公开(公告)号：CN1080422C

公开(公告)日：2002-03-06

申请号：CN96123494.6

申请日：1996-11-29

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 森本正通 ,  O·博兹马 ,  秦纯一

IPC: G06K9/00

CPC classification number: G06K9/38 ,  G06T7/11 ,  G06T7/194 ,  G06T2207/30141

Abstract: 一种元件检测方法和装置，存在辉度数据储存装置中的辉度数据按其增加顺序重新安排。通过二次微分相对辉度数据数据号的辉度轮廓的辉度数据形成辉度数据二次微分表。在零交叉点的数据号从该微分表可检测到，在零交叉点，二次微分数据在通过零的正负之间变化。根据对应零交叉点的数据号的辉度轮廓的辉度数据确定阈值。即使极识别元件是脏的或本底辉度或多或少变化时，该方法和装置也能从有适当阈值的本底检测出元件图象。

公开(公告)号：CN1160986A

公开(公告)日：1997-10-01

申请号：CN96123494.6

申请日：1996-11-29

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 森本正通 ,  O·博兹马 ,  秦纯一

IPC: H05K13/08

CPC classification number: G06K9/38 ,  G06T7/11 ,  G06T7/194 ,  G06T2207/30141

Abstract: 一种元件检测方法和装置，存在辉度数据储存装置中的辉度数据按其增加顺序重新安排。通过二次微分相对辉度数据数据号的辉度轮廓的辉度数据形成辉度数据二次微分表。在零交叉点的数据号从该微分表可检测到，在零交叉点，二次微分数据在通过零的正负之间变化。根据对应零交叉点的数据号的辉度轮廓的辉度数据确定阈值。即使被识别元件是脏的或本底辉度或多或少变化时，该方法和装置也能从有适当阈值的本底检测出元件图象。