公开(公告)号：CN117761370A

公开(公告)日：2024-03-26

申请号：CN202311673874.9

申请日：2023-12-07

Applicant: 斯达半导体股份有限公司

Inventor： 栗赛男 ,  刘欣 ,  朱妍旭

IPC: G01R13/00

Abstract: 本发明提供一种用于双脉冲测试的波形分析系统及方法，涉及双脉冲测试技术领域，包括：获取双脉冲测试文件，并对双脉冲测试文件进行预处理得到处理后测试文件；根据处理后测试文件中包含的参数处理得到测试流程中的各脉冲对应的开通节点及关断节点，随后根据各参数、各开通节点以及各关断节点处理得到开通参数、关断参数和反向恢复参数；根据处理后测试文件中的各参数以及开通参数、关断参数和反向恢复参数生成完整波形图，根据各参数处理得到峰值电流以及峰值电压，随后基于峰值电流、峰值电压从完整波形图中分别截取得到开通波形图、关断波形图和二极管反向恢复波形图。有益效果是节省分析时间，提升研发效率。

公开(公告)号：CN117494633A

公开(公告)日：2024-02-02

申请号：CN202311307282.5

申请日：2023-10-10

Applicant: 斯达半导体股份有限公司

Inventor： 朱妍旭 ,  马佳杰 ,  朱翔

IPC: G06F30/367 ,  G06F30/31

Abstract: 本发明提供一种自动建立功率器件模型的方法及系统，涉及功率器件仿真领域，包括：步骤S1，获取配置文件中的若干个测试数据文件和输出文件目录，遍历所有测试数据文件，筛选出指定后缀的测试数据文件作为待处理文件；步骤S2，对于每一个待处理文件，从待处理文件中读取预设的参数变量值并解析，将解析后的参数变量值进行数据拟合处理后对应填入预设的器件模板中得到填充后模型文件；步骤S3，每个填充后模型文件保存至输出文件目录中，在处理完所有待处理文件后将所有填充后模型文件分别输入PLECS软件中创建对应的器件模型。有益效果是实现全自动批量处理测试数据文件生成功率器件模型，简单、快速、高效。

公开(公告)号：CN118069642A

公开(公告)日：2024-05-24

申请号：CN202410151810.0

申请日：2024-02-02

Applicant: 斯达半导体股份有限公司

Inventor： 朱妍旭

IPC: G06F16/22 ,  G06F16/2455 ,  G06F8/41 ,  G06F8/30

Abstract: 本发明提供一种基于Python的测试数据检查方法和系统，读取测试数据文件，并对测试数据文件进行测试数据解析，得到解析结果，解析结果包括产品型号、产品批次号以及产品编号；创建第一字典，将产品批次号作为第一字典的第一键值，添加与第一键值关联的全部产品编号形成第一列表，以作为第一字典的第一字典元素；根据第一字典检查每个产品批次号的最大产品编号、重复测试情况以及测试缺少情况；将最大产品编号、测试重复情况以及测试缺少情况合并为检查结果并输出。快速获取大量测试数据的测试结果汇总，极大提高了工作效率。

公开(公告)号：CN219657764U

公开(公告)日：2023-09-08

申请号：CN202223496368.0

申请日：2022-12-27

Applicant: 嘉兴斯达半导体股份有限公司

Inventor： 朱妍旭

IPC: G01R21/00

Abstract: 本实用新型公开了一种可快速修改回路电感的功率测试板，属于功率器件测试技术领域；包括：一母线电压；一母线电容，所述母线电容的第一端连接所述母线电压的正极，所述母线电容的第二端连接所述母线电压的负极；一第一可调电感，连接于所述母线电容的所述第一端和第一参考节点之间；一第二可调电感，连接于所述母线电容的所述第二端和第二参考节点之间；一功率器件，连接于所述第一参考节点和所述第二参考节点之间。上述技术方案的有益效果是：提供一种可快速修改回路电感的功率测试板，通过修改功率测试板部分连接，改变回路电感大小，达到不同的测试目的，方便快捷。

公开(公告)号：CN218995569U

公开(公告)日：2023-05-09

申请号：CN202223577698.2

申请日：2022-12-30

Applicant: 嘉兴斯达半导体股份有限公司

Inventor： 潘超 ,  朱妍旭 ,  俞张平 ,  沈建斌

IPC: G01R31/265

Abstract: 本实用新型公开了一种经济简便的宇宙射线可靠性测试结构，属于电子器件可靠性测试技术领域；包括：一高压源，包括一高压源正极和一高压源负极；多个待测器件支路，每个所述待测器件支路连接于所述高压源正极和所述高压源负极之间，每个所述待测器件支路包括一发光二极管和与所述发光二极管串联的一待测器件。上述技术方案的有益效果是：提供一种电子器件的宇宙射线可靠性测试结构，通过发光二极管、摄影机等器件，实现宇宙射线测试结构，成本低，操作简便。