的强度来制作波长谱；峰值波长决定部(162)，其求出峰值波长，该峰值波长是所述波长谱的峰值处的波长；以及化学状态确定部(163)，其根据由峰值波长决定部(162)求出的峰值波长、以及标准曲线来求出用于确定试样(S)中的电池材料的化学状态的值，该标准曲线表示峰值波长与代表试样S中的电池材料的化学状态的值之间的关系。
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公开(公告)号：CN106165053A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201480059512.3
申请日：2014-11-19
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 使用具备厚度为10nm以上的钝化膜(33a)的金属作为用以在真空中产生电场的金属电极(聚焦杯电极)(33)。由不锈钢形成金属电极(33)，将所述不锈钢浸渍在处理液中进行皮膜处理(钝化处理)，由此，能够将钝化膜(33a)形成得比10nm更厚。这样，因为钝化膜(33a)比10nm更厚，所以表面均一且密接性优异，针孔也少，因此，能够提高耐电压性能。
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公开(公告)号：CN115023606A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202080094677.X
申请日：2020-10-15
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N23/223 , G01N23/20008 , G01N23/2209
Abstract: 在荧光X射线分析装置(1)中，在被壳体(10a)覆盖的分析室(10)的内部设置有：X射线管(11)；分光晶体(13)，其将从试样(12)发出的荧光X射线进行分光；X射线检测器(14)，其检测由分光晶体(13)进行分光后的荧光X射线；暖风产生器(20)，其产生用于将分光晶体(13)的温度维持为目标温度的暖风；以及帕尔贴元件(30)，其将X射线检测器(14)进行冷却。
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公开(公告)号：CN110678743B
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN201780090533.5
申请日：2017-05-18
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N23/223 , G01N23/207
Abstract: 一种X射线分光分析装置，具备：激发源(12)，向试样(S)的照射区域(A)照射激发线；衍射部件(14)，设置为面向照射区域(A)；狭缝部件(13)，设置在照射区域(A)和衍射部件(13)之间，具有与照射区域(A)及衍射部件(14)的规定的面平行的狭缝；X射线线性传感器(15)，具有在与狭缝的长度方向垂直的方向上排列有多个检测元件而形成的光入射面；第1移动机构，在与所述长度方向垂直的面内使所述衍射部件移动，从而变更所述试样表面与所述规定的面所成的角度、或/和所述试样表面与所述规定的面之间的距离；第2移动机构，在与所述长度方向垂直的面内使所述X射线线性传感器移动，从而使该X射线线性传感器位于通过所述狭缝而在所述规定的面衍射的特征X射线的路径上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109561864B
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN201780046916.2
申请日：2017-07-10
Applicant: 株式会社岛津制作所 , 国立大学法人大阪大学
IPC: A61B6/00 , G01N23/041
Abstract: 本X射线相位差摄像装置(100)具备：X射线源(1)，其照射连续X射线；第一光栅(3)，其用于形成自身像；第二光栅(4)；检测部(5)，其检测连续X射线；以及第三光栅(2)，其配置在检测部(5)与第一光栅(3)之间。而且，以满足规定的式的条件的方式配置第一光栅(3)、第二光栅(4)以及第三光栅(2)。
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公开(公告)号：CN109475335A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201780044614.1
申请日：2017-07-10
Applicant: 株式会社岛津制作所 , 国立大学法人大阪大学
IPC: A61B6/00
Abstract: 该X射线相位差摄像装置(100)具备：X射线源(1)；第一光栅(3)，其用于形成自身像；第二光栅(4)；检测部(5)，其检测X射线；调整机构(6)；以及控制部(7)，其进行基于由检测部(5)检测出的莫尔条纹图案来调整第一光栅(3)的位置偏移或第二光栅(4)的位置偏移的控制。
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公开(公告)号：CN109328035B
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN201780037450.X
申请日：2017-03-15
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00 , G01N23/046
Abstract: 提供一种即使不事先进行无被摄体的摄影也能够进行准确的成像的放射线摄影装置。根据本发明，能够提供一种即使不事先进行无被摄体的摄影也能够进行准确的成像的放射线摄影装置。即，本发明的装置设置有相位光栅(5)，该相位光栅(5)设置有被摄体用区域和参照区域。虽然在任一个区域中均设置有用于吸收放射线的规定图案，但其图案不同。在该区域观察到长周期的莫尔纹状的相位光栅(5)的像。该长周期的莫尔纹状的像的位置由于相位光栅(5)与吸收光栅(6)的相对位置的细微变化而改变，因此能够从参照区域的图像检测放射线源、相位光栅(5)以及吸收光栅(6)的相对位置的细微变化。
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公开(公告)号：CN109788928B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN201780059883.5
申请日：2017-07-28
Applicant: 株式会社岛津制作所 , 国立大学法人大阪大学
IPC: A61B6/00 , G01N23/041
Abstract: 提供一种能够支持多种拍摄目的的X射线相位差摄影装置。本发明的装置能够变更多缝(3b)的狭缝的排列间距以及相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距。多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系由多缝(3b)的狭缝的排列间距、相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距、以及FPD(4)的检测元件的排列间距来决定。根据本发明，通过变更其中的狭缝的排列间距和相位移位部(5a)的排列间距，能够变更多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系。
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公开(公告)号：CN109788928A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201780059883.5
申请日：2017-07-28
Applicant: 株式会社岛津制作所 , 国立大学法人大阪大学
Abstract: 提供一种能够支持多种拍摄目的的X射线相位差摄影装置。本发明的装置能够变更多缝(3b)的狭缝的排列间距以及相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距。多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系由多缝(3b)的狭缝的排列间距、相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距、以及FPD(4)的检测元件的排列间距来决定。根据本发明，通过变更其中的狭缝的排列间距和相位移位部(5a)的排列间距，能够变更多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系。
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