干燥机及干燥机用光谱分析装置

    公开(公告)号:CN109073545B

    公开(公告)日:2021-12-24

    申请号:CN201780023223.1

    申请日:2017-04-13

    Abstract: 一种干燥机及干燥机用光谱分析装置,其精度良好地测定谷物的水分量。干燥机具备使谷物干燥的干燥部和由光谱分析来测定通过了所述干燥部的流动的谷物的水分量的光谱分析装置,所述光谱分析装置具有透过板、投光部和受光部,所述透过板具有谷物通过的通过面,且可透过光,所述投光部从所述通过面的相反侧向所述透过板照射光,所述受光部经所述透过板接收通过所述通过面的谷物的反射光,所述通过面遍及所述投光部和所述受光部地齐平。

    光学式谷粒评价装置及具备所述光学式谷粒评价装置的联合收割机

    公开(公告)号:CN106461545B

    公开(公告)日:2019-07-09

    申请号:CN201580028845.4

    申请日:2015-08-14

    Inventor: 森本进 添正夫

    Abstract: 光学式谷粒评价装置具备:投光部(58),其将来自光源的光向谷粒照射;受光部(59),其供透过谷粒的光入射;谷粒评价部(60),其基于接收到的光的信息评价谷粒;遮蔽部(SH),其将光源(50)和投光部(59)之间的区域与受光部(59)和谷粒评价部(60)之间的区域隔离开,阻止光从投光部(58)直接向受光部(59)入射;光源(50)和投光部(58)之间的区域以及受光部(59)和谷粒评价部(60)之间的区域的全部区域构成为光在空气中传播的空气传播区域。

    光学式谷粒评价装置及具备所述光学式谷粒评价装置的联合收割机

    公开(公告)号:CN106461545A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201580028845.4

    申请日:2015-08-14

    Inventor: 森本进 添正夫

    Abstract: 光学式谷粒评价装置具备:投光部(58),其将来自光源的光向谷粒照射;受光部(59),其供透过谷粒的光入射;谷粒评价部(60),其基于接收到的光的信息评价谷粒;遮蔽部(SH),其将光源(50)和投光部(59)之间的区域与受光部(59)和谷粒评价部(60)之间的区域隔离开,阻止光从投光部(58)直接向受光部(59)入射;光源(50)和投光部(58)之间的区域以及受光部(59)和谷粒评价部(60)之间的区域的全部区域构成为光在空气中传播的空气传播区域。

    测量装置及基板搭载装置

    公开(公告)号:CN110832290B

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN201880042514.X

    申请日:2018-06-12

    Abstract: 提供能够抑制灰尘对分光器的检测造成的影响的测量装置。测量装置具备向测量物照射光的光源、产生对光源进行冷却的冷却风的冷却风扇、以及对测量物的反射光进行分光并检测,且配置于冷却风流动的流通路上的分光器。另外,优选测量装置具有收容光源和分光器的壳体和使反射光透过到壳体内的受光部,分光器具有使透过了受光部的反射光入射的入射部,冷却风扇产生能够在分光器的入射部侧流通的冷却风。

    测量装置及基板搭载装置

    公开(公告)号:CN110832290A

    公开(公告)日:2020-02-21

    申请号:CN201880042514.X

    申请日:2018-06-12

    Abstract: 提供能够抑制灰尘对分光器的检测造成的影响的测量装置。测量装置具备向测量物照射光的光源、产生对光源进行冷却的冷却风的冷却风扇、以及对测量物的反射光进行分光并检测,且配置于冷却风流动的流通路上的分光器。另外,优选测量装置具有收容光源和分光器的壳体和使反射光透过到壳体内的受光部,分光器具有使透过了受光部的反射光入射的入射部,冷却风扇产生能够在分光器的入射部侧流通的冷却风。

    干燥机及干燥机用光谱分析装置

    公开(公告)号:CN109073545A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201780023223.1

    申请日:2017-04-13

    Abstract: 一种干燥机及干燥机用光谱分析装置,其精度良好地测定谷物的水分量。干燥机具备使谷物干燥的干燥部和由光谱分析来测定通过了所述干燥部的流动的谷物的水分量的光谱分析装置,所述光谱分析装置具有透过板、投光部和受光部,所述透过板具有谷物通过的通过面,且可透过光,所述投光部从所述通过面的相反侧向所述透过板照射光,所述受光部经所述透过板接收通过所述通过面的谷物的反射光,所述通过面遍及所述投光部和所述受光部地齐平。

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