-
公开(公告)号:CN102714195A
公开(公告)日:2012-10-03
申请号:CN201080056847.1
申请日:2010-12-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L23/433 , H01L23/3128 , H01L23/3675 , H01L23/42 , H01L23/49816 , H01L23/49838 , H01L24/48 , H01L24/73 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/48225 , H01L2224/48227 , H01L2224/73204 , H01L2224/73253 , H01L2224/73265 , H01L2924/00014 , H01L2924/09701 , H01L2924/15174 , H01L2924/15192 , H01L2924/15311 , H01L2924/16251 , H01L2924/1815 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45099 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
Abstract: 本发明提供一种可靠性高的半导体装置,可将组件壳体的温度上升抑制在容许范围内,能够避免由散热部件的热膨胀对封装基板的部件的影响。该半导体装置具备半导体元件(1)、封装基板(2)和散热部件(4),半导体元件(1)的第1主面(1a)配置成与封装基板(2)的元件载置面(2a)相对置,从而连接于封装基板(2),散热部件(4)的主面部(4a)经由热传导部件(4)与相当于半导体元件(1)的第1主面(1a)的背面的第2主面(1b)连接,并且,其外周的固定部(4b)由粘合剂(6)固定在封装基板(2)的元件载置面(2a)的固定区(2c),形成于封装基板(2)的布线(14)在固定区(2c)的涂布了粘合剂(6)的区域形成在元件载置面(2a)以外的面。
-
公开(公告)号:CN102714195B
公开(公告)日:2015-05-06
申请号:CN201080056847.1
申请日:2010-12-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L23/433 , H01L23/3128 , H01L23/3675 , H01L23/42 , H01L23/49816 , H01L23/49838 , H01L24/48 , H01L24/73 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/48225 , H01L2224/48227 , H01L2224/73204 , H01L2224/73253 , H01L2224/73265 , H01L2924/00014 , H01L2924/09701 , H01L2924/15174 , H01L2924/15192 , H01L2924/15311 , H01L2924/16251 , H01L2924/1815 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45099 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
Abstract: 本发明提供一种可靠性高的半导体装置,可将组件壳体的温度上升抑制在容许范围内,能够避免由散热部件的热膨胀对封装基板的部件的影响。该半导体装置具备半导体元件(1)、封装基板(2)和散热部件(4),半导体元件(1)的第1主面(1a)配置成与封装基板(2)的元件载置面(2a)相对置,从而连接于封装基板(2),散热部件(4)的主面部(4a)经由热传导部件(4)与相当于半导体元件(1)的第1主面(1a)的背面的第2主面(1b)连接,并且,其外周的固定部(4b)由粘合剂(6)固定在封装基板(2)的元件载置面(2a)的固定区(2c),形成于封装基板(2)的布线(14)在固定区(2c)的涂布了粘合剂(6)的区域形成在元件载置面(2a)以外的面。
-