-
公开(公告)号：CN119575258A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202510121338.0
申请日：2025-01-26
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
Abstract: 本发明实施例公开一种磁场测量装置和磁场测量方法。该磁场测量装置用于测量磁透镜，包括高斯计、恒流源、第一运动机构和第二运动机构；高斯计包括高斯计探头；第一运动机构上设置有固定件；固定件上设置有开口，高斯计探头穿过开口并漏出；第二运动机构用于承载磁透镜，且第一运动机构的运动方向与磁透镜的轴向方向相同；恒流源与磁透镜电连接，恒流源用于为磁透镜提供预设电流。本发明实施例的技术方案，通过机械结构的设计，将高斯计探头通过固定件的开口固定在第一运动机构上，且用第二运动机构承载磁透镜，使磁透镜的轴在第一方向，能够减小第二运动机构的载荷且能保证磁透镜的轴的方向性，实现对磁透镜磁场的测量，进而评估磁透镜的性能。
-
公开(公告)号：CN119399490A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202411454076.1
申请日：2024-10-17
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种关键点检测模型的训练方法、关键点检测方法、设备和存储介质。一种关键点检测模型的训练方法，包括：获取样本数据集；获取待训练的关键点检测模型，基于待训练的关键点检测模型对训练样本图像进行检测，得到训练样本图像对应的预测热力图；在预测热力图和训练样本图像的尺寸不一致的情况下，基于预测热力图的属性信息和初始关键点信息确定与预测热力图相匹配的目标关键点信息；基于目标关键点信息生成关键点标签数据，基于目标关键点标签数据和预测热力图生成损失函数；以减小损失函数为训练目标，对待训练的关键点检测模型进行训练。提高了关键点检测的效率和准确性。
-
公开(公告)号：CN119339379A
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202411450798.X
申请日：2024-10-17
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
IPC: G06V20/70 , G06V20/68 , G06V10/764 , G06T7/00
Abstract: 本发明涉及目标检测技术领域，且公开了一种X射线图像异物多标签标注方法，包括以下步骤：S1、获取食品X射线图像；S2、根据X射线图像中的所有异物形状特征制定异物标签集；S3、根据异物标签集对食品X射线图像中的异物进行标注。本发明采用食品X射线图像多标签标注方法进行目标检测，可以显著增加异物信息的丰富度，进而帮助模型更准确地识别各类异物。此外，多标签标注方法使模型能够学习到不同标签之间的内在关联和差异，这不仅能提升模型对形状和大小差异变化的鲁棒性，还能有效增强模型的精度和泛化能力。
-
公开(公告)号：CN119339368A
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202411450752.8
申请日：2024-10-17
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
Abstract: 本发明涉及目标检测技术领域，且公开了一种X射线图像食品异物检测标注方法，包括以下步骤：S1、图像采集：使用X射线异物检测设备对食物样品进行图像采集；S2、数据集构建：获取Foreign图并构建异物数据集；S3、图像融合：从异物数据集中随机选择多张Foreign图，与单张Ok图进行图像融合生成食品异物图像；S4、自动标注：记录图像融合的位置并保存生成图和标签文件。本发明可根据食品生产需求对放入异物的种类、数量、灰度等信息进行调节，在一定程度上简化了食品异物检测流程，减轻了从业人员图像采集、数据标注和模型训练的工作量，同时也降低了食品异物检测数据集的获取难度，相较于传统人工标注方式极大降低了标注成本，提升了标注效率和标注质量。
-
公开(公告)号：CN119295759A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202311398820.6
申请日：2023-10-26
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
IPC: G06V10/30 , G06V10/44 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本申请涉及一种去噪超分模型训练和图像处理的方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法去噪超分模型训练包括：获取样本图像，并将样本图像输入初始模型，提取样本图像的输入特征；使用初始模型的目标边缘感知卷积块对输入特征进行处理，得到去噪超分特征；目标边缘感知卷积块是采用重参数化方法减少初始边缘感知卷积块的通道数量得到；根据输入特征和去噪超分特征得到图像预测值；根据样本图像的图像真实值和图像预测值，得到目标损失；根据目标损失调整初始模型的参数，直至满足预设收敛条件，得到去噪超分模型。采用本方法能够兼顾图像分辨率和检测速度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118797226A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410890515.7
