Patent search ap:("日本株式会社日立高新技术科学") AND inv:"常山史朗" Page 1

1.

外观设计
荧光X射线分析机失效

公开(公告)号：CN302932540S

公开(公告)日：2014-09-03

申请号：CN201330652083.9

申请日：2013-12-27

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Designer： 增田蓝 , 能田弘行 , 山本俊 , 竹内俊公 , 常山史朗

Abstract: 1．本外观设计产品的名称：荧光X射线分析机。2．本外观设计产品的用途：本产品在用X射线照射试剂的时候，通过解析从试剂发生的X射线的波长，从而可分析试剂的元素的荧光X射线分析机。3．本外观设计产品的设计要点：本外观设计产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。5．在参考图3中，B-把手，C-电源关闭按钮（自照式），D-电源打开按钮（自照式），E-状态显示部，F-X射线打开指示灯，G-X射线打开/关闭按钮，H-开闭盖。其中，斜线部分为透明操控面板，其后方设置有透光性材质的E部和F部；C部和D部为透光性材质。

Patent Agency Ranking