半导体晶片研磨用组合物和研磨方法

    公开(公告)号:CN101659849A

    公开(公告)日:2010-03-03

    申请号:CN200810130976.5

    申请日:2008-08-29

    Abstract: 本发明涉及半导体晶片研磨用组合物和研磨方法。本发明提供碱金属含量少的半导体晶片研磨用组合物,其特征在于,研磨速度高,且相对于浓度的变化,研磨速度的变化小。本发明的半导体晶片研磨用组合物的特征在于,其含有包含固定了四乙基铵的二氧化硅粒子的胶态二氧化硅,且分散在水中的二氧化硅粒子的浓度为0.5~50重量%。在固定了四乙基铵的二氧化硅粒子中含有的四乙基铵的浓度,以四乙基铵/二氧化硅的摩尔比计优选为5×10 -4 ~2.5×10 -2 的范围。

    研磨剂用组合物及其调制方法

    公开(公告)号:CN1322087C

    公开(公告)日:2007-06-20

    申请号:CN03121218.2

    申请日:2003-03-28

    Abstract: 本发明的研磨组合物是特征为:由平均一次粒径为30~200nm、实质上单分散的氧化硅颗粒形成浓度为1~25重量%的胶体溶液,所述胶体溶液的pH值调制为8.7~10.5之间,用作具有缓冲作用的缓冲溶液,且作为成分之一,含有氟离子或氟配位阴离子形式的氟1~100mmol/Kg的研磨用组合物,且已知该研磨用组合物的pH变化小,研磨速度快,可清洗性好。使用本发明研磨组合物,不会降低硅片、半导体装置基板的研磨表面的品质,从而能够稳定地高速研磨。

    研磨剂用组合物及其调制方法

    公开(公告)号:CN1448459A

    公开(公告)日:2003-10-15

    申请号:CN03121218.2

    申请日:2003-03-28

    Abstract: 本发明的研磨组合物是特征为:由平均一次粒径为30~200nm、实质上单分散的氧化硅颗粒形成浓度为1~25重量%的胶体溶液,所述胶体溶液的pH值调制为8.7~10.5之间,用作具有缓冲作用的缓冲溶液,且作为成分之一,含有氟离子或氟配位阴离子形式的氟1~100mmol/Kg的研磨用组合物,且已知该研磨用组合物的pH变化小,研磨速度快,可清洗性好。使用本发明研磨组合物,不会降低硅片、半导体装置基板的研磨表面的品质,从而能够稳定地高速研磨。

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