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公开(公告)号：CN104849128A
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201410749791.8
申请日：2014-12-10
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Inventor： 竹内俊公
IPC: G01N1/36
CPC classification number: G01N23/2204 , G01N23/223
Abstract: 提供一种能够消除试样的偏移并使试样与X射线管的距离为一定、进而能够对应于各种各样的形状的试样的X射线分析用试样保持器及在将试样向该保持器安设时使用的试样设置用夹具。具备第1环状部件（3）、第2环状部件（4）和第3环状部件（5）；所述第2环状部件（4）在与第1环状部件之间夹着第1薄膜（F1）的状态下嵌入插入在第1环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第1薄膜；所述第3环状部件（5）在与第2环状部件之间夹着第2薄膜（F2）的状态下嵌入插入在第2环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第2薄膜；用在第2环状部件和第3环状部件各自的下部开口部处张设的第1薄膜和第2薄膜将X射线分析用的试样（S）夹持。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106970173B
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN201611015746.5
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 产生气体分析装置具备：试料架、加热试料而产生气体成分的加热部、将气体成分离子化而生成离子的离子源、对离子进行质量分析而检测气体成分的质量分析计、供气体成分与将其向质量分析计引导的运载气体的混合气体流通的气体流路，产生气体分析方法中具有：排出流量调整工序，调整分支路的混合气体向外部的排出流量；冷却工序，使试料架接触冷却部而对其进行冷却；补正工序，使用作为测定对象而包含气体成分的标准试料，（1）校正质谱的谱位置，（2）计算灵敏度补正系数Cs=Ss/S，（3）计算对测定实际的试料的气体成分时的加热部内的试料的加热速度进行补正的加热补正系数H=t/ts。
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公开(公告)号：CN106908307A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201611016238.9
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
CPC classification number: G01N1/44 , G01N1/42 , G01N33/0009 , G01N35/00584
Abstract: 本发明提供在不令冷却能力和装置整体过大的情况下在短时间内冷却试料架、提高分析作业的效率的产生气体分析装置。产生气体分析装置（200）具备保持试料（S）的试料架（20）、将试料架收纳于自身的内部并加热试料而产生气体成分（G）的加热部（10）、检测在加热部生成的气体成分的检测机构（110），其特征在于，还具备：试料架支承部（204L），在加热部的内外的既定位置可移动地支承试料架；冷却部（30），配置于加热部的外侧且在使试料架移动至加热部的外侧、能将试料取出或放入的排出位置时，直接或间接地接触试料架而将该试料架冷却。
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公开(公告)号：CN106908307B
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201611016238.9
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 本发明提供在不令冷却能力和装置整体过大的情况下在短时间内冷却试料架、提高分析作业的效率的产生气体分析装置。产生气体分析装置（200）具备保持试料（S）的试料架（20）、将试料架收纳于自身的内部并加热试料而产生气体成分（G）的加热部（10）、检测在加热部生成的气体成分的检测机构（110），其特征在于，还具备：试料架支承部（204L），在加热部的内外的既定位置可移动地支承试料架；冷却部（30），配置于加热部的外侧且在使试料架移动至加热部的外侧、能将试料取出或放入的排出位置时，直接或间接地接触试料架而将该试料架冷却。
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公开(公告)号：CN106970173A
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201611015746.5
申请日：2016-11-18
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 产生气体分析装置具备：试料架、加热试料而产生气体成分的加热部、将气体成分离子化而生成离子的离子源、对离子进行质量分析而检测气体成分的质量分析计、供气体成分与将其向质量分析计引导的运载气体的混合气体流通的气体流路，产生气体分析方法中具有：排出流量调整工序，调整分支路的混合气体向外部的排出流量；冷却工序，使试料架接触冷却部而对其进行冷却；补正工序，使用作为测定对象而包含气体成分的标准试料，（1）校正质谱的谱位置，（2）计算灵敏度补正系数Cs=Ss/S，（3）计算对测定实际的试料的气体成分时的加热部内的试料的加热速度进行补正的加热补正系数H=t/ts。
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公开(公告)号：CN302932540S
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201330652083.9
申请日：2013-12-27
Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
Abstract: 1．本外观设计产品的名称：荧光X射线分析机。2．本外观设计产品的用途：本产品在用X射线照射试剂的时候，通过解析从试剂发生的X射线的波长，从而可分析试剂的元素的荧光X射线分析机。3．本外观设计产品的设计要点：本外观设计产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。5．在参考图3中，B-把手，C-电源关闭按钮（自照式），D-电源打开按钮（自照式），E-状态显示部，F-X射线打开指示灯，G-X射线打开/关闭按钮，H-开闭盖。其中，斜线部分为透明操控面板，其后方设置有透光性材质的E部和F部；C部和D部为透光性材质。
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