公开(公告)号：CN102822113A

公开(公告)日：2012-12-12

申请号：CN201180018437.2

申请日：2011-04-11

Applicant: 达泰豪化学工业株式会社 ,  松下电器产业株式会社

Inventor： 龟井忠辅 ,  辻田卓司 ,  桥本润 ,  岛村隆之 ,  后藤真志

IPC: C04B35/01 ,  C04B35/622 ,  C23C14/24 ,  H01J9/02 ,  H01J11/40

CPC classification number: C04B35/04 ,  C04B35/053 ,  C04B2235/3205 ,  C04B2235/3208 ,  C04B2235/3213 ,  C04B2235/3215 ,  C04B2235/3217 ,  C04B2235/3224 ,  C04B2235/3225 ,  C04B2235/3229 ,  C04B2235/3241 ,  C04B2235/3244 ,  C04B2235/44 ,  C04B2235/442 ,  C04B2235/5436 ,  C04B2235/5445 ,  C04B2235/94 ,  C04B2235/95 ,  C23C14/3414 ,  H01J9/02 ,  H01J11/40 ,  H01J2211/40 ,  Y10T428/21

Abstract: 本发明提供能够抑制在成膜时发生飞溅且不易在成膜装置的供给口发生堵塞的氧化镁烧结体、使用该烧结体得到的PDP的保护膜用蒸镀材料以及上述烧结体的制造方法。该氧化镁烧结体包含氧化镁和3～50质量%的镁以外的元素周期表第IIA族元素的氧化物，根据需要包含1000ppm以下的选自铝、钇、铈、锆、钪和铬中的一种或两种以上的元素，该氧化镁烧结体的形状为圆板状、椭圆板状、多边形板状或半月板状，或者为在立方体或长方体的顶点带有弧度的形状。

公开(公告)号：CN103733728A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201380002539.4

申请日：2013-02-22

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 岛村隆之 ,  林田芳树 ,  盐田昭教 ,  土田臣弥

IPC: H05B33/12 ,  G09F9/00 ,  G09F9/30 ,  H01L27/32 ,  H01L51/50 ,  H05B33/10

CPC classification number: G01R31/44 ,  G09G3/3208 ,  H01L22/14 ,  H01L51/5203 ,  H01L51/56 ,  H01L2251/568

Abstract: 本发明提供一种对具有第一电极（12）、第二电极（17）、夹在第一电极（12）和第二电极（17）之间的功能层（16）以及发光层（15）的有机EL元件进行的缺陷监测方法。所述缺陷检测方法包括：暗点显在化工序，通过在第一电极（12）和第二电极（17）之间施加用于使暗点显在化的电压，所述暗点是发光层（15）成为不发光的点，从而在有机EL元件在第一电极（12）和第二电极（17）之间具有成为引起不发光的原因的缺陷部（3）的情况下，使功能层（16）的与缺陷部（3）对应的第一部分（16c）的电阻下降；和暗点检测工序，在暗点显在化工序之后，在第一电极和第二电极之间施加如果是没有缺陷部的正常的有机EL元件的情况下它是会发光的电压即发光所需电压，对暗点进行检测。

公开(公告)号：CN101965622A

公开(公告)日：2011-02-02

申请号：CN200980108299.X

申请日：2009-12-14

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 桥本润 ,  后藤真志 ,  武田英治 ,  岛村隆之

IPC: H01J11/02

CPC classification number: H01J11/40 ,  H01J11/12

Abstract: 一种等离子显示面板，具有：按照覆盖形成在前面玻璃基板(3)上的显示电极(6)的方式形成电介体层(8)，并且在电介体层(8)上形成了保护层(9)的前面板；和按照形成填充放电气体的放电空间的方式与前面板对置配置，且沿与显示电极(6)交叉的方向形成地址电极，并设置有对放电空间进行划分的隔壁的背面板，其中，保护层(9)通过由氧化镁和氧化钙构成的金属氧化物形成，并含有铝，在对保护层(9)的面的X射线衍射分析中，发生金属氧化物的峰值的衍射角存在于发生氧化镁的峰值的衍射角与发生氧化钙的峰值的衍射角之间。