公开(公告)号：CN217506040U

公开(公告)日：2022-09-27

申请号：CN202123456958.6

申请日：2021-12-31

Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司

Inventor： 彭江 ,  赵勇

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请提供一种PCBA测试装置，所述PCBA测试装置包括基壳、盖板、微动开关、测试模块和散热元件，所述盖板以可运动的方式安装于所述基壳，具有闭合状态和打开状态，所述基壳与所述盖板围成用于容纳待测PCBA的容置空间；所述微动开关设置在所述基壳或所述盖板，并在所述闭合状态被所述基壳与所述盖板中的另一个所按压；所述微动开关电连接所述测试模块与所述散热元件。待测PCBA板固定于所述测试装置后，所述微动开关通过盖板的闭合状态/打开状态控制所述待测PCBA板和散热元件开启/关闭。通过PCBA测试装置直接对PCBA板进行测试，筛选出故障品，降低整机完成安装后PCBA板的频繁拆装导致风险，减少了成本浪费。

公开(公告)号：CN212622693U

公开(公告)日：2021-02-26

申请号：CN202021010426.2

申请日：2020-06-04

Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司

Inventor： 赵勇 ,  杨小会

IPC: G01R1/04 ,  G01R31/00 ,  G05D23/20

Abstract: 本申请提供一种测试柜。测试柜包括：柜体，所述柜体包括容置空间，所述容置空间用于放置待测试产品；自动化测试组件，所述自动化测试组件与所述待测试产品电连接，所述自动化测试组件用于测试所述待测试产品的配置端口的功能情况；老化测试组件，所述老化测试组件用于调节所述柜体内的测试温度。