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公开(公告)号:CN1580690A
公开(公告)日:2005-02-16
申请号:CN200410056377.5
申请日:2004-08-04
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B21/045 , G01B21/10
Abstract: 本发明提供一种测量方法和测量装置。以代入用于修正测量装置固有的几何的测量误差的修正计算式中的设计值中的多个设计值为变量,通过数值解法将该变量最优化,并使用所得到的最优化修正计算式运算测量值。变量的最优化是,通过测量标准工件,并调整变量以使测量误差最小而完成的。
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公开(公告)号:CN100549612C
公开(公告)日:2009-10-14
申请号:CN200410056377.5
申请日:2004-08-04
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B21/045 , G01B21/10
Abstract: 本发明提供一种测量方法和测量装置。以代入用于修正测量装置固有的几何的测量误差的修正计算式中的设计值中的多个设计值为变量,通过数值解法将该变量最优化,并使用所得到的最优化修正计算式运算测量值。变量的最优化是,通过测量标准工件,并调整变量以使测量误差最小而完成的。
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公开(公告)号:CN1292223C
公开(公告)日:2006-12-27
申请号:CN03127463.3
申请日:2003-08-07
Applicant: 株式会社东京精密
Inventor: 小栗正明
Abstract: 一种数字测量头,该使接触件(14)与工件(W)相接触来进行测定的测定装置的测量头结构,由以支点为中心旋转地被支撑的臂(12)、前端具有接触件(14)并被安装在臂的前端部的指杆(13)、和被设在臂(12)的后端部的标尺(15)或读取头(16)构成,并由标尺(15)与读取头(16)检测与工件(W)相接触的接触件(14)的变位。这种数字测量头,可进行宽范围的测定,启动特性和温度特性优越,并且用于指示尺寸的校正的校正规、仅在最初调整时使用。
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公开(公告)号:CN1483992A
公开(公告)日:2004-03-24
申请号:CN03127463.3
申请日:2003-08-07
Applicant: 株式会社东京精密
Inventor: 小栗正明
Abstract: 一种数字测量头,该使接触件(14)与工件(W)相接触来进行测定的测定装置的测量头结构,由以支点为中心旋转地被支撑的臂(12)、前端具有接触件(14)并被安装在臂的前端部的指杆(13)、和被设在臂(12)的后端部的标尺(15)或读取头(16)构成,并由标尺(15)与读取头(16)检测与工件(W)相接触的接触件(14)的变位。这种数字测量头,可进行宽范围的测定,启动特性和温度特性优越,并且用于指示尺寸的校正的校正规、仅在最初调整时使用。
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