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公开(公告)号：CN112445661A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN201910805747.7
申请日：2019-08-29
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开一种并行访存汇编程序自动生成系统和存储一致性测试方法，包括以下步骤：S1、并行程序生成器读取控制核心和运算核心的汇编程序框架，并且根据核心的数目生成包含相应数目汇编函数的基础汇编程序；S2、并行访存指令序列生成器生成访存指令序列偏移链表，将访存偏移平均分给各个核心，并根据各个核心分到的访存偏移，生成访存指令段；S3、各个核心的访存指令序列分别嵌入各自的汇编函数中；S4、主函数通过读取数据集合来实现源空间的初始化；S5、访存结束，再次进行同步，然后比较目的空间的哈希值与源空间的哈希值是否相等。本发明可以自动生成并行访存的汇编程序，大大增加访存的密集度，减少运算的时间，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN112433762A
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN201910789113.7
申请日：2019-08-26
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F9/38
Abstract: 本发明公开一种基于数据相关性约束的随机指令序列生成方法，包括以下步骤：S1、对指令集合进行信息提取；S2、生成的指令数目达到要求则终止，否则继续随机选择一条指令；S3、如果该指令没有操作数，跳转至S2，否则继续；S4、计算指令上下文中与当前指令生成可能存在关系的最大指令数目；S5、解析当前指令；S6、构建上下文指令间的约束关系；S7、对形成的CNF范式进行合取，并利用求解器进行求解；S8、如果没有求解结果，则跳转至S2；S9、如果求解结果满足，则对求解结果进行解析；S10、将当前生成的指令保存在缓存队列中；S11、跳转至S2继续。本发明构建了满足约束条件的随机指令生成模型，自动生成随机指令序列，达到高功耗测试以及极限情况下指令执行部件正确性测试的目的。
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公开(公告)号：CN112527757B
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN201910879802.7
申请日：2019-09-18
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于大规模芯片测试结果的快速检索方法，包括以下步骤：对目录进行检查，将目录中的日志文件按照文件名进行升序排序，检查是否存在校验文件.checksum，如果是，执行下一步，否则对目录下的所有文件进行顺序入库，并将数据列表写入.checksum文件；将之前从该目录中获取的数据列表写入.checksum_new文件；读入该目录中的校验文件.checksum；对该目录中的校验文件.checksum和.checksum_new进行MD5值比对，判断这两个文件MD5值是否相同，如果是，结束操作；该方法通过对目录中的文件分层级并检索，达到快速定位更新目录或者更新文件的目的，提升检测效率。
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公开(公告)号：CN112416666B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN201910771716.4
申请日：2019-08-21
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开一种自检随机测试方法及随机循环测试装置，S1、控制单元调用随机指令生成器，并将随机指令生成器生成的运算控制核心的随机指令段和运算核心的随机指令段分别嵌入运算控制核心的程序框架和运算核心的程序框架中，形成汇编程序；S2、控制单元根据程序结构调用编译脚本，将生成的汇编程序编译成可执行的随机测试程序；S3、编译完成后，控制单元调用测试管理系统运行S2中生成的可执行的随机测试程序，并监控测试结果；S4、测试完返回控制单元，等待产生新的随机测试程序，进行下一次测试。本发明通过生成不需要依赖模拟器的随机测试程序，更高效地暴露更多的处理器软硬件设计及环境问题，弥补硅前验证效率低、覆盖不全面的问题。
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公开(公告)号：CN112559299A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN201910919650.9
申请日：2019-09-26
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于处理器测试过程的监督方法，基于多视图显示基础库，所述多视图显示基础库的编码方式为组件式编码，进一步包括内视图组件和大视图组件；所述内视图组件用于预处理shell终端颜色符、非Unicode中文、换行符等文本信息，根据当前终端可以显示的文本行数和列数，配置文本在窗口中显示的位置，配置文本在窗口中显示的位置，所述大视图组件用于进一步处理和刷新文本信息，将文本以多视图的方式输出在屏幕上，根据设定的刷新时间，刷新显示的文本信息。本发明能及时发现并应对测试过程中可能出现的多种情况，需要对资源和课题运行结果进行实时监控。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105446841B
