一种寄生电容的计算方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN117524908B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202311430050.9

    申请日:2023-10-31

    IPC分类号: H01L21/66 G06F30/39

    摘要: 本申请提供了一种寄生电容的计算方法、装置及电子设备;所述方法包括:获取目标版图中的第一模式版图,以所述第一模式版图中每一导体为主导体计算获得所述第一模式版图中的寄生电容信息;获取目标版图中的第二模式版图,其中,所述第二版图模式包括第一导体以及第一相邻层中与所述第一导体具有重叠覆盖区域的至少两个导体;确定所述第一相邻层中的至少一个第二导体,以每一所述第二导体为主导体计算获得所述第二模式版图中的寄生电容信息;至少根据所述第一模式版图的寄生电容信息以及所述第二模式版图的寄生电容信息确定所述目标版图的寄生电容信息。本申请提供的寄生电容的计算方法提高了寄生电容的计算速度。

    电路版图数据读取方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN118132779A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202311757730.1

    申请日:2023-12-19

    IPC分类号: G06F16/53 G06F16/51

    摘要: 本申请提供了一种电路版图数据读取方法、装置及电子设备;所述方法包括:在电路版图中所有构件对应的映射关系中,获取目标元素类型的至少一个第一构件对应的有序的第二映射关系;根据所述第二映射关系中的每个索引,确定至少一个所述第一构件对应的索引在第三映射关系中对应的目标索引;根据所述第一映射关系确定所述目标索引对应的目标构件名称;根据所述每个目标索引对应的目标构件名称,读取所述目标构件名称对应的电路版图数据。本申请提供的电路版图数据读取方法可以保证在大规模集成电路版图信息在多流程或并行解析后电路版图数据读取的一致性,同时解决在读取一致性问题时占用内存较多,读取效率较慢的问题。

    寄生电容提取方法、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN117892679A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202410004878.6

    申请日:2024-01-02

    IPC分类号: G06F30/392 G06F30/398

    摘要: 本申请属于集成电路技术领域,涉及寄生电容提取方法、电子设备及可读存储介质,其中,寄生电容提取方法,包括:对芯片的全局电路按预设规则进行划分,得到预设数量的计算区域;对预设数量的计算区域分别配置计算子任务,并获得计算子任务对应的计算区域对应的寄生电容信息,其中,每一计算子任务求解至少一个计算区域所对应的寄生电容信息;合并所有计算区域对应的寄生电容信息,得到全局电路所对应的全局寄生电容信息。如此,本申请能够使得单个3D建模占用内存小且电容计算精确高,进而能够快速、精确求解全局寄生电容信息,并且能够适用于各种规模的集成电路。

    比较寄生参数文件的方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117875236A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311811682.X

    申请日:2023-12-26

    IPC分类号: G06F30/3315

    摘要: 本申请涉及一种比较寄生参数文件的方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:基于至少一寄生参数文件对目标电路进行时序分析,确定目标电路中至少一目标节点的时序信息,其中,各目标节点的时序信息包括分别对应于至少一寄生参数文件的时序信息;将至少一目标节点的时序信息与至少一目标节点的参考时序信息进行比较,获取寄生参数文件的比较结果,其中,至少一目标节点的参考时序信息基于参考寄生参数文件对目标电路进行时序分析得到,至少一寄生参数文件与参考寄生参数文件为对应目标电路的不同寄生参数文件。本申请的技术方案,通过分析时序信息的方式实现寄生参数文件之间的比较,更加便捷、准确。

    冗余控制信号检测方法、计算设备及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN118940689A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202411433322.5

    申请日:2024-10-15

    摘要: 本申请公开了一种冗余控制信号检测方法、计算设备及计算机可读存储介质,包括:获取对目标芯片的逻辑功能代码进行功能仿真后所生成的仿真数据;逻辑功能代码包括目标寄存器的至少一输入控制信号与输出信号,仿真数据包括各输入控制信号与输出信号分别在多个时钟周期内对应的仿真波形信号;基于仿真数据,对各输入控制信号进行冗余检测;冗余检测包括检测输入控制信号与输出信号的变化关系;输出获得的冗余检测结果。如此,通过对目标芯片的逻辑功能代码进行功能仿真后所生成的仿真数据,对目标寄存器的各输入控制信号进行冗余检测,能够方便且快速定位目标芯片中的冗余点,优化芯片时序,减少芯片面积和功耗,同时提高了芯片设计的可靠性。

    一种目标图形的确定方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117556781B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410046422.6

    申请日:2024-01-12

    摘要: 本申请提供了一种目标图形的确定方法、装置、电子设备及存储介质,涉及数据处理领域,该方法包括:获得目标图形组,并基于目标图形组中的多个顶点的第一标识确定多个候选区域和候选区域的第二标识,目标图形组包含版图中分别属于不同图层的两个图形和图形中每个顶点的第一标识,第一标识指示顶点所在区域的图形变化,第二标识表征候选区域的图形数量;基于多个候选区域的第二标识、所有第一标识和第一映射关系确定目标区域和目标区域每个顶点的第一标识;基于目标区域和目标区域每个顶点的第一标识确定目标图形,解决目前对不同图层中的不同图形进行布尔运算的时间过长,无法直接应用在高性能计算工具设计中的问题。

    干扰噪声波形获取方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117896024A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202311815147.1

    申请日:2023-12-26

    IPC分类号: H04B17/345

    摘要: 本申请提供一种干扰噪声波形获取方法,包括:获取目标受扰网络对应的干扰源信号切换后和切换前的电平差值,以及所述干扰源信号的切换时长;根据所述电平差值和所述切换时长,获取所述目标受扰网络的电路节点的干扰噪声估算值。本申请提供的干扰噪声波形获取方法、装置、计算机设备及存储介质能根据干扰源信号的电平差值和切换时长,获取目标受扰网络的电路节点的干扰噪声估算值,能提高干扰噪声获取的效率。

    一种寄生电容信息的获取方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN117454808A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311793623.4

    申请日:2023-12-25

    IPC分类号: G06F30/30 G06F16/53

    摘要: 本申请涉及一种寄生电容信息的获取方法、装置及电子设备,方法包括:确定电路中的目标区域;确定目标区域中待求解寄生电容的目标网络;基于与目标网络构成电容的至少一关联网络,求解与目标网络对应的寄生电容,其中,关联网络位于根据目标区域的边界数据或目标网络的边界数据确定的外扩区域;根据目标区域中各目标网络的寄生电容的求解结果,获取与目标区域对应的寄生电容信息。本申请在提取目标区域内的寄生电容信息时,在目标区域的基础上设置了外扩区域用于选取关联网络,提供了可靠的提取环境,使得寄生电容的提取过程适用于任意选取区域,且保证了提取寄生电容的精确性。

    一种寄生参数的查找方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117349483A

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202311652898.6

    申请日:2023-12-05

    摘要: 本申请涉及一种寄生参数的查找方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括以下步骤:在哈希表中查找目标电路单元的环境参数;若查找到环境参数,则获取哈希表中与环境参数对应的指针,根据指针所指向的目标存储位置,在缓存中查找目标电路单元的寄生参数;若未查找到环境参数,则在寄生参数查找表中查找目标电路单元的寄生参数,在缓存中新增存储位置并存储寄生参数,以及,在哈希表中新增环境参数与对应的用于指向新增的存储位置的指针。本申请的技术方案,对已查找的环境参数和对应的寄生参数进行缓存,对于重复的电路单元无需查找寄生参数查找表,避免了重复的查表操作,有效减少运算,提高了查找效率。