申请日：2024-07-04
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种X射线源焦点尺寸确定方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取线对卡测试图像对应的测试剖面曲线图；获取线对卡图像对应的理想剖面曲线图；基于所述线对卡测试图像对应的测试剖面曲线图和所述线对卡图像对应的理想剖面曲线图进行反卷积处理，得到目标卷积核函数曲线；基于所述目标卷积核函数曲线确定X射线源焦点尺寸。通过反卷积方法，实现了目标卷积核函数曲线的确定，进而根据目标卷积核函数曲线确定X射线源焦点尺寸，实现了焦点尺寸的自动确定，使焦点尺寸的确定有据可依，提升了焦点尺寸的准确度。
-
公开(公告)号：CN118172626B
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202410565161.9
申请日：2024-05-09
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
IPC: G06V10/774 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06V10/26 , G06V10/40 , G06V10/82
Abstract: 本发明公开了一种图像分割模型训练方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取芯片射线样本图像；将所述芯片射线样本图像输入至待训练的芯片图像分割网络，得到芯片分割结果；将所述芯片分割结果输入至芯片图像鉴别器网络，得到芯片鉴别结果；基于所述芯片分割结果和所述芯片鉴别结果更新所述芯片图像分割网络以及所述芯片图像鉴别器网络的参数，直至模型训练结束，得到芯片图像分割模型。上述技术方案，能够从大量未标注的芯片射线样本图像中自动学习并提取特征信息，有效降低了对人工标注数据的需求，提高了模型训练数据的利用效率，节省了人力标注成本。
-
公开(公告)号：CN113793790B
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202111006063.4
申请日：2021-08-30
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种开放式微焦点X射线源及其控制方法，所述开放式微焦点X射线源包括：开放式射线管，开放式射线管包括阴极系统、偏转系统、聚焦系统；高压电源系统，高压电源系统用于为电子束提供发射电流I0、加速高压U0和栅压UG；真空系统，真空系统用于进行抽真空处理；控制系统，控制系统用于根据轰击阳极靶的电子束的束斑尺寸控制高压电源系统对发射电流I0、加速高压U0、偏转系统的偏转线圈电流IXY、聚焦系统的聚焦线圈电流IF进行调节，以使束斑尺寸满足预设要求。该开放式微焦点X射线源可以根据反馈参数变化对输入参数进行自动调节，使开放式微焦点X射线源工作在最佳参数下，减少人为操作引起的错误，使放射出的X光的质量更高，稳定性更好。
-
公开(公告)号：CN118154463A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410291210.4
申请日：2024-03-14
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
IPC: G06T5/73 , G06V10/764
Abstract: 本发明公开了一种图像处理方法、装置、设备及存储介质。其中，方法包括：获取被测卷绕电池的X射线图像；根据被测卷绕电池的电芯类型，确定与被测卷绕电池对应的高斯滤波次数和卷积核大小；根据高斯滤波次数和卷积核大小，对X射线图像进行高斯滤波处理，得到基础X射线图像；对基础X射线图像进行边缘增强处理，得到目标X射线图像；将目标X射线图像提交至检测平台。本发明实施例可以根据卷绕电池的电芯类型，对卷绕电池的X射线图像进行高斯滤波处理和边缘增强处理，从而提高X射线图像的对比度和清晰度，然后将提高对比度和清晰度的卷绕电池的X射线图像提交至检测平台进行图像识别，提高卷绕电池的质量检测过程的准确性。
-
公开(公告)号：CN117630063A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311660586.X
申请日：2023-12-05
Applicant: 无锡日联科技股份有限公司
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明涉及X射线检测技术领域，尤其涉及一种离线式纳米级开放管X射线3D检测设备，包括：铅房；射线源组件，包括设置于铅房中的X射线源；检测桌面组件，包括设置于铅房中的安装立柱，安装立柱上设置有第一xyz驱动机构，第一xyz驱动机构的输出端设置有桌面垫板，桌面垫板通过快拆结构安装有用于承载或装夹被检物的模块化桌面，模块化桌面位于X射线源的上方；平板探测组件，包括设置于铅房中的安装架，安装架上设置有第二xyz驱动机构，第二xyz驱动机构的输出端设置有转台，转台上设置有平板探测器，平板探测器位于模块化桌面的上方。上述检测设备面对模块化桌面上的被检物，不管是平面CT还是锥束CT均可满足检测要求，实现了单机种多功能检测。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
328
records
(took 0.053 seconds)
