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公开(公告)号：CN116681697B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310936693.4
申请日：2023-07-28
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
摘要： 本发明实施例公开了一种金刚石复合片的脱钴测量方法、装置及电子设备，涉及图像处理技术领域，该方法包括：获取包含金刚石复合片的待测图像，确定待测图像中的目标区域；基于目标区域确定待测图像中金刚石复合片的轮廓信息，并基于轮廓信息对金刚石复合片进行位姿校正，得到目标图像；确定目标图像中金刚石复合片的基体区域与金刚石区域之间的基体边界信息，以及金刚石区域与脱钴层区域之间的脱钴边界信息；根据基体边界信息、脱钴边界信息和轮廓信息，确定金刚石复合片对应的脱钴测量结果。解决当前脱钴测算需要人工拉取相应的手动工具测量，测算效率和精确度低的问题，实现了自动精确的脱钴深度测算。
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公开(公告)号：CN115078410A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210683403.5
申请日：2022-06-16
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
IPC分类号： G01N23/00 , G01N23/046
摘要： 本发明公开了一种离线式纳米级开放管X射线检测设备，包括铅房，铅房中设置有竖立固定板；光管组件，安装于竖立固定板上，用于向上发射X射线；桌面组件，包括位于光管组件上方的检测平台，检测平台能沿xyz轴方向移动，使得检测平台上的物料相对于光管组件位置可调，实现物料全方位检测及调节放大倍率；上置平板旋转机构，包括旋转臂、弧形滑轨和平板探测器，两个旋转臂对称地设置于竖立固定板的两侧且均能绕x轴转动，两个旋转臂之间连接有滑轨安装板，弧形滑轨安装于滑轨安装板上，平板探测器滑动设置于弧形滑轨上，实现平板探测器始终对焦于射线源及球面运动检测。上述离线式纳米级开放管X射线检测设备实现了对物料全方位的检测。
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公开(公告)号：CN116630631B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310905385.5
申请日：2023-07-24
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
IPC分类号： G06V10/26 , G06N3/0464 , G06N3/0495 , G06V10/82
摘要： 本发明实施例公开了一种图像分割方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取通过对目标集成电路进行拍摄得到的电路X射线图像，以及，已训练完成的双分支图像分割模型；将所述电路X射线图像输入到所述双分支图像分割模型中，并根据所述双分支图像分割模型的输出结果，得到所述目标集成电路的分割掩码图；其中，所述双分支图像分割模型至少包括语义分支和空间分支，所述语义分支包括已进行通道压缩的残差网络，所述双分支图像分割模型还包括与所述空间分支和所述残差网络分别连接的融合结构，所述残差网络至少包括交叉尺度注意模块。本发明实施例的技术方案，可以在减少模型参数量以及提高运算效率的情况下，保证图像分割精度。
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公开(公告)号：CN115266775A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210916767.3
申请日：2022-08-01
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明公开了一种在线式X射线成品整机自动检查设备，包括上料输送线、下料输送线、检测仓和自屏蔽辐射铅房机构，上料输送线与下料输送线之间通过升降输送线衔接，自屏蔽辐射铅房机构位于升降输送线的一侧，检测仓以抽屉形式设置于自屏蔽辐射铅房机构的下方并与升降输送线对接，用于将升降输送线上的产品移至自屏蔽辐射铅房机构处进行检测，自屏蔽辐射铅房机构中射出有用于对产品进行X光扫描的X射线，检测仓中设置有用于获取产品图像的平板探测器。上述检查设备采用抽屉式检测仓实现了产品输送线至检测位置的移载动作，优化了产线布局，精简了设备结构，保证了检测结果的可靠性，提高了整机效率。本发明还对应公开了一种检查方法。
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公开(公告)号：CN118096657A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202410096166.1
申请日：2024-01-23
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
摘要： 本申请涉及一种热敏电阻焊接缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取热敏电阻的初始焊接图像；识别初始焊接图像中的目标对象，以得到目标对象对应的目标图像；从预设的热敏电阻焊接缺陷的候选指标中，确定与目标图像对应的焊接缺陷的目标指标；通过焊接缺陷的目标指标对目标图像进行检测，得到目标指标对应的焊接缺陷检测结果。采用本方法能够提高检测效率，同时焊接缺陷检测结果也更加准确。
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公开(公告)号：CN117372261A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311639919.0
