Invention Publication
- Patent Title: 比较寄生参数文件的方法、装置、电子设备及存储介质
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Application No.: CN202311811682.XApplication Date: 2023-12-26
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Publication No.: CN117875236APublication Date: 2024-04-12
- Inventor: 请求不公布姓名 , 请求不公布姓名
- Applicant: 杭州行芯科技有限公司
- Applicant Address: 浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号3号楼11层
- Assignee: 杭州行芯科技有限公司
- Current Assignee: 杭州行芯科技有限公司
- Current Assignee Address: 浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号3号楼11层
- Agency: 上海波拓知识产权代理有限公司
- Agent 林丽璀
- Main IPC: G06F30/3315
- IPC: G06F30/3315

Abstract:
本申请涉及一种比较寄生参数文件的方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:基于至少一寄生参数文件对目标电路进行时序分析,确定目标电路中至少一目标节点的时序信息,其中,各目标节点的时序信息包括分别对应于至少一寄生参数文件的时序信息;将至少一目标节点的时序信息与至少一目标节点的参考时序信息进行比较,获取寄生参数文件的比较结果,其中,至少一目标节点的参考时序信息基于参考寄生参数文件对目标电路进行时序分析得到,至少一寄生参数文件与参考寄生参数文件为对应目标电路的不同寄生参数文件。本申请的技术方案,通过分析时序信息的方式实现寄生参数文件之间的比较,更加便捷、准确。
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