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公开(公告)号:CN105891234A
公开(公告)日:2016-08-24
申请号:CN201610079699.4
申请日:2016-02-04
Applicant: 日新电机株式会社
IPC: G01N22/00
CPC classification number: G01N22/00
Abstract: 本发明提供一种高分子材料的劣化诊断方法及高分子材料的劣化诊断装置,本发明的高分子材料的劣化诊断方法,进行用于电气设备的高分子材料的劣化诊断,对诊断对象的所述高分子材料照射1GHz~50GHz内的任意的频率的电波,由基于所照射的电波的来自所述高分子材料的出射波测定复介电常数,并根据所述介电常数的至少实数部的值进行所述高分子材料的劣化诊断。藉此,可容易且适当地进行诊断对象的高分子材料的劣化诊断。
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公开(公告)号:CN104914358A
公开(公告)日:2015-09-16
申请号:CN201510111603.3
申请日:2015-03-13
Applicant: 日新电机株式会社
IPC: G01R31/12
Abstract: 本发明提供一种局部放电监视装置及系统,其可将从电容器供给到产生局部放电的电气机器的充电电流的频率选定得较高而提高局部放电的监视精度,并且能够应用到既有的受电配电设备中且量产性也高。所述局部放电监视装置(20)中,将内置着电容器(24)的绝缘子(22)收容于收容着作为监视对象的电气机器(10)的金属制容器(6)内,将电容器连接于电压母线(12)与接地母线(14),所述电容器对产生了局部放电的电气机器供给伴随所述局部放电的充电电流(i0)。在电容器的接地线(26)上设置着对流经所述接地线的充电电流进行检测的电流检测器(28)。还包括对由电流检测器检测到的充电电流的值进行检测的信号处理装置(30)。
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公开(公告)号:CN101900781A
公开(公告)日:2010-12-01
申请号:CN201010187016.X
申请日:2010-05-26
Applicant: 日新电机株式会社
IPC: G01R31/12
Abstract: 一种绝缘诊断装置以及绝缘诊断方法,在利用电磁波检测局部放电的情况下,在包括较多突发噪声、通信波的环境中也能够可靠地检测气体绝缘开关器等电气设备的劣化。本发明进行如下的处理:在所检测到的背景噪声值大于基准BGN值的情况下,判断为还存在较多噪声成分,通过依次增加L的值,再次以相同的过程重复进行从信号电平的最大值起去除L个数据的处理,能够检测到埋没于噪声中的局部放电信号。
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公开(公告)号:CN104914358B
公开(公告)日:2019-05-28
申请号:CN201510111603.3
申请日:2015-03-13
Applicant: 日新电机株式会社
IPC: G01R31/12
Abstract: 本发明提供一种局部放电监视装置及系统,其可将从电容器供给到产生局部放电的电气机器的充电电流的频率选定得较高而提高局部放电的监视精度,并且能够应用到既有的受电配电设备中且量产性也高。所述局部放电监视装置(20)中,将内置着电容器(24)的绝缘子(22)收容于收容着作为监视对象的电气机器(10)的金属制容器(6)内,将电容器连接于电压母线(12)与接地母线(14),所述电容器对产生了局部放电的电气机器供给伴随所述局部放电的充电电流(i0)。在电容器的接地线(26)上设置着对流经所述接地线的充电电流进行检测的电流检测器(28)。还包括对由电流检测器检测到的充电电流的值进行检测的信号处理装置(30)。
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公开(公告)号:CN101900781B
公开(公告)日:2014-09-24
申请号:CN201010187016.X
申请日:2010-05-26
Applicant: 日新电机株式会社
IPC: G01R31/12
Abstract: 一种绝缘诊断装置以及绝缘诊断方法,在利用电磁波检测局部放电的情况下,在包括较多突发噪声、通信波的环境中也能够可靠地检测气体绝缘开关器等电气设备的劣化。本发明进行如下的处理:在所检测到的背景噪声值大于基准BGN值的情况下,判断为还存在较多噪声成分,通过依次增加L的值,再次以相同的过程重复进行从信号电平的最大值起去除L个数据的处理,能够检测到埋没于噪声中的局部放电信号。
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公开(公告)号:CN119768884A
公开(公告)日:2025-04-04
申请号:CN202280099555.9
申请日:2022-09-01
Applicant: 日新电机株式会社
IPC: H01H33/668 , H02B13/065
Abstract: 判定装置(1)包括:获取部(10),获取断路器(5)的罐(50)内的温度或压力;以及判定部(20),基于所述罐内的温度或压力,来判定有无伴随收容在所述罐中的真空阀(60)的真空劣化而产生的电弧。判定装置(1)可适当地判定真空容器的真空度的变化。
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