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201510830049.4
申请日：2015-11-24
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供了一种缓存一致性测试方法，包括：主进程申请一个共享空间；由主进程创建出多个子进程；在该共享空间中划分出四个共享空间部分；由主进程对读操作和写操作访问的内存块号进行排列，使读操作和写操作访问的内存地址不重叠，而且使所述多个子进程进入同步接口；在所述多个子进程同步成功后，读取所述排列好的序列，让所述主进程和所述多个子进程同时进行读写操作；在所述主进程和所述多个子进程的读写操作都完成后，每个进程对自己访问的读空间和写空间分别用异或操作来计算权值，并且比较读操作和写操作访问的内存的权值。
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公开(公告)号：CN112559299B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN201910919650.9
申请日：2019-09-26
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于处理器测试过程的监督方法，基于多视图显示基础库，所述多视图显示基础库的编码方式为组件式编码，进一步包括内视图组件和大视图组件；所述内视图组件用于预处理shell终端颜色符、非Unicode中文、换行符等文本信息，根据当前终端可以显示的文本行数和列数，配置文本在窗口中显示的位置，配置文本在窗口中显示的位置，所述大视图组件用于进一步处理和刷新文本信息，将文本以多视图的方式输出在屏幕上，根据设定的刷新时间，刷新显示的文本信息。本发明能及时发现并应对测试过程中可能出现的多种情况，需要对资源和课题运行结果进行实时监控。
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公开(公告)号：CN114564396A
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202210185468.7
申请日：2022-02-28
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开一种基于数据路径约束求解的随机指令测试程序生成方法，包括以下步骤：S1、循环读取基于约束求解的随机指令序列文件，每次读取一行，若为空则跳转至S7；S2、根据S1中读取的内容，解析指令格式，获取指令名称以及指令格式中每一个操作数的类型；S3、随机读取与S2中解析的指令对应的数据路径约束求解结果文件，获取一组基于数据路径约束的验证元组数据；S4、将S3中获取的验证元组数据按照对界要求预先存储到局存空间中；S5、根据S1中自随机指令序列文件读取的当前随机指令；S6、跳转至S1继续读取指令序列进行解析；S7、生成结果校验代码。本发明可以提升随机指令测试的有效性。
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公开(公告)号：CN112433930A
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN201910788893.3
申请日：2019-08-26
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开一种基于信息摘要值实现的程序结果校验方法，包括以下步骤：S1、在程序头部设置初始的校验值；S2、用户根据需要检验的地址空间或者文件，在程序的任意位置设置校验对象，并对校验的对象地址空间或者文件进行约束；S3、在程序中设置多个校验点，当程序执行到每个校验点时，系统根据前一个校验点与本校验点之间的校验对象的数值生成一个基本单位校验值；S4、系统在每一个校验点将当前生成的校验值与对应位置的初始的校验值进行比较，比较一致则输出校验成功标志，否则输出校验失败标志；S5、反复执行S4，完成所有校验点的结果校验。本发明为不便于结果校验或者结果校验方式复杂的实际应用课题在处理器测试验证中的应用提供了可能性，提升测试覆盖面。
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公开(公告)号：CN112416666A
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201910771716.4
申请日：2019-08-21
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开一种自检随机测试方法及随机循环测试装置，S1、控制单元调用随机指令生成器，并将随机指令生成器生成的运算控制核心的随机指令段和运算核心的随机指令段分别嵌入运算控制核心的程序框架和运算核心的程序框架中，形成汇编程序；S2、控制单元根据程序结构调用编译脚本，将生成的汇编程序编译成可执行的随机测试程序；S3、编译完成后，控制单元调用测试管理系统运行S2中生成的可执行的随机测试程序，并监控测试结果；S4、测试完返回控制单元，等待产生新的随机测试程序，进行下一次测试。本发明通过生成不需要依赖模拟器的随机测试程序，更高效地暴露更多的处理器软硬件设计及环境问题，弥补硅前验证效率低、覆盖不全面的问题。
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