公开(公告)号：CN106018269B

公开(公告)日：2019-01-18

申请号：CN201610147228.2

申请日：2016-03-15

Applicant: 日本发条株式会社

Inventor： 鹿岛英树 ,  杉田悠治 ,  下田武志 ,  福田努

IPC: G01N19/04

Abstract: 参照一个实施例，一种键合强度测试装置(50)，用于测量硬盘驱动(1)悬架(9)的弯曲部分(10)与安装于弯曲部分(10)的常平架(13)上的电子元件(21,22)之间的键合强度。所述键合强度测试装置(50)包括一个夹紧件(54)、假壳(52)以及装置主体(58)。夹紧件(54)固定弯曲部分(10)。假壳(52)粘附于微型致动器(21,22)。探针(56)咬合于假壳(52)中。装置主体(58)测量当探针(56)被拉向远离弯曲部分(10)的方向时所述探针(56)上的拉伸荷载。

公开(公告)号：CN106018269A

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201610147228.2

申请日：2016-03-15

Applicant: 日本发条株式会社

Inventor： 鹿岛英树 ,  杉田悠治 ,  下田武志 ,  福田努

IPC: G01N19/04

CPC classification number: G01N19/04 ,  G11B5/455 ,  G11B5/483 ,  G11B5/4853

Abstract: 参照一个实施例，一种键合强度测试装置(50)，用于测量硬盘驱动(1)悬架(9)的弯曲部分(10)与安装于弯曲部分(10)的常平架(13)上的电子元件(21,22)之间的键合强度。所述键合强度测试装置(50)包括一个夹紧件(54)、假壳(52)以及装置主体(58)。夹紧件(54)固定弯曲部分(10)。假壳(52)粘附于微型致动器(21,22)。探针(56)咬合于假壳(52)中。装置主体(58)测量当探针(56)被拉向远离弯曲部分(10)的方向时所述探针(56)上的拉伸荷载。