加热冷却试验方法及加热冷却试验装置

    公开(公告)号:CN102680345A

    公开(公告)日:2012-09-19

    申请号:CN201210063004.5

    申请日:2012-03-02

    IPC分类号: G01N3/60 G01N25/00

    摘要: 本发明提供一种在升温步骤中能简单地进行升温而不使用珀耳帖元件的加热冷却试验方法及加热冷却试验装置。加热冷却试验方法用于对安装有电子元器件(6a~6e)的电路基板进行评价,包括使电子元器件升温的升温步骤、使电子元器件冷却的冷却步骤、及交替重复升温步骤和冷却步骤的重复步骤,其中,升温步骤中,通过对装载在电子元器件上的激光吸收体(7a、7b、7c、7e)照射激光束(3a、3b、3c、3e)以进行加热,从而使电子元器件升温。