半导体装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103123932B

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201210458371.5

    申请日:2012-11-14

    Abstract: 本发明提供一种在常闭状态下工作并具备高耐压和低导通电阻的半导体装置。在半导体装置(1)中,漏极(21)构成为可与形成于第一异质结面(32)的二维电子气层电连接,源极(29)构成为可与形成于第一异质结面(32)的二维电子气层电绝缘且构成为可与形成于第二异质结面(34)的二维电子气层电连接,栅极部(28)与第二异质结面(34)相向,导通电极(25)构成为可与形成于第一异质结面(32)的二维电子气层及形成于第二异质结面(34)的二维电子气层这两者电连接。形成于第一异质结面(32)的二维电子气层的电子浓度比形成于第二异质结面(34)的二维电子气层的电子浓度大。

    半导体装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103123932A

    公开(公告)日:2013-05-29

    申请号:CN201210458371.5

    申请日:2012-11-14

    Abstract: 本发明提供一种在常闭状态下工作并具备高耐压和低导通电阻的半导体装置。在半导体装置(1)中,漏极(21)构成为可与形成于第一异质结面(32)的二维电子气层电连接,源极(29)构成为可与形成于第一异质结面(32)的二维电子气层电绝缘且构成为可与形成于第二异质结面(34)的二维电子气层电连接,栅极部(28)与第二异质结面(34)相向,导通电极(25)构成为可与形成于第一异质结面(32)的二维电子气层及形成于第二异质结面(34)的二维电子气层这两者电连接。形成于第一异质结面(32)的二维电子气层的电子浓度比形成于第二异质结面(34)的二维电子气层的电子浓度大。

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