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公开(公告)号：CN112817083A
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN202110204125.6
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供一种纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置。在该检查方法中，对具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板的外观恰当地进行检查。一种纵长状的偏振板的检查方法，其是一边将具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板沿着该长度方向输送一边对该偏振板的外观进行检查的方法，其包括：对该偏振板进行拍摄而取得图像数据的工序；对该图像数据进行分析而提取缺陷候选部的工序；对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序；以及基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测的工序。
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公开(公告)号：CN104512087A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410432459.9
申请日：2014-08-28
Applicant: 日东电工株式会社
CPC classification number: B32B37/12 , B32B38/162 , G02B5/30
Abstract: 本发明提供一种膜层叠体的制造方法及膜层叠体的制造设备。在洁净室内设置两个以上的洁净度高于其他区域的洁净度的区域，在相邻的两个上述区域的上游侧实施异物去除，在比该上游侧进一步提高了洁净度的下游侧实施保护膜的粘合。
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公开(公告)号：CN113341495B
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202110529999.9
申请日：2016-09-30
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供一种偏振片的检查方法和偏振片的制造方法。该偏振片的检查方法在制造能够实现电子器件的多功能化以及高功能化、且品质没有偏差的偏振片之际精度良好地检查该偏振片。本发明的检查方法包括向具有非偏振部(2)的偏振片(1)的包含非偏振部(2)在内的范围照射光、并对偏振片(1)的透射光像进行拍摄的工序。在此，透射光像中的非偏振部(2)与其他部位的对比度比(非偏振部/其他部位)是1.5以上。
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公开(公告)号：CN106990469A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201610868030.3
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
CPC classification number: G02B5/3033 , G01N21/95
Abstract: 提供一种偏振片的检查方法和偏光板的制造方法。在偏振片中以高精度来高效地形成非偏振部，以使该非偏振部成为期望的形状和特性。一种检查方法，对具有非偏振部的偏振片进行检查，该方法包括：摄像步骤，从该偏振片的一侧照射光，拍摄来自该偏振片的反射光；以及检查步骤，基于所得到的图像来检查该偏振片的非偏振部。
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公开(公告)号：CN106940320A
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：CN201610868195.0
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供一种纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置。在该检查方法中，对具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板的外观恰当地进行检查。一种纵长状的偏振板的检查方法，其是一边将具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板沿着该长度方向输送一边对该偏振板的外观进行检查的方法，其包括：对该偏振板进行拍摄而取得图像数据的工序；对该图像数据进行分析而提取缺陷候选部的工序；对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序；以及基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测的工序。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116710759A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202180089801.8
申请日：2021-08-20
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G01N21/892
Abstract: 本发明的制造方法具有：在制造具有光学膜(11a)、表面保护膜以及隔离膜的光学层叠膜(1a)的过程中检查缺陷的工序；以及将与检测出的所述缺陷对应的标记标注于所述光学层叠膜(1a)的工序，对通过从所述光学层叠膜(1a)剥离表面保护膜和隔离膜中的至少一方而能够检测的剥离明显化缺陷与所述剥离明显化缺陷以外的缺陷进行区别，将与所述剥离明显化缺陷对应的第一标记(71)标注于所述光学层叠膜(1a)，将与所述剥离明显化缺陷以外的缺陷对应且图案与上述第一标记(71)不同的第二标记(72)标注于所述光学层叠膜(1a)。
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公开(公告)号：CN112782798B
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202110202953.6
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供一种纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置。在该检查方法中，对具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板的外观恰当地进行检查。一种纵长状的偏振板的检查方法，其是一边将具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板沿着该长度方向输送一边对该偏振板的外观进行检查的方法，其包括：对该偏振板进行拍摄而取得图像数据的工序；对该图像数据进行分析而提取缺陷候选部的工序；对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序；以及基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测的工序。
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公开(公告)号：CN113341494B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202110529378.0
申请日：2016-09-30
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供一种偏振片的检查方法和偏振片的制造方法。该偏振片的检查方法在制造能够实现电子器件的多功能化以及高功能化、且品质没有偏差的偏振片之际精度良好地检查该偏振片。本发明的检查方法包括向具有非偏振部(2)的偏振片(1)的包含非偏振部(2)在内的范围照射光、并对偏振片(1)的透射光像进行拍摄的工序。在此，透射光像中的非偏振部(2)与其他部位的对比度比(非偏振部/其他部位)是1.5以上。
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公开(公告)号：CN107036547A
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201610868229.6
申请日：2016-09-29
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供一种具有贯通孔的纵长状的粘合膜的检查方法和制造方法，该粘合膜可恰当地用作在对纵长状膜的预定的部分进行处理之际的表面保护膜或掩模。一种检查方法，其是对透明的粘合膜进行检查的方法，该粘合膜具有纵长状的树脂膜和设于该树脂膜的一个面的粘合剂层，并且具有将该树脂膜以及该粘合剂层一体地贯通的贯通孔，该检查方法包括：对该粘合膜的表面进行拍摄而获得该表面的图像数据的工序；以及对该图像数据进行分析来检查该贯通孔的工序，对于该粘合膜的表面的拍摄，是通过向该粘合膜的一个面照射光、并对该光的反射光进行拍摄来进行的。
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公开(公告)号：CN104369525A
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201410360021.4
申请日：2014-07-25
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供从膜层叠体去除异物的异物去除方法、膜层叠体的制造方法及制造装置。在该从膜层叠体去除异物的异物去除方法中，一边将包括光学膜、形成在该光学膜上的粘合层、以及层叠在该粘合层上以保护上述光学膜的保护膜的膜层叠体向下游侧输送，一边从上述膜层叠体剥离上述保护膜，并且，自侧方对膜层叠体的发生该保护膜剥离的部分进行抽吸而去除异物。
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