申请日：2023-12-04
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
IPC分类号： G06T3/4053 , G06T3/4046 , G06N3/0464 , G06V10/80 , G06V10/82
摘要： 本发明公开了基于卷积神经网络的分辨率重建方法、装置、设备及介质。该方法包括：将目标测试集输入至目标超分辨率重建模型；通过第一卷积层确定目标测试集中目标测试图像对应的初始特征图；通过特征融合层融合处理密集连接对称层确定的初始特征图对应的基础纹理特征图与目标纹理特征图得到融合特征图；通过第二卷积层确定融合特征图对应的基础特征图；对基础特征图与初始特征图进行第一加和处理得到第一加和特征图，通过第三卷积层确定第一加和特征图对应的目标特征图；通过亚像素卷积层上采样处理目标特征图，得到分辨率重建图。通过本发明的技术方案，能够实现超分辨率图像的重建，提高了超分辨率图像的生成速率及准确率。
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公开(公告)号：CN116630631A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310905385.5
申请日：2023-07-24
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
IPC分类号： G06V10/26 , G06N3/0464 , G06N3/0495 , G06V10/82
摘要： 本发明实施例公开了一种图像分割方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取通过对目标集成电路进行拍摄得到的电路X射线图像，以及，已训练完成的双分支图像分割模型；将所述电路X射线图像输入到所述双分支图像分割模型中，并根据所述双分支图像分割模型的输出结果，得到所述目标集成电路的分割掩码图；其中，所述双分支图像分割模型至少包括语义分支和空间分支，所述语义分支包括已进行通道压缩的残差网络，所述双分支图像分割模型还包括与所述空间分支和所述残差网络分别连接的融合结构，所述残差网络至少包括交叉尺度注意模块。本发明实施例的技术方案，可以在减少模型参数量以及提高运算效率的情况下，保证图像分割精度。
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公开(公告)号：CN115771748A
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202211597372.8
申请日：2022-12-12
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种半导体X射线检测设备自动上下料装置及上下料方法，其中上下料装置包括料框上料架，用于装载盛放制品的料框；缓存检测架，用于存放制品以备检测；移载机构，包括能升降、平移动作的侧插板，侧插板用于承托制品的底部，并将料框上料架处料框中的待检测制品转移至缓存检测架中。上述半导体X射线检测设备自动上下料装置实现了检测过程中单个料框的使用，省去了大量料框的替换操作，保证作业过程中料框与制品对应统一，避免发生乱料现象，降低了人工劳动成本，提高了工作效率。
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公开(公告)号：CN115096918A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210686023.7
申请日：2022-06-16
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种高速在线式成品缺陷X射线智能检测装备，包括：铅房，呈封闭式箱体状；治具皮带回流线，贯穿铅房，用于输送待检产品；成品检测机构，位于铅房内，成品检测机构包括位于治具皮带回流线上方的TUBE组件和位于治具皮带回流线下方的TDI组件，TUBE组件用于对治具皮带回流线上的待检产品发射X射线，TDI组件用于扫描成像，实现内部缺陷检测；智能浮动抓取机构，分布于治具皮带回流线的两端部，用于取、放待检产品于治具皮带回流线上。上述高速在线式成品缺陷X射线智能检测装备将治具、输送、检测整合到一起，将上下料速度、检测速度、输送速度相互匹配，最大化提高了检测效率，精简设备结构与尺寸，降低了成本，优化了产线布局。
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公开(公告)号：CN117522682A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311650386.6
申请日：2023-12-04
申请人： 无锡日联科技股份有限公司
IPC分类号： G06T3/40 , G06N3/045 , G06N3/0464 , G06N3/0475 , G06N3/094 , G06V10/80 , G06V10/82
摘要： 本发明公开了一种射线图像的分辨率重建方法、装置、设备及介质。该方法包括：将获取的待重建射线图像输入至训练完成的目标超分辨率生成模型；其中，目标超分辨率生成模型包含依据设定顺序连接的目标密集残差网络层、第一设定数量的目标卷积层以及第二设定数量的目标上采样层；通过目标密集残差网络层确定待重建射线图像的全局注意力特征与空间特征，并融合处理全局注意力特征与空间特征得到融合特征；通过目标卷积层及目标上采样层综合处理融合特征，得到待重建射线图像对应的分辨率重建图像。通过本发明的技术方案，能够实现超分辨率射线图像的轻量化生成，提高了超分辨率射线图像的生成速率及准确率